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A-5504-0274 - 校正標準件延伸桿
可將校正標準件提高 150 mm 的延伸桿。與加高型 Equator 檢具系統搭配使用。
A-4071-0001 - OMP40-2 側頭（光學／光學－傳統）
OMP40-2 測頭包括工具套件及電池。
惰氣生成
惰氣生成 Renishaw 獨特的惰氣生成可確保高品質建構環境。 領先同類的技術 Renishaw 積層製造系統以獨特方式生成惰氣。首先會建立真空環境，由腔室中移除任何空氣及濕氣。完成後，腔室中會裝填約 600 公升的高純度氬氣。 在整個建構過程中，大氣一直會維持在氧氣低於 1000 ppm (0.
A-5299-2933 - 用於空氣致動控制的刀具長度設定系統 (LTS) 電磁閥套件
用於空氣致動控制的電磁閥套件。
EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載
EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載 下載以下關於 EVOLUTE 絕對式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 規格資料表 安裝指南 使用指南 技術繪圖 EVOLUTE™ RTLA50/FASTRACK ™ 絕對式線性編碼器系統 Advanced Diagnostic Tool ADTa-100 BiSS® C-mode (unidirectional) for EVOLUTE™...
FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺
FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺 FORTiS 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體 。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數 匯出和保存資料 設定為零 選配的進階診斷工具 ADTa-100 ...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺 序列介面 說明 相容產品 BiSS C Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS...
A-4038-0001 - OMP60 側頭（光學／光學－傳統）
A-4038-0001 OMP60 側頭（光學／光學－傳統） OMP60 測頭僅含快速入門指南、電池和工具套件。精巧的 3D 觸發式測頭，採用光學訊號傳輸。用於工件設定檢測，可在眾多中大型加工中心上運作。
測針轉向節
這些轉向節提供兩軸的完全調整，可讓測針調整方位，量測有角度的特徵。
針形測針
專為螺紋形狀、特定點和劃線的量測而設計。
QUANTiC™ 光學增量式光學尺系列
QUANTiC™ 光學增量式光學尺系列 歡迎探索我們的開放式光學尺 系列，滿足您的工業自動化需求。 QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、強大高速的量測功能，且易於安裝和設定。 * 用於具有 1 公尺纜線的讀頭。 您需要量測哪種形式的運動？ 主要優點...
M8 延長桿
M8 延長桿 兩端含 M8 螺紋（一公一母）的延長桿，能使用配備 M8 固定座的測頭來深入量測工件。 PEL 套件 可供 2 線測頭用的 M8 螺紋連接器，在任何 CMM 上使用的一系列鋁製延長桿。 一個桃花心木盒中有三種延長桿（PEL1、PEL2 和 PEL3），這是購買不同長度組合的高成本效益方式。 PEL 延長桿 含有 M8 對 M8 螺紋的鋁製延長桿系列產品，可供 2 線接...
ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列
ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺，可直接自讀頭進行數位輸出，於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。本系列光學尺適用於空間最有限並且不能犧牲效能的應用項目。
圓柱形測針
用於量測金屬薄板孔洞、凹陷組件及薄工件。
REVO-2 及 RSP2 測頭
REVO-2 是唯一能同時控制機器 3 軸和測頭座 2 旋轉軸運動的 CMM 掃描系統，並使用多種 2D 和 3D 接觸式測頭、表面粗糙度量測測頭，以及目前的非接觸式影像測頭收集工件資料。
XM-60 多光束校正儀
XM-60 為一種雷射量測系統，只需一次設定便能夠沿著線性軸同時量測六個自由度誤差。其強大的診斷功能，只需一次擷取，即可量測該軸的所有幾何誤差。 對於空間補償的使用者，XM-60 提供快速且精確數據。XM-60的所有量測都是以光學方式進行，可使用於任何方向。
R-CT-40-70-8 - 含 68.1 mm 柱和 M8 螺紋的 36.2 mm 耐張線夾
耐張線夾可在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上快速而方便地夾持工件。
製藥
製藥 從藥物探索到配方、開發和故障排除，我們的系統隨時為您解惑。 API、賦形劑等材料 Renishaw 的拉曼系