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找到搜尋結果 ML10量測系統
REVO 閥座和導孔量測
REVO 閥座和導孔量測 閥座和導孔的量測一直是極具挑戰性的工作，須使用通常無法提供充分量測的耗時方法執行。 REVO 能克服此一挑戰；現在它能收集大量的資料，以便快速地同時計算出閥座和閥導特徵的分析參數。此方法能在重現性和重製性測試中，極順利地執行。 REVO® 和 Renishaw 的 5 軸技術能大幅增加此極具挑戰性應用的產能－資料收集程序大約需要 20 秒。 螺旋掃描...
ATOM™ 光學增量式光學尺系列
ATOM™ 光學增量式光學尺系列 選配的進階診斷工具 ADTpro-100 ADTpro-100 非常適用於系統最佳化及診斷，尤其是無法檢視讀頭 LED 的安裝作業。本產品可獨立使用，或在讀頭與控制器之間進行串聯連接，藉此形成控制迴路。 您需要量測哪種形式的運動？ 主要優點 ADTpro-100...
EVOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA50 線性光學尺
探索真正絕對式 EVOLUTE™ 光學尺：採用 RESOLUTE™ 光學尺系列的業界領先技術，提供充裕的安裝公差、更優異的抗汙能力和多功能量測效能。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動，適合用於各種運動控制的應用。
自動工件找正加快林業設備製造速度
自動工件找正加快林業設備製造速度 2020 年 4 Tigercat Industries Inc.
用於雷射粉床融熔（金屬 3D 列印）系統的軟體
用於雷射粉床融熔（金屬 3D 列印）系統的軟體 Renishaw 積層製造系統的建置準備及監控軟體 開放材料參數 不同的金屬具有其獨特的熔點屬性，因此 Renishaw 軟體能為使用者提供針對要處理的材料與幾何特性，自由地最佳化機具設定，增加其使用效益。 請聯絡 Renishaw 以瞭解詳情 QuantAM 建檔準備軟體可直接向 Renishaw 購得。請聯絡您當地的 Renish...
結合成像技術與 Correlate™ 模組
結合成像技術與 Correlate™ 模組 讓顯微鏡發揮更高效益 Correlate™ 模組能將拉曼結果與許多常用的顯微鏡系統進行比較，其中包括掃描電子顯微鏡 (SEM)、螢光、原子力顯微鏡 (AFM)、紅外線及光學顯微鏡。 特徵一目了然 座標管理程式 - 可將常用顯微鏡系統座標匯入及轉換至 Renishaw 拉曼系統 影像校準工具 -...
智慧製造解決方案倍增燃氣渦輪機元件生產力
Doncasters Precision Castings – Deritend 是製造熔模鑄造及加工工業燃氣渦輪機翼片的領先製造商。翼片多以鎳與鈷組成的超級合金製造。Doncasters 致力推動業務增長，堅守精實製造及快速原型製造等方式持續精益求精的信念作持續投資。
絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用
模切是產品加工中一個不可或缺的工序，我們日常接觸到各式各樣的包裝盒、電子產品輔件、汽車配件等很多產品都是使用模切作批量生產。模切中所使用的刀模可說是至關重要。一個不良的刀模可影響數以萬計成品的品質，因此刀模製造設備的穩定性尤其重要。位於中國深圳的和興雷射刀模廠有限公司，是國內規模最大的刀模及設備製造商，近年來致力於開發針對刀模製造行業應用的各種機械設備，如高端水切割和雷射切割設備等，在這些設...
Price enquiries and demonstrations
Price enquiries and demonstrations 您的要求 全球展示 排定線上展示時間，探索拉曼光譜如何成為滿足您分析需求的理想解決方案。我們在全球設置展示設施，並有經驗豐富的拉曼應用人員，精通許多不同語言。 將您的樣品寄給我們 我們可利用您的樣品展示拉曼儀器。您可實際觀看我們直覺操作的工作流程，並獲得樣品的完整報告。請在提交以下要求時詢問樣品分析事宜。 詢價 ...
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺 何謂 ATOM？ ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。 ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便，提供寬鬆的安裝公差，按下按鈕即可進行校準。TONiC FS...
Renishaw XK10 校準雷射儀在精密機床上的應用
Hurco 精密工具機多年來為客戶提供獨特的、革命性的軟體和數控系統，通過減少設置時間以及多工並行處理來幫助我們的用戶實現企業生產效率的最大化。位於台灣的生產基地多年來採用多款 Renishaw 測量設備, 包括最新購入的 XK10 雷射校準儀以確保機台在組裝中的精度.
