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A-5004-7401 - M3 Ø1 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm，EWL 4 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5004-3646 - M3 Ø2 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 40 mm，EWL 32.5 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7804 - M2 Ø2.5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 20 mm，EWL 16.4 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5003-0068 - M3 Ø4 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 50 mm，EWL 46 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5003-0069 - M3 Ø5 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 50 mm，EWL 50 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5003-0470 - M2 Ø6 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 50 mm，EWL 50 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5003-4779 - M2 Ø5 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 30 mm，EWL 30 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5003-4780 - M2 Ø6 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 30 mm，EWL 30 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5003-4802 - M4 Ø8 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 75 mm，EWL 75 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-3552 - M3 Ø2 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 21 mm，EWL 9.6 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-3553 - M3 Ø3 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 21 mm，EWL 14.7 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-3554 - M３ Ø4 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 31 mm，EWL 27 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-3604 - M2 Ø3 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm，EWL 7 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-4156 - M2 Ø6 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm，EWL 10 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-4161 - M2 Ø4 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 20 mm，EWL 20 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-6350 - M4 Ø5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7521 - M4 Ø5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 50 mm，EWL 33.5 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7522 - M4 Ø5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 100 mm，EWL 83.2 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7545 - M4 Ø1 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 19.5 mm，EWL 4.5 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7547 - M4 Ø2 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 19 mm，EWL 9.2 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7549 - M4 Ø3 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 18.5 mm，EWL 13 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7551 - M4 Ø4 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 18 mm，EWL 13.7 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7630 - M3 Ø5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 21 mm，EWL 21 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7648 - M3 Ø5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 31.1 mm，EWL 31.1 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7796 - M4 Ø8 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 100 mm，EWL 100 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5000-7802 - M2 Ø1.5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm，EWL 4.5 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5004-0423 - M３ Ø4 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm，EWL 7 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-5004-2545 - M3 Ø2.5 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 40 mm，EWL 32.5 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。陶瓷測針桿的重量雖輕，但質地堅硬，提供內建防撞保護功能。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。
A-1371-1100 - MCR20 機架套件用於自動測針變更 TP20（包括 2 × 低觸發力模組）
MCR20 模組交換架最多可存放六個 TP20 測頭模組，供自動交換模組並避免接觸到空氣汙染物。MCR20 易於裝於任一三次元量床上。只需簡單的工作，即可設定 MCR20 交換架對準與測頭模組交換座標。低觸發力測頭模組是以綠色蓋辨識。此測頭模組專為需要低觸發力來測量工件偏置的應用而設計。
A-1371-0418 - TP20 測頭套件 8（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個標準觸發力模組及 1 個 6 向測頭模組）
A-1371-0418 TP20 測頭套件 8（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個標準觸發力模組及 1 個 6 向測頭模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
P-GA01-0001 - 測觸發力計
在對觸發力進行任何調整後，重新鑑定測頭配置並檢查測頭量測性能時，會使用到測觸發力計。此測觸發力計可搭配 TP1、TP2 及 TP6A 使用。
A-1371-0642 - TP20 非抑制測頭套件 3（含 1 個標準觸發力模組及 1 個高觸發力模組）
A-1371-0642 TP20 非抑制測頭套件 3（含 1 個標準觸發力模組及 1 個高觸發力模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
A-1371-0644 - TP20 非抑制測頭套件 5（含 1 個中觸發力模組及 1 個高觸發力模組）
A-1371-0644 TP20 非抑制測頭套件 5（含 1 個中觸發力模組及 1 個高觸發力模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
A-1371-0641 - TP20 非抑制測頭套件 2（含 1 個標準觸發力模組及 1 中觸發力模組）
A-1371-0641 TP20 非抑制測頭套件 2（含 1 個標準觸發力模組及 1 中觸發力模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
A-5000-4155 - M2 Ø5 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 10 mm，EWL 10 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。REVO 建議測針，含 RSH250 及 RHS350 模組。
A-5000-4158 - M2 Ø8 mm 紅寶石球，不鏽鋼測針桿，L 11 mm，EWL 11 mm
直測針是用於檢測簡易特徵而設計，能毫無阻礙地直接接觸量測表面。不鏽鋼測針桿具備絕佳的剛性，非常適合不須嚴格要求重量的應用。紅寶石是用於測針端頭的業界標準，它是質地最硬的材質之一，適用於大多數的應用。由於黏附拾取的現象，不建議使用紅寶石端頭進行鋁製零件掃描。REVO 建議測針含 RSH175、RSH350 及 RSH450 模組。
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統
RESOLUTE™ 是真正絕對式的精細刻距光學尺系統，具備出色的量測效 。 獲得專利的 RESOLUTE 光學尺技術將 1 nm 解析度與極高速結合，可讀取多種高精度線性鋼帶和光學尺或角度光學尺環。
A-1371-0291 - TP20 測頭套件 2（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個標準觸發力模組及 1 個中觸發力模組）
A-1371-0291 TP20 測頭套件 2（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個標準觸發力模組及 1 個中觸發力模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
A-1371-0294 - TP20 測頭套件 5（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個中觸發力模組及 1 個高觸發力模組）
A-1371-0294 TP20 測頭套件 5（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個中觸發力模組及 1 個高觸發力模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
A-1371-0292 - TP20 測頭套件 3（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個標準觸發力模組及 1 個高觸發力模組）
A-1371-0292 TP20 測頭套件 3（包括 1 個 TP20 測頭主體、1 個標準觸發力模組及 1 個高觸發力模組） TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。
PH6
PH6 PH6 為小直徑的垂直測頭座，其中包含一個適用於單一測頭的 M8 螺紋測頭固定座及內建纜線。 相容於 M8 測頭 刀柄安裝式 易於安裝 重量 48 g 測頭安裝方式 M8 螺紋 測頭插座數 1 測頭狀態指示燈 1 個 LED 纜線連接 內建纜線 PH6 為固定式測頭座，其中含有可供 M8 螺紋測頭使用的固定座。 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在 3 ...
