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Renishaw XK10 校準雷射系統在精密工具機上的應用
廈門大金機械有限公司從事高端工具機的研發，製造和銷售。他們對品質有嚴格的管控，多年來採用 Renishaw 量測設備，包括最新購入的 XK10 校準雷射系統，以確保機台在組裝過程中的精度 。
XL-80 雷射系統附件
用於安裝、對準及操作 XL-80 雷射系統的附件。
Hartrol Plus 控制器搭配 Renishaw Set and Inspect 及 Reporter，體現「人機介面」智能化
在工業 4.0 的大趨勢下，各製造業生產商積極尋求如自動化、機聯網、大數據分析、工業感測與監控等技術，裝備自己以邁向智慧製造之路。但選用高品質且性能穩定的工具機還是精密鑄造與加工的基本需求，工具機的智能化操作以能減低人為錯誤及提升生產效益更是必備條件。
RENGAGE™ 及 SupaTouch 工具機測頭量測技術盡可能縮短循環時間，達到最高生產力
全球工程技術公司 Renishaw 將在 9 月 16 日至 21 日期間，於 2019 年 EMO 德國漢諾威工具機大展展出 RMP400 工具機測頭及其 SupaTouch 技術。EMO 漢諾威工具機大展是全球金屬加工業最重大的貿易盛會，將展出各種創新成果，推動全球生產技術向前發展。
Renishaw 製程控制技術協助汽車零組件製造商大幅縮短生產週期、加快交貨速度
Renishaw 製程控制技術協助汽車零組件製造商大幅縮短生產週期、加快交貨速度 2022 年 04 月 隨著新型大批量、高價值汽車零組件的生產訂單不斷增加，OMG 急需尋求工件檢測的替代方案。藉由對機邊比對量測和機上測頭量測技術的投資，OMG 提高了生產效率並降低了廢品率。 欲獲取更多有關 Renishaw 及其產品的圖片、影片、公司簡介或資訊，請造訪我們的媒體中心 。 下載 OMG...
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺 技術規格 何謂 ATOM？ ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。 ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm...
FORTiS™ 封閉式光學尺產品測試
Renishaw 在設計、製造及操作可在工具機等嚴苛環境中使用的量測產品方面，擁有數十年的豐富經驗。這些經驗啟發我們針對 FORTiS 封閉式線性光學尺範圍執行嚴苛的測試計畫，測試內容包含：振動、密封磨損、防護等級 (IP)、長時間在機器腔體中運作、鹽霧（霧）、耐化學性、墜落與衝擊。
雷射編碼器常見問題集
雷射編碼器常見問題集 我應使用什麼來清潔雷射編碼器系統上的光學鏡組？ 下表重點列出可使用及不可使用的項目： 請使用 請勿使用 酒精、甲醇、丙醇與製品 丙酮 鏡片清潔液 研磨材質 非研磨性、不含棉絨的清潔抹布 含氯溶劑 超細纖維布 石油精 是否能為我的雷射編碼器系統提供校正憑證？ 可以，可在訂購新系統時指定。請注意，本服務需另外收費。 我遺失了校正憑證，是否能補發？...
OPTiMUM™ 鑽石測針系列產品將於 2019 年 EMO 漢諾威工具機大展展出
OPTiMUM™ 鑽石測針系列產品將於 2019 年 EMO 漢諾威工具機大展展出 2019年7月 Renishaw 是全球精密工程及製造技術公司，將於 2019 年 EMO 漢諾威工具機大展 (9 月 16 日至 21 日) 展出全新 OPTiMUM™ 鑽石測針系列產品。 OPTiMUM...
加速創新：金屬積層製造歧管為 Land Rover BAR 提升動力流量
加速創新：金屬積層製造歧管為 Land Rover BAR 提升動力流量 跨國工程公司 Renishaw 是 Land Rover BAR 技術創新小組的一份子。這個小組的目標是結合英國工程的精華技術，協助Land Rover BAR贏得美洲盃競賽。這是十分重大的挑戰，有別於航海領域的任何其他挑戰。 Land Rover BAR 的美洲盃級 (ACC) 賽艇 Rita...