部分弧線光學尺
部分弧線光學尺 絕對式部分弧線光學尺系統：讀頭及光學尺 各種讀頭及光學尺組合的最小彎曲半徑 如下所示： 增量式部分弧線光學尺系統：讀頭及光學尺 各種讀頭及光學尺組合的最小彎曲半徑 如下所示： 選擇您的部份弧線光學尺系統 Renishaw 彈性線性光學尺的截面區域小，因此能夠環繞圓形表面測量部分旋轉。光學尺是以自黏背膠帶安裝。 這類彈性光學尺相容於 Renishaw 開放式光學尺...
EVOLUTE™ 光學絕對式光學尺系列
EVOLUTE™ 光學絕對式光學尺系列 EVOLUTE 光學絕對式光學尺是一款高速的高解析度位置量測系統，具備充裕的安裝公差和強化的抗汙能力。一啟動立即確定位置，無需任何運動，進而提供平順的速度控制及可靠的位置穩定性。 線性運動形式 選配的進階診斷工具 ADTa-100 主要優點 EVOLUTE 光學尺讀頭相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View...
Renishaw 光學尺的運作方式
Renishaw 光學尺的運作方式 IN-TRAC 參考原點完全整合至增量式光學尺，並由讀頭內的光感測器偵測。這樣獨特的配置歸功於自動校準程序，以電子方式定相參考原點及最佳化增量訊號。 ATOM DX™ 什麼是 Renishaw 封閉式光學尺？...
Haas 與 Renishaw 的互動交流：關於 XL-80 雷射干涉儀的三個提問
Jorge Vélez Martínez 是 Haas 西班牙的技術服務經理。在使用了 Renishaw XL-80 雷射干涉儀之後，他邀請了 Renishaw 西班牙子公司的校正和編碼器產品經理 Aitor Merino 進行了對話，以詳細瞭解這款設備的優點。
功能強大、易於使用的工具機測頭軟體
功能強大、易於使用的工具機測頭軟體 相關軟體解決方案： 刀具設定 工作設定 檢測及量測 驗證及報告 解決方案 針對各種應用和工具機控制器，選擇彈性的巨集和 PC 式量測軟體，以充分發揮您測頭量測硬體設備的效果。 若想瞭解產品資訊，請參考其專屬的產品頁面。 下列的規格資料表則提供更多關於我們所推出之巨集套裝軟體的詳細資訊。 一系列的機器常駐和 PC 式量測軟體解決方案。 瞭解更多...
3DHISTECH 顯微鏡現已採用 Renishaw 編碼器
3DHISTECH 總部位於匈牙利布達佩斯，專門設計及製造全球最快、產能最高的自動化全景數位玻片掃描器：P1000。P1000 是高精度掃描電子顯微鏡，除了方便大型病理實驗室為醫學樣本拍攝超高解析度影像之外，更可在無人操作的狀態下運作長達 2 天。
Renishaw 封閉式光學尺在新型增減材複合工具機上大顯神通
為創新型工具機精選的 Renishaw 光學尺、測頭和刀具設定系統
R-SP-1210-4 - M4 螺紋的 Ø12.0 mm × 10.0 mm 鋁製定位銷
R-SP-1210-4 M4 螺紋的 Ø12.0 mm × 10.0 mm 鋁製定位銷 此鋁製定位銷可用於將工件抬高並靠著插銷定位工件。定位銷採用黑色陽極電鍍處理，具有極佳的耐用性，建議可於 CMM、Equator™ 檢具系統，以及影像與多感測器機器上使用。
R-SP-610-4 - M4 螺紋的 Ø6.0 mm × 10.0 mm 鋁製定位銷
R-SP-610-4 M4 螺紋的 Ø6.0 mm × 10.0 mm 鋁製定位銷 此鋁製定位銷可用於將工件抬高並靠著插銷定位工件。定位銷採用黑色陽極電鍍處理，具有極佳的耐用性，建議可於 CMM、Equator™ 檢具系統，以及影像與多感測器機器上使用。
A-5103-4360 - XM 系統攜行箱
XM 系統攜行箱可容納 XM-60 或 XM-600 系統所有的基本零件。射出成型材料製成，防塵防水，整合手推手柄與內建輪子，便於搬運。掛鎖提供更高安全性。
Renishaw 測頭量測技術協助 Equinox 3D 大幅減少人工處理時間
Equinox 3D 是專業製造商針對各式各樣的產業生產玻璃纖維產品，經常接觸各種複雜精細及量身訂製的設計。該公司位於英國的法弗舍姆 (Faversham)，在製程中採用 Renishaw 測頭量測系統之後，能在短時間內準確且可靠地滿足客戶的特殊要求。
M-9908-0527 - 三腳架織物攜行箱
適切合宜的編織尼龍攜行箱具有硬質塑膠保護層。隨箱搭配的零件包括攜行手柄、肩背帶及安裝XL系統攜行箱的連結帶，以便於運輸。尺寸：長 700 mm x 寬 170 mm x 深 170 mm，重量 1.8 kg。
R-CWT-2-2-20 - 含 1.76 吋柱和 1/4-20 螺紋的 1.96 吋彈簧線夾
R-CWT-2-2-20 含 1.76 吋柱和 1/4-20 螺紋的 1.96 吋彈簧線夾 此彈簧線夾非常適用於輕量夾緊小型工件。它能將接觸面積減到最小，並儘可能減少阻礙。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
ATOM™微形光學尺系統在面板製造業的應用
ATOM™微形光學尺系統在面板製造業的應用 韓國的面板製造技術近年在全球業界中一直處於領先地位，很多先進面板製程如OLED、AMOLED等都是韓國廠商率先把技術應用在大批量生產上。...