R-S-19100-8 - M8 螺紋的 Ø19.0 mm × 100.0 mm 鋼製螺柱
R-S-19100-8 M8 螺紋的 Ø19.0 mm × 100.0 mm 鋼製螺柱 此鋼製螺柱非常適用於抬高並定位工件。它是由含有黑色氧化物塗層的加熱處理鋼材所製造而成，具有極佳的耐用性。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-AVP-2525-6 - M6 螺紋的 Ø25.1 mm × 25.0 mm 可調式 V 柱
R-AVP-2525-6 M6 螺紋的 Ø25.1 mm × 25.0 mm 可調式 V 柱 可調式 V 柱可用於固定圓柱狀或管狀工件，而不會在表面留下痕跡。可旋轉及鎖定於任何方向。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-CTT-160-275-20 - 含 2.76 吋柱和 1/4-20 螺紋的 1.42 吋軟頭耐張線夾
R-CTT-160-275-20 含 2.76 吋柱和 1/4-20 螺紋的 1.42 吋軟頭耐張線夾 此耐張線夾具備橡膠端頭，可固定工件而不會在工件表面留下刮痕或痕跡。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-CVM-B-4 - M4 含底座小型工作鉗台
R-CVM-B-4 M4 含底座小型工作鉗台 含底座小型工作鉗台用於固定小型工件。固定爪具有一個 V 形槽口，用於固定圓柱狀和管狀工件。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-S-754-20 - 1/4-20 螺紋的 Ø0.75 吋 × 4.00 吋 303 不鏽鋼製螺柱
R-S-754-20 1/4-20 螺紋的 Ø0.75 吋 × 4.00 吋 303 不鏽鋼製螺柱 此鋼製螺柱非常適用於抬高並定位工件。採用 303 級不鏽鋼製成，具有優異的耐腐蝕性和更高的耐用性。建議在 CMM、影像及 Equator™ 檢具系統上使用。
V2CKY30D20F - VIONiC™ 讀取頭適用於直徑 60 mm 至 135 mm 的旋轉編碼器（0.1 µm 解析度、20 MHz 時脈輸出）
V2CKY30D20F VIONiC™ 讀取頭適用於直徑 60 mm 至 135 mm 的旋轉編碼器（0.1 µm 解析度、20 MHz 時脈輸出） V2BJY30D20F 是標準 Renishaw VIONiC 讀取頭，並含長度 3 m 的纜線。此讀取頭為使用 RESM20 環的旋轉編碼器系統，外徑在 60 mm 和 135 mm 之間。
V2CKZ30D10F - VIONiC™ 讀取頭適用於直徑 60 mm 至 135 mm 的旋轉編碼器（0.5 µm 解析度、10 MHz 時脈輸出）
V2CKZ30D10F VIONiC™ 讀取頭適用於直徑 60 mm 至 135 mm 的旋轉編碼器（0.5 µm 解析度、10 MHz 時脈輸出） V2CKZ30D10F 是標準 Renishaw VIONiC 讀取頭，並含長度 3 m 的纜線。此讀取頭為使用 RESM20 環的旋轉編碼器系統，外徑在 60 mm 和 135 mm 之間。
R-AVP-2525-8 - M8 螺紋的 Ø25.1 mm × 25.0 mm 可調式 V 柱
R-AVP-2525-8 M8 螺紋的 Ø25.1 mm × 25.0 mm 可調式 V 柱 可調式 V 柱可用於固定圓柱狀或管狀工件，而不會在表面留下痕跡。可旋轉及鎖定於任何方向。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-CSP - 螺絲推桿夾（與 M6、M8 及 1/4-20 底板搭配使用）
R-CSP 螺絲推桿夾（與 M6、M8 及 1/4-20 底板搭配使用） 螺絲推桿夾是利用栓入或栓出翼形螺絲釋放工件壓力，將工件推至緊貼支撐結構。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。