篩選條件
找到搜尋結果 ML10量測系統
ATOM™微型編碼器系統
ATOM係全球第一款具備過濾光學鏡組的微型編碼器，為線性與旋轉(角度)應用提升抗污能力、信號穩定性及可靠性。
A-5004-7614 - M5 測針工具
適用於 M5 螺紋測針。
A-2063-7868 - MA2 測頭座
MA2 測頭座含固定螺絲。
A-5004-7587 - M4 測針工具
適用於 M4 螺紋測針。
A-5003-5912 - M5 延長套件－11 mm
此套件內含螺紋／測頭類型最常用的延長桿。
A-5003-5913 - M5 延長套件－20 mm
此套件內含螺紋／測頭類型最常用的延長桿。
干涉儀雷射編碼器附件
一系列为RLE和HS20激光尺产品提供支持的附件。
A-5000-7813 - M2 碳化鎢針形測針，30° 角，L 10 mm
針形測針是為了檢查螺紋形狀、特定點和劃線所設計。碳化鎢端頭適用於要求具備檢測項目的耐磨介面應用。
A-8014-1575 - 局部圓弧套件
局部圓弧套件能讓您使用 QC20 循圓測試儀執行 220º 局部圓弧測試。透過單一設定就能具備在全部三平面（XY、XZ 和 YZ）執行測試的能力。
A-1076-0070 - PEM1 50 mm 延長桿
PEM 多線延長桿提供三種長度，可延長自動接合測頭的可及之範圍。這些產品可搭配多線（SP25M 掃描測頭及第三方光學測頭）使用。
HPMA-X 和 TSI 3-X 自動測刀臂 與介面
刀具量測和破損刀具檢測，主要用於大型 CNC 工具機上
HPMA-X 和 TSI 3-X 自動測刀臂與介面
刀具量測和破損刀具檢測，主要用於大型 CNC 工具機上
A-4038-1002 - 測頭模組配件
Renishaw OMP60M/RMP60M 測頭模組配件。
夾具底板
提供 M4、M6 或 M8 螺孔，具備鋁製與壓克力材質，以及一系列的尺寸。
TEMPUS™ technology
TEMPUS™ technology is a new scanning algorithm for Renishaw's RenAM 500 series of metal additive manufacturing systems, which allows users to build twice as fast, with no compromise on build quality.
A-8014-0280 - 循圓測試儀校正塊
循圓測試儀校正塊用於校正長度 100 mm、150 mm 和 300 mm 的 QC20 循圓測試儀。校正儀由溫度膨脹係數幾乎為零的材料製成。隨附校正證書。
A-1016-6451 - MA2 測頭座纜線
適用 MA2 測頭座的纜線配件。
A-5555-0307 - M3 不銹鋼測針組裝工具
M3 測針組裝工具。
A-5004-7582 - M2 與 M3 測針工具
適用於 M2 與 M3 的螺紋測針。
KES Machine 憑藉 Renishaw 多光束校正儀提升客戶服務水準
為了成為客戶首選的校正服務提供者，KES Machine LLC 拓展了與全球工程技術領域公司 Renishaw 間的合作。透過投資 Renishaw XM-60 和 XM-600 多光束校正儀，KES 實現了快速獲取精確的量測數據，並且能夠提供優質的校正和測頭量測服務，從而提升了客戶服務水準。
KES Machine 憑藉 Renishaw 多光束校正儀提升客戶服務水準
為了成為客戶首選的校正服務提供者，KES Machine LLC 拓展了與全球工程技術領域公司 Renishaw 間的合作。透過投資 Renishaw XM-60 和 XM-600 多光束校正儀，KES 實現了快速獲取精確的量測數據，並且能夠提供優質的校正和測頭量測服務，從而提升了客戶服務水準。
A-2237-1122 - Equator SM25-2U 測頭模組
此產品只包括 SM25-2U 測頭模組。
A-4038-2001 - OMP60 側頭（光學／光學－模組化）
A-4038-2001 OMP60 側頭（光學／光學－模組化） OMP60 測頭僅含快速入門指南、電池和工具套件。精巧的 3D 觸發式測頭，採用光學訊號傳輸。用於工件設定檢測，可在眾多中大型加工中心上運作。
簡化脊椎植入物的積層製造作業
跨國工程公司 Renishaw 與兩家創新技術公司攜手合作，展現金屬積層製造 (AM) 技術的能力，製造出輕巧的脊椎植入物，這類植入物與骨骼的物理特性極為相似。在這項專案中，製造研究組織 Irish Manufacturing Research (IMR) 負責設計及製造一系列具代表性的脊椎植入物。IMR 使用 nTopology 提供的軟體設計植入物，然後以 Renishaw RenAM ...
Productivity+™ 多軸「技術評估版」
Productivity+™ 多軸功能允許使用者在任意位置擺設工件，使用量測功能執行各種機器參數的更新；大幅提升了在 4 軸和 5 軸加工機上進行工件設定和製程量測控制的可能性。
現代精密測控的關鍵
受惠人工智慧、5G 和物聯網等新技術的迅速發展，半導體的需求近年不斷擴大，設備商也紛紛加大投入開發新機型以應對精密先進製程的嚴苛挑戰。半導體製造核心設備包括光刻機雙工件台、晶圓級鍵合設備、雷射退火先進設備和 EFEM 等 … 設計精密，無論對核心零件的規格或是測控穩定性都有極嚴謹的要求。這個領域多年來被歐美日廠商壟斷，鮮有中國廠商有能力涉足其中。北京華卓精科科技股份有限公司（以下簡稱華卓精科...
A-5069-2001 - OMP400 測頭（光學／光學－模組化）
OMP400 測頭包括工具套件及電池。
A-5180-2001 - OMP600 測頭（光學／光學－模組化）
OMP600 測頭包含電池和工具套件。
A-5000-7829 - TP7M 適用 M4 套件
此套件內含螺紋／測頭類型最常用的測針。
A-5003-2310 - M2 高性能套件
此套件內含螺紋／測頭類型最常用的測針。
M-8014-1576 - 驗證卡
驗證卡為紀錄循圓測試儀測試結果的雙面卡片。