老舊工具機的「第二人生」
頁的Spirax Sarco UK 投入 Renishaw QC20-W 無線循圓測試儀以確認其高階加工中心的幾何誤差、在運送至全新特別設計設施的前後。Spirax Sarco 公司是一家全球領先製造商，專門生產應用於蒸汽和工業流體控制與節能利用的優質產品。
透過雷射干涉儀進行空間誤差補償可提高工具機性能
透過雷射干涉儀進行空間誤差補償可提高 BOST Machine Tools 工具機的性能。透過使用 XM-60 多光束校正儀，BOST 現在能夠檢測到 18 項幾何誤差，使用 QC20 循圓測試儀和 XK10 校準雷射系統能夠檢測到更多的誤差。
積層製造 — 在 EMO Hannover 2019 上，生產力毫不妥協
2019 年 9 月 16 至 21 日，全球工程技術公司 Renishaw 將在 EMO Hannover 2019 上展示其領先的積層製造 (AM) 硬體和軟體。在 9 號展廳的專用 AM 攤位上，Renishaw 將展示高品質、高效率 AM 技術的產品系列，包括最新系統四雷射器 RenAM 500Q。
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺 選配的進階診斷工具 ADTi-100 何謂 RKLF 光學尺？ RKLF 是外型精細輕巧的不鏽鋼鋼帶光學尺，擁有 20 µm 和 40 µm 的刻距增量刻度，且客戶可自行選擇參考原點。精度高達 ±5 µm/m，長度達 10 公尺（可依要求大於 10 m）。RKLF...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便，提供寬鬆的安裝公差，按下按鈕即可進行校準。TONiC FS...
為何要改裝？
為何要改裝？ 為您的 CMM 賦予全新生命！ 大部分的 CMM 結構並不需要承受高度的磨耗，所以能維持多年的可用性。但是，隨著更快速、功能更強大的新產品不斷推出，軟體、控制系統和感測器會變得過時。 Renishaw 提供現有 CMM 改裝的服務，可使 CMM 的量測精度更高、量測速度更快、具有自動化量測方式等諸多新功能，並充分利用 CAD 程式設計優勢。 強化量測效能 ...
新版 Renishaw 機上 Reporter 應用程式：適合智慧工廠的智慧應用程式
Renishaw 是全球工程技術公司，也是 MTConnect 標準委員會 (MTConnect Standards Committee) 成員，將在 2019 年 EMO 漢諾威工具機大展推出加強版的 Reporter 機上測頭量測應用程式，其中具備 MTConnect 資料串流功能。
R-SP-910-4 - M4 螺紋的 Ø9.0 mm × 10.0 mm 鋁製定位銷螺柱
R-SP-910-4 M4 螺紋的 Ø9.0 mm × 10.0 mm 鋁製定位銷螺柱 此鋁製定位銷可用於將工件抬高並靠著插銷定位工件。定位銷採用黑色陽極電鍍處理，具有極佳的耐用性，建議可於 CMM、Equator™ 檢具系統，以及影像與多感測器機器上使用。
工具機驗證：BOST 的測試和空間誤差補償報告
通過使用 XM-60 多光束校正儀，BOST 現在能夠檢測到 18 項幾何誤差，使用 Renishaw 的 QC20 循圓測試儀和 XK10 校準雷射系統能夠檢測到更多的誤差。
A-5475-0401 - 刀具長度設定系統 (LTS) 安裝套件
刀具長度設定系統 (LTS) 的安裝套件。
現代精密測控的關鍵
受惠人工智慧、5G 和物聯網等新技術的迅速發展，半導體的需求近年不斷擴大，設備商也紛紛加大投入開發新機型以應對精密先進製程的嚴苛挑戰。半導體製造核心設備包括光刻機雙工件台、晶圓級鍵合設備、雷射退火先進設備和 EFEM 等，設計精密，無論對核心零件的規格或是測控穩定性都有極嚴謹的要求。這個領域多年來被歐美日廠商壟斷，鮮有中國廠商有能力涉足其中。
測頭介面
測頭介面 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務，免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 Renishaw 的介面系列能讓您輕鬆將測頭連接至機台控制器。
功能安全光學尺
功能安全光學尺 增量式 FS 光學尺 絕對式 FS 光學尺 FORTiS™ FS 封閉式光學尺系統 FORTiS FS 是特別改造版的 FORTiS 光學尺系列產品。其中提供： BiSS® Safety 及 Siemens DRIVE-CLiQ® 序列介面。 線性封閉式光學尺技術。 探索 FORTiS 光學尺 RESOLUTE™ FS 開放式光學尺系統 RESOLUTE...