Renishaw 藉 RLS 磁性編碼器幫助 Dynisma「登峰造極」
Renishaw 藉 RLS 磁性編碼器幫助 Dynisma「登峰造極」 Renishaw 和旗下 RLS 公司為英國 Dynisma 公司的新型動態運動模擬器提供磁性編碼器和技術支援；該新型模擬器專為賽車運動及更多高端應用而設計。 在航空領域，飛行模擬器對於飛行員和工程師來說是至關重要的工具。使用飛行模擬器可以在地面上安全地進行飛行測試和飛行員訓練。對於精英賽車運動和汽車領...
無線接觸式刀具設定測頭
無線接觸式刀具設定測頭 安裝接觸式刀具設定系統的影片指南。 這是通則影片，因為所有測頭都具備類似的安裝原則。 工具機連結 工具機產品 改善您的製程 您的加工廠適用哪些產品？ 硬體支援 軟體支援 測頭量測效益計算器 工具機客製化解決方案 若您有任何進一步問題，請聯絡當地 Renishaw 服務中心 。 Probe Setup 此外您也可以下載新的 Probe Setup 應用程式 ...
Knust-Godwin 利用積層製造工藝縮短前置時間
工程技術領域的跨國公司 Renishaw 向位於美國德州凱蒂市的精密製造公司 Knust-Godwin 提供了四台 RenAM 500Q 金屬積層製造 (AM) 機器。RenAM 500Q 高效能積層製造系統用於批量工業生產，成功幫助 Knust-Godwin 大幅縮短了前置時間。
全新RKLC光學尺開創嶄新的可能性
全球量測專家 Renishaw 日前推出全新的基材固定式RKLC光學尺，其底層基質的熱反應正是產品的設計亮點。RKLC光學尺是一款寬 6 mm 的不鏽鋼捲尺，堅實耐用，且厚度僅有 0.15 mm。RKLC相容於 Renishaw 的 VIONiC™、TONiC™ 和 QUANTiC™ 增量式光學編碼器系列。
汽車個案研究
汽車個案研究 全球各地對汽車的要求有增無減，在國內與商用運輸方面，對燃油效率和排放管制的重視也與日俱增。而生產極致精密、可靠製造系統的需求也逐漸增加，製程也有日益自動化的趨勢，目的是為了縮減循環時間。 更多應用範例 鍛造鋁合金輪圈生產： 透過製程中測量，提供高精度零件 輪胎模具生產：通過自動工件找正提高生產效率 機車汽缸蓋加工製造：減少廢品並增加工具機生產力 汽車泵體加工製造： 透過自...
A-5003-7098 - M3 Ø30 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 1.5 mm
A-5003-7098 M3 Ø30 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 1.5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。陶瓷頂端具有輕便、耐磨與非磁性的特點。
A-5555-0297 - M2 Ø8 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 1.5 mm
A-5555-0297 M2 Ø8 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 1.5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。陶瓷頂端具有輕便、耐磨與非磁性的特點。
A-5555-0299 - M2 Ø14 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 2 mm
A-5555-0299 M2 Ø14 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 2 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。陶瓷頂端具有輕便、耐磨與非磁性的特點。
A-5555-0298 - M2 Ø4 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 1 mm
A-5555-0298 M2 Ø4 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 1 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。陶瓷頂端具有輕便、耐磨與非磁性的特點。
A-5555-0300 - M2 Ø20 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 2.5 mm
A-5555-0300 M2 Ø20 mm 未配備滾軸的陶瓷圓盤，寬度 2.5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。陶瓷頂端具有輕便、耐磨與非磁性的特點。
升級您的拉曼儀器
升級您的拉曼儀器 為何要升級您的儀器？ Renishaw 拉曼系統獨一無二的靈活性，可在現場升級各式各樣的選項、功能及配件。無論您的應用多嚴苛或多元化，您的系統皆可能隨著您的需求變化進行擴展，提供可靠的解決方案。 軟體 Renishaw 持續開發 WiRE™ 軟體 ，加入令人興奮的新功能，提供額外能力。升級至最新版 WiRE，讓您的拉曼系統更強大。 建立化學影像 inVia 共軛焦拉曼...
