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提升旋轉工作台精度標準
CNC 旋轉工作台在多軸加工中心機的效能中扮演極為重要的角色。由於工作台精度和可靠性是產品壽命期間最重要的考量，Matsumoto Machine Corporation (MMK) 採取兩全其美的務實方法，減少分度誤差並改善效能。公司為了加強產品校正及編碼器技術，針對旋轉工作台精度樹立全新標準。
FORTiS-S™ 封閉式線性光學尺長度已可達 4,240 mm
FORTiS™ 封閉線性絕對式光學尺系列產品的高精度位置量測設計堅固可靠，為 CNC 加工製程提供穩固基礎。Renishaw 現已提供加長量測長度的 FORTiS-S 線性光學尺，有助於將這些優勢應用到巨型壓鑄機、立式車床和特大型 CNC 工具機等大型機器。
金屬粉末供應品
金屬粉末供應品 Renishaw 提供多類型的金屬粉末產品，以供其金屬積層製造系統使用。 Renishaw 高品質金屬粉末 為最佳化 Renishaw 先進金屬積層製造系統的效能，Renishaw 建議使用其經過密集研究及測試的金屬粉末產品。 所有金屬粉末皆經過測試，以確保符合高品質、可靠及一致的系統參數。Renishaw 也不斷開發新金屬合金粉末的參數，而且是開發積層製造所使用金...
Renishaw 機台校正方案幫助 BOST 將工具機設定時間減半並提高旋轉軸精度
來自西班牙的 BOST Machine Tools Company（BOST）成立於 1972 年，是一家成熟的重型、超重型車床，及 重型銑床製造商，其原名為 Talleres Bost，最初從事車床改裝服務。自 1987 年起，BOST 便開始為客戶新購的車床、鑽床、銑床、鏜床等常用工具機台提供綜合設計、製造和安裝服務。
工業自動化機器人診斷系統
工業自動化機器人診斷系統 RCS T-90 strapline text RCS T-90 Intro Paragraph RCST-90 Benefits Intro RCS T-90 Benefit: Save time and money RCS T-90 Benefit: Simple, traceable servicing RCS T-90 Benefit: Easy to us...
五十載創新不止，Renishaw 與你同行
Renishaw 是深耕工程技術領域的跨國公司，成立於 1973 年 4 月 4 日，今年適逢成立第五十週年。為紀念這一重要的里程碑，Renishaw 將於全球開展一系列活動，包含企業開放日、員工家庭日，以及一項「五十年與五十家」(50 at 50)的慈善計畫。透過這項慈善計畫，Renishaw 將在全球提供服務的 36 個國家/地區中，向 50 家非營利組織捐贈 15 萬英鎊。
R-CJR-3 - 旋轉式 3 爪卡盤（與 M4、M6 及 1/4-20 底板搭配使用）
3 爪卡盤用於固定圓柱狀工件，讓測頭能在毫無干擾的情況下量測或掃描工件。能以垂直或水平方向安裝於底板。爪型設計可根據需求，從工件的外徑或內徑夾持，並依標示的增量旋轉。適用於直徑 Ø1 mm 至 Ø63 mm 的工件，建議可於 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。這是一款通用元件，適用於 M4、M6 及 ¼-20 等螺紋尺寸。
搭載 SPRINT™ 技術的機上掃描測頭
搭載 SPRINT™ 技術的機上掃描測頭 Renishaw advantage MPD 透過 Renishaw 的 SPRINT 技術，發揮高速及高精度的機上掃描測頭潛能。我們針對 CNC 工具機提供獨一無二的掃描測頭，擷取高度準確的 3D 資料，協助您打造最高等級的製程。 透過機上掃描強化製程 OSP60...
MH8
MH8 MH8 可攜帶任何 Renishaw 的 M8 測頭，並可安裝 50 mm 的測頭延長桿，以擴大其觸及範圍。 重量 205 g 測頭安裝方式 M8 螺紋 測頭座安裝方式 MS 軸桿系列 適合的介面 PI 200-3 測頭狀態指示燈 1 個 LED 纜線連接 5 針 DIN 180º 插座 A 軸轉位 0° 至 90°、15° 可重複步幅 = 7 個位置 B 軸轉向...