A-5475-0002 - 刀具長度設定系統 (LTS) 含轉接板
LTS 非接觸式刀具設定系統及轉接板。
FORTiS™ 封閉式光學尺的密封條磨損測試
在 DuraSeal™ 密封條上塗抹混有鑄鐵碎屑和碳化合金砂的潤滑油，然後進行 1,400 萬次循環的磨損測試 堅韌的 DuraSeal 材料可為讀頭葉片周圍提供長效可靠的密封效果，保護光學尺的光學元件不受污染 因此，與業界標準密封件相比，通過光學尺內的氣體損耗量降低了 70%，進而延長了系統使用壽命
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD（雙解析度）介面提供可選擇的雙解析度輸出，也提供於寬幅列印應用的...
刀具設定軟體
刀具設定軟體 關於 Renishaw 刀具設定軟體 刀長和/或直徑設定。 手動或自動 (已編程) 定位。 加工循環中破損刀具檢測 (若適用)。 接觸式和非接觸式刀具設定測頭系統專用刀具設定軟體。 綜合加工機專用刀具設定軟體 Renishaw 刀具設定軟體可讓您設定單點和多點刀具的刀長和直徑偏置，執行加工循環中破損刀具檢測，以及手動或自動 (已編程) 定位。...
inVia：使用簡單
inVia：使用簡單 我們具備無可比擬的豐富經驗：Renishaw 20 多年來持續設計、開發和精進拉曼光譜儀，將 inVia 打造為最出色的共軛焦拉曼顯微鏡。 全自動化 inVia 完全自動化，無需操作者手動介入處理。您可自動更換雷射、Rayleigh 濾光片、光柵和偵測器等關鍵元件。 校準和驗證均自動處理，讓您確保系統仍處於完全最佳化狀態，即使變更配置也一樣。 大部分操作者...
拉曼配件
拉曼配件 Renishaw 提供廣泛的配件，因此您可調整拉曼系統，以符合您的需求。 集光鏡組 這為您的實驗選擇最合適的接物鏡有著關鍵性的影響，無論是使用顯微鏡、光纖測頭，或其他光傳遞工具。此為確保拉曼量測成功的關鍵，因為此決定取樣的材料體積，以及拉曼散射光的收集效率。 檢視詳細資料 環境控制 Renishaw...
Renishaw 光學尺全力提昇表面貼裝元件印刷技術
電子產品，尤其是智慧型手機，平板電腦等 3C 產品，預計未來將會持續往高性能，輕薄微型化的方向發展。台灣友厚新科技股份有限公司一直致力為業界開發針對工業製程的高階設備，與 Renishaw 追求創新的理念一致，他們開發的被動元件印刷設備採用 Renishaw ATOM 系列超微型光學尺系統，為電子產品實現微型化。
Renishaw 光學尺在「獨特」設計線性馬達上的應用
線性馬達問世以來一直都是高精度的代名詞，是精密設備必不可少的零組件。隨著近年來工業製程對精度要求的不斷提升，線性馬達廣泛被應用在各大工業領域，包括平板顯示器 (FPD)、半導體、自動化、醫療以及工具機等。科技的進步大幅降低了線性馬達以往昂貴的價格，同時也進一步優化了整體性能。韓國直驅馬達製造商 KOVERY CO.
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性和部分弧線光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性和部分弧線光學尺 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
ASMPT 借助 Renishaw 技術強化高性能運動控制能力
隨著半導體產業向 3 nm 節點及更先進的技術邁進，組裝和封裝設備在工藝穩定性、生產效率和品管方面面臨巨大挑戰。ASMPT 多年來一直採用 Renishaw 各種光學尺產品，包括 ATOM DX 和 VIONiC™ 增量式光學尺系列以及 RESOLUTE™ 絕對式光學尺系列。
A-5555-0322 - M5 鋁製轉接板用於動態系統 (ST)，72 g，用於 ZEISS 應用項目
M5 轉接板，用於動態系統。