拉曼 SPM/AFM 組合型系統
拉曼 SPM/AFM 組合型系統 您可以結合 inVia 功能與掃描測頭顯微鏡 (SPM 和 AFM)，以調查奈米級材料成分、結構和特性。 選擇最佳系統 inVia 具備驚人靈活性，Renishaw 可將其直接耦合至各種廠牌的 AFM 和 SPM，例如： Bruker Nano Surfaces Nanonics NT-MDT JPK Park Nanosurf 選擇最符合需求的...
ATOM DX™ 增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺
ATOM DX™ 增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺 什麼是 ATOM DX？ ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 的微型增量式光學尺，可直接從讀頭輸出數位訊號，並在其微型封裝內整合了所有位置回饋、板載細分和光學濾波功能。 利用選配的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View...
ATOM DX™ 增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺
ATOM DX™ 增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺 高效能 ATOM DX 系列編碼器是高效能編碼器，解析度最低可達 2.
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤 什麼是 ATOM DX？ ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 的微型增量式光學尺，可直接從讀頭輸出數位訊號，並在其微型封裝內整合了所有位置回饋、板載細分和光學濾波功能。 利用選配的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View...
拉曼軟體：擴充
拉曼軟體：擴充 WiRE™ 核心軟體套件包含大多數使用者需要的功能。您可以新增提供額外功能的可選項模組，或在必要時，Renishaw 也可以與您合作開發出客製化解決方案。 額外模組 新增內含專業功能的模組，進行 WiRE 客製化： 微孔板對應 - 適用於製藥和生物研究 Custom Analysis Package (CAP) 模組 - 適用於程序監控、QA 和 QC 專用 SEM-S...
A-5000-3613 - M2 Ø18 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 2.3 mm
A-5000-3613 M2 Ø18 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 2.3 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5000-3615 - M3 Ø12.7 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 2.2 mm
A-5000-3615 M3 Ø12.7 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 2.2 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5000-7809 - M2 Ø18 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.5 mm
A-5000-7809 M2 Ø18 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5004-1387 - M2 Ø10 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.2 mm
A-5004-1387 M2 Ø10 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.2 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5004-1395 - M2 Ø12 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.6 mm
A-5004-1395 M2 Ø12 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.6 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5003-5288 - M5 Ø12 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 3 mm
A-5003-5288 M5 Ø12 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 3 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5000-7612 - M3 Ø35 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 5 mm
A-5000-7612 M3 Ø35 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5000-7810 - M2 Ø25 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.6 mm
A-5000-7810 M2 Ø25 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.6 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5000-4187 - M2 Ø25 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 3.1 mm
A-5000-4187 M2 Ø25 mm 未配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 3.1 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5004-1396 - M2 Ø14 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.6 mm
A-5004-1396 M2 Ø14 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 1.6 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5003-5289 - M5 Ø21 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 3 mm
A-5003-5289 M5 Ø21 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 3 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5003-5290 - M5 Ø35 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 5 mm
A-5003-5290 M5 Ø35 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
A-5003-5291 - M5 Ø63.5 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 5 mm
A-5003-5291 M5 Ø63.5 mm 配備滾軸的銀鋼圓盤，寬度 5 mm 盤形測針用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。盤形測針系列具備「半徑端滾柱」的功能，以測量溝槽寬度。銀鋼端頭受過熱處理，並具備高公差的對精密接地。
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便，提供寬鬆的安裝公差，按下按鈕即可進行校準。TONiC...
Renishaw 檢測接觸式測頭相關問題
Renishaw 檢測接觸式測頭相關問題 問：校正循環何時執行？ 答：完成初始設定後，自動校正循環就會以適合加工製程要求的間隔執行。 以下為 Renishaw 工具機檢測測頭的常見問題清單。 問：要如何校正測頭？多久需要重新校正？ 答：請參閱測頭校正影片。 測頭會在下列情況進行校正： 首次使用測頭系統時； 測頭安裝新測針時； 懷疑測針變形或測頭撞擊時；...
ACR1
ACR1 八埠、完全整合的CMM測頭或延長桿更換系統。 適用於PH10M 、PH10MQ 電動轉向測頭座和TP7M 、SP600M 、TP6A 、OTP6M 感測器。 規格 連接埠數 8 尺寸 460 x 100 x 81 mm （18.
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺 技術規格 優點 微型封裝 採用光學濾波系統設計，具備優異的抗汙能力 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。 自黏式光學捲尺方便耐用 品質保證 特性 讀頭尺寸：20.
電動測頭座和自動交換架控制器
電動測頭座和自動交換架控制器 HCU2 手控裝置 HCU2 是可搭配 PHC10-3 和 PHC10-3 PLUS 電動測頭座控制器使用的攜帶式測頭座驅動，及位置顯示單元。它對於設定元件、操作人員需控制的檢測以及教導循環程式編輯來說，是極為實用的工具。 它能讓操作人員手動變更測頭座的方位，而不需要透過 CMM 控制器傳送命令。...
RMP24-micro：全球最小的無線工具機測頭
RMP24-micro：全球最小的無線工具機測頭 選擇全球最小的無線工具機測頭，提升加工製程的精度及效率。探索我們的微型工具機測頭，讓您在體積精巧的綜合加工機享有自動化的工件設定及檢測。 精密製程控制的利器，適用於最小型的工具機。 RMP24-micro 現已上市。 RMP24-micro 是全球最小的無線工具機測頭，直徑及長度分別只有 24 mm 和 31.
ATOM™光學尺在高端自動檢測設備上的應用
AOI 設備（自動光學檢測設備）在過去十多年被廣泛應用，以 PCB 電路板產業為例，現今電子產品設計精巧但功能強大，高密度電路板線路之間僅有數微米的距離。創立於台灣的 JET －捷智科技股份有限公司，多年來為業界提供先進自動光學檢測方案，他們最新開發用於 SMT (表面貼片技術) 生產線的 AOI 檢測設備採用 Renishaw ATOM 系列超微型光學尺，確保系統表現的穩定性。
Renishaw 絕對式光學尺搭配 BiSS® C 序列介面 - 相容產品
Renishaw 絕對式光學尺搭配 BiSS® C 序列介面 - 相容產品 Bernecker & Rainer B& R 30 年來在自動化及製程控制領域，一直是最大規模的國際私人企業。B& R 是能力出眾的合作夥伴，在全球擁有超過 1,850 名員工，並在 68 個國家建立銷售和支援網路。不論您身在世界何處，都能聯絡符合資格的...
如何建立自動化的 CNC 加工系統
介紹如何將您的 CNC 製程自動化。 Renishaw 與 Fanuc 和 Star Machines 共同合作，將自動化車削製程與自動化機器人系統整合，運用 Fanuc 機械手臂做工件上、下料，以及 Renishaw Equator™...
拉曼服務與支援
拉曼服務與支援 淘汰元件：2009 年之前製造的 inVia 拉曼顯微鏡 自 2021 年 1 月 1 日起，針對 2009 年之前製造的 inVia 拉曼顯微鏡，有多項關鍵元件在故障時將不再享有維修或更換服務。請在此 參閱完整詳細資料，瞭解前述變動的各種原因，以及前述儀器的支援和升級選項。 縮減對 Renishaw Ramascope、RM 系列拉曼顯微鏡及 R...
Renishaw進一步増強VIONiC™光學尺系列性能
全球領先的工程科技公司Renishaw日前宣佈進一步増強VIONiC光學尺產品系列的性能。VIONiC光學尺的解析度現可達到2.5 nm，並且全系列產品的電子細分誤差 (SDE) 均有所降低。低電子細分誤差 (SDE) 有助於實現低速度紋波，這對於鐳射掃描測量系統等恒定速度應用來說十分重要。VIONiC光學尺可與一系列線性尺和旋轉光學尺配用。