TP20 測頭套件
提供一系列觸發測力的模組，可讓測頭在量測工作上，能有最佳的表現。
MH20i
MH20i 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務，免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 為檢測流程注入新生命 升級您現有的測頭量測系統，在一夜間大幅降低您的成本。 A 軸可在 X-Y 平面上旋轉 ±180°。B 軸可在 Z 平面上旋轉 90°。鎖定桿可以最多 168 個以 15° 增量設定的可重複位置鎖住測頭座。 測頭座能攜帶完整的 TP20...
量測夾具工作台
量測夾具工作台 Strapline text under banner text sizes designed to suit your needs Having problems with pickup on aluminium heading text Having problems with pickup on aluminium text custom banner Image of...
XM-600 多光束雷校正儀
XM-600 多光束雷校正儀。 運動控制系統的快速校正解決方案。 同時量測所有 6 個自由度。
XM-600 多光束雷校正儀
XM-600 多光束雷校正儀。運動控制系統的快速校正解決方案。 同時量測所有 6 個自由度。
光學尺規格資料表
光學尺規格資料表 封閉式光學尺 開放式光學尺 診斷工具 ATOM™ 增量式光學尺 TONiC™ 增量式光學尺 VIONiC™ 增量式光學尺 RESOLUTE™ 絕對式光學尺 EVOLUTE™ 絕對式光學尺 QUANTiC™ 增量式光學尺 ATOM DX™ 增量式光學尺 FORTiS™ 絕對式光學尺 進階診斷工具 (ADT) 部分弧線 RKL 光學尺應用 ATOM™微型編碼器系統...
FCR25
FCR25 一模組交換系統系列產品，每個產品的每個連接埠可存放任何數目的 SP25M 系統元件。 SM25 掃描模組 TM25-20 TTP 模組轉接器 SH25 掃描測針固定座 TP20 模組 FCR25 三連接埠單元適用於裝配在 MRS 模組化交換架系統上。 可為 SP25M 掃描和接觸觸發式模組，提供自動化交換的靈活交換架。 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在...
R-QLC-KIM7030 - 適用於 Keyence 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-MVVX861061212 - 適用於 Micro-Vu 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-OF200-302Q300 - 適用於 OGP 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-OGPF500-625 - 適用於 OGP 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-NIN-VMA2520 - 適用於 Nikon 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。隨附：內...
R-QLC-OGPSZFQ250M200 - 適用於 OGP 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。隨附：內...
R-QLC-OSZ-MAF-RS300 - 適用於 OGP 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-SMVRAVR200-300 - 適用於 Starrett 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-ZO3-4-5-LR - 適用於 ZEISS 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的右下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
TP20 模組
提供一系列觸發測力的模組，可讓測頭在量測工作上，能有最佳的表現。
A-5504-0205 - Equator™ SP25 測頭套件
Equator 300 掃描系統均配備業界標準的 SP25 三軸類比式掃描測頭。
量測配件
量測配件 Renishaw 提供各種配件用於簡化 Renishaw 雷射量測系統的設定、校準及操作。 長距離線性光學鏡組套件 這類光學鏡組可對長度 40 公尺以上的軸進行線性量測。 此套件包括大型反向反射鏡與目標（以更容易在長距離進行校準作業）及觀測鏡（用以「捕捉」返回光束並重新導向雷射光閘）。 零件編號：A-8003-4270 小線性光學鏡組套件...
RLD10 反射鏡干涉儀
RLD10 反射鏡干涉儀 規格 軸行程 0 m 至 4 m 解析度（以 RLU 配置） 類比正交 = λ/2 (316 nm) 數位正交 = 20 nm RPI20 解析度 = 77.
校正應用案例分析
Renishaw 雷射及循圓測試儀的量測、分析及診斷解決方案，30 多年來持續協助成千上萬的使用者成功改善製程作業。不論您是最終使用者、經銷商、機器 OEM 或維護承包商，我們都提供一系列校正解決方案，協助您提升機器效能。
TS27R 接觸式刀具設定測頭
TS27R 接觸式刀具設定測頭 安裝 Renishaw TS27R 刀具設定系統的影片指南。 工具機連結 工具機產品 改善您的製程 您的加工廠適用哪些產品？ 硬體支援 軟體支援 測頭量測效益計算器 工具機客製化解決方案 若您有任何進一步問題，請聯絡當地 Renishaw 服務中心 。 安裝影片 TS27R - PROBE INSTALLATION TS27R - PROBE C...
