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PH10T電動測頭座(消光)與TP20 EF接觸式測頭

PH10T電動測頭座(消光)與TP20 EF接觸式測頭

HSI-C

HSI-C

HSI-C 會處理來自 RENGAGE 或標準硬體接線式測頭的信號並將其轉換為無電壓的固態繼電器 (SSR) 輸出,然後傳送至 CNC 工具機控制器。

應用於工具機的 QE 系列

應用於工具機的 QE 系列

RMAP-3A 多軸觀測鏡

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Sprint 3D 工件及測頭

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主軸和刀塔測頭

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OSP60 光學掃描測頭

OSP60 光學掃描測頭

MCU 軸向選擇 - 測針

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PI 200-3 測頭介面

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UMA鏡頭檢測設備

UMA鏡頭檢測設備

配備測頭的RMI-Q

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SPRINT 測頭掃描元件

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PI 7-3 測頭介面

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QC20-W 循圓測試儀

QC20-W 循圓測試儀

RVP 測頭含 VM10 模組

RVP 測頭含 VM10 模組

OMP60 光學傳輸測頭

OMP60 光學傳輸測頭

MP250應變電感測頭

MP250應變電感測頭

OLP40 光學車床測頭

OLP40 光學車床測頭

15 mm DI 觀測鏡組

15 mm DI 觀測鏡組

原始測頭及專利

原始測頭及專利

original probe,original patent

Renishaw RMP60M 工具機測頭

Renishaw RMP60M 工具機測頭

TP20探針更換測頭

TP20探針更換測頭

PI 7-3 測頭介面

PI 7-3 測頭介面

QC20-W 循圓測試儀

QC20-W 循圓測試儀

TS27R 刀具設定測頭

TS27R 刀具設定測頭

OMP60 - 光學機械測頭

OMP60 - 光學機械測頭

RSP3-6 延長測頭模組

RSP3-6 延長測頭模組

RSP3-6 功能更強大,能進入深孔及檢測大型工件內的特徵,並提供多種針盤,適合需要筆直和曲柄延長的應用,可同時用於點觸發式和 2D 掃描應用。

快速成型製造的力量

快速成型製造的力量

在製造技術領域,我們偶爾會遇到可能改變這個行業的突破性技術,使現有產品的製造速度更快、成本更低、質量更高,同時為豐富新產品可能性開闢一條道路。

MP250 测量接地工具长度

MP250 测量接地工具长度

XC-80 補償器及感測器 - XC-80 補償器感測器

XC-80 補償器及感測器 - XC-80 補償器感測器

設定循圓測試儀測試以進行工具機校正

設定循圓測試儀測試以進行工具機校正

QC20 循圓測試儀在車床執行 50 mm 半徑測試

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Renishaw OSP60 測頭搭載 SPRINT™ 技術提供製程中檢測

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ATOM DX™:微型效能

ATOM DX™:微型效能

工程科技公司Renishaw推出最小巧的ATOM DX增量式光學尺,可直接從讀頭進行數位輸出而不需要使用龐大介面。

三次元量床上的隨基材伸縮光學尺

三次元量床上的隨基材伸縮光學尺

在選擇光學尺時,光學尺的熱膨脹特性是一個重點 考慮因素。Renishaw 光學尺實際上可分為兩種類型: 一種不受基材的熱脹冷縮所影響(自由伸縮型),另一 種則隨基材的熱脹冷縮而變化(隨基材伸縮型)。本文介紹的是一 個首選隨基材伸縮光學尺的應用案例。

機台垂直度校正

機台垂直度校正

本白皮書根據 2012 版 ISO230-1 標準《工具機測試規範 — 機台在空載或準靜態條件下運作時的幾何精度》,介紹了評估機台線性運動軸間相互垂直度的各種方法。

以工具機測頭協助太空研究

以工具機測頭協助太空研究

由於地球上最微小粒子的理論出現最新進展,部分物理學家目前正對慣性與重力質量的等效原理提出質疑。

以工具機測頭協助太空研究

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由於地球上最微小粒子的理論出現最新進展,部分物理學家目前正對慣性與重力質量的等效原理提出質疑。

以工具機測頭協助太空研究

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由於地球上最微小粒子的理論出現最新進展,部分物理學家目前正對慣性與重力質量的等效原理提出質疑。

光學尺知識與支援中心

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您可從知識與支援中心查詢我們最新發布的影片與重要文件。查詢我們的公司、全球支援、品質控制、遵循與保固詳情。

OMP600 應變電感接觸觸發式測頭 - 基準測試白色

OMP600 應變電感接觸觸發式測頭 - 基準測試白色

ATOM DX™和RTLF直线光栅系统

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RSP2系列樹形圖RSH175、250、350、450、500

RSP2系列樹形圖RSH175、250、350、450、500

工具機精度提升的「必備工具」- Renishaw FORTiS™ 封閉式光學尺和 XK10 校準雷射系統在工具機上的應用

工具機精度提升的「必備工具」- Renishaw FORTiS™ 封閉式光學尺和 XK10 校準雷射系統在工具機上的應用

客製化翼形探針

客製化翼形探針

此 CAD 圖所示是專為特殊應用而設計的探針,適用於空間有限及受測物具有突出部位的情況。除了能當作盤形探針使用之外,這種探針還能讓使用者越過孔洞底部的阻礙部位。

OMP600 - 光學加工機測頭

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0度RLD10發射檢測頭

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SP25M測頭模組和探針

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OMP400 光學加工機測頭

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APCA-45 刀具設定測頭

APCA-45 刀具設定測頭

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