XR20 旋轉軸校正儀
XR20 旋轉軸校正儀 如為 OEM 使用者，可在 XR20 使用指南 中查找自訂安裝製造規格的完整規格。 離軸旋轉量測 CARTO 軟體的離軸旋轉量測模式 可提供單一來源，以測試使用 XR20 旋轉軸校正儀搭配 XL-80 雷射系統或 XM-60 多光束校正儀進行的離軸量測。這會簡化量測 5 軸工具機的旋轉定位精度，因為在 5 軸工具機之中，XR20...
應用說明：雷射微加工
應用說明：雷射微加工 2020 年 4 月 VIONiC™ 系列光學尺是 Renishaw 超高精度的多合一數位增量式光學尺，適用於線性和旋轉應用，專門針對微加工製程和其他類型精密製造所設計。本文重點介紹選擇正確光學尺對雷射加工的重要性。 雷射微加工的應用領域，包括製造用於電氣測試和半導體晶圓測試的 MEM（微機電系統）裝置、微型測頭或接觸測頭。雷射加工產品通常用於醫療應用，例如血管支架、...
InfiniAM Central
InfiniAM Central 積層製造系統的遠端製程監控 主要優點 目前狀態 使用者可由目前狀態頁面檢視 AM 設施或群組之中的所有資源。系統狀態 (例如執行中、冷卻中、閒置等) 可顯示建構中零件的詳細資料、逐層進度、粉末程度及系統警報。 生產力 生產力頁面顯示各個 AM 系統的使用時間，並顯示執行、停止及冷卻時間。這樣可讓有意瞭解整體設備效率 (OEE)...
ATOM™ 光學尺在高端自動光學檢測設備上的應用
AOI 設備（自動光學檢測設備）在過去十多年被廣泛應用，以 PCB 電路板產業為例，現今電子產品設計精巧但功能強大，高密度電路板線路之間僅有數微米的距離。創立於台灣的 JET －捷智科技股份有限公司，多年來為業界提供先進自動光學檢測方案，他們最新開發用於 SMT (表面貼片技術) 生產線的 AOI 檢測設備採用 Renishaw ATOM 系列超微型光學尺，確保系統表現的穩定性。
Advanced position encoders in photolithography
光刻技術廣泛應用於半導體行業以及許多納米技術應用中。隨著電子產品的小型化趨勢，市場上越來越需要具備高生產能力的製造設備。光學位置編碼器技術持續的革新與突破，在某些應用中，已經能夠與雷射干涉儀的功能相互匹配。
HS20 長距離雷射編碼器
HS20 長距離雷射編碼器 Renishaw HS20 雷射頭結合外部線性光學鏡組套件，構成非接觸式雷射干涉編碼器系統，用於長軸、高精度、線性位置回饋應用。 Renishaw HS20 雷射編碼器系統結合雷射干涉儀的極致精度，以及工具機應用所需的堅固性。 HS20 雷射系統適用於嚴苛的機械工廠環境，60 m 以下軸長可達到正負百萬分之一（ppm 或 µm/m）的精度。 特性和優點...
Mori Seiki 使用 Renishaw 循圓測試儀提供高標準客戶服務
Mori Seiki 使用 Renishaw 循圓測試儀提供高標準客戶服務 Mori Seiki 集團是世界公認高規工具機的領先設計與製造商。自 1948 年成立以來，曾向全球提供超過 185,000 台工具機。 然而，Mori Seiki 意識到，僅供應工具機並不足以向客戶提供其生產活動所需的全方位支援。為了提供同樣高標準的支援服務，Mori Seiki 建立了一個遍佈世界各地、由 4...
Renishaw’s new VIONiC™ encoder offers unparalleled performance
獨步全球的測量專家 Renishaw 近期推出了VIONiC 編碼器系列 — 新一代超高精度、超小型的多合一數位增量式編碼器。對運動控制精度要求最高的應用，包括微型製造、微定位和精密光學元件製造等領域，必定能從 VIONiC 中受益最多。本文章深入探索高效能編碼器系統在這些應用項目中擔任的重要角色。
OEM 拉曼產品
OEM 拉曼產品 OEM 解決方案範例：RA800 系列台式拉曼系統 RA800 屬於靈活的高性能儀器平台。Renishaw 可配置此系列，為一系列的應用領域提供量身打造的化學與材料分析解決方案。 使用簡便 RA800 系列具備簡便與易於使用等特性，非常適合在實驗室中與生產線上或靠近生產線上的應用。專為未曾體驗拉曼光譜或相似技術的使用者所設計。 還想進一步瞭解更多資...
材料科學
材料科學 Renishaw 以獲獎無數的 inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡、拉曼/掃描測頭組合顯微系統，以及 SEM 拉曼組合型系統等創新科技，成功實現此項目標。 按一下以下連結，深入瞭解我們如何協助您的材料科學應用進行： 我們隨時為您服務 若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。 聯絡應用團隊 拉曼光譜已成功應用於分析各種材料和系統。
分析科學
分析科學 Renishaw 以獲獎無數的 inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡、拉曼/掃描測頭組合顯微鏡系統，以及 SEM 拉曼組合型系統等創新科技，持續努力擴展應用範圍。 按一下以下連結，深入瞭解我們如何協助您的分析科學應用進行： 我們隨時為您服務 若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。 聯絡應用團隊 拉曼光譜已成功應用於分析各種材料和系統。
地球科學
地球科學 Renishaw 以獲獎無數的 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡、拉曼/掃描測頭組合顯微鏡系統，以及 SEM 拉曼組合型系統等創新科技，持續努力擴展應用範圍。 按一下以下連結，深入瞭解我們如何協助您的地球科學應用進行： 我們隨時為您服務 若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。 聯絡應用團隊 拉曼光譜已成功應用於分析各種材料和系統。
化學科學
化學科學 我們隨時為您服務 若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。 聯絡應用團隊 拉曼光譜已成功應用於分析各種材料和系統。 Renishaw 以獲獎無數的 inVia 共軛焦拉曼顯微鏡、拉曼/掃描測頭組合顯微鏡系統，以及 SEM 拉曼組合型系統等創新科技，持續努力擴展應用範圍。 按一下以下連結，深入瞭解我們如何協助您的化學科學應用進行：
MIH
MIH 關於MIH 該手動轉向測頭座（MIH）是具有720個可重複的位置和自動聯接頭測頭固定座，可實現快速可重複的測頭更換。這可確保與大多數Renishaw測頭（除多線測頭外，如TP7M）相容。 內建LCD令編程更簡單，使裝置最多可以記憶20個測頭位置。 MIH設計與量測較大組件的長測頭延長桿配用。 關於MIH-S ...
全新 QUANTiC™ 類比輸出型光學尺
全新 QUANTiC™ 類比輸出型光學尺 2020 年 11 月 全球量測專家 Renishaw 推出全新 QUANTiC 類比輸出型光學尺讀頭選項。 類比光學尺的輸出讓客戶在電子元件內部直接進行訊號處理，適合具有精確速度和加速度控制要求的高動態應用。 QUANTiC 光學尺系統集成了 Renishaw 的光學濾波系統設計與細分技術，是一款超精巧且堅固耐用的增量開放式光學尺。QUANTiC...
以工具機測頭協助太空研究
由於地球上最微小粒子的理論出現最新進展，部分物理學家目前正對慣性與重力質量的等效原理提出質疑。為了檢驗這些概念，布倫瑞克 (Braunschweig) 德國國家計量研究院 (PTB) 的生產專業人員開發出圓柱形試驗質量塊，可讓所有幾何特性達到 2 µm 至 3 µm 的準確度。
XM-60 新配件協助運動平台製造商輕鬆完成校準
Renishaw 廣受好評的 XM-60 多光束校正儀帶來全新單軸水平移動台的優勢。水平移動台可以在沒有與被測軸垂直移動的應用中實現精確校準。通過水平移動台可以輕鬆且精準地移動 XM-60 的發射器，而不會影響已調整好的偏轉角大小。該功能特別適用於運動平台和印表機等應用。
為什麼選擇測頭？
為什麼選擇測頭？ 計算測頭量測如何為個人製程提供效益 如果您仍然以手動方式設定刀具和工件，並希望比較使用機上測頭量測的效益，歡迎使用我們的工具機測頭量測效益計算器 增加自動化操作進而降低人為介入 貴公司經常需要仰賴技術資深的操作員保持機器的正常運作，而導致人工成本及超時加班費用居高不下嗎？或者工程師忙著從事現場支援，完全無餘力開發新製程？ 若您能夠將手動設定和量測程序自動化呢？...
金屬 3D 列印
積層製造技術也稱為 3D 列印，是一種可從數位檔案製作出 3D 立體零件的製程。其通常是採用堆積或固體化多重材料薄層的方式，製作出完整的工件。這項技術能夠製作出如鑄造、鍛造和加工等「傳統」技法，所無法製作出的複雜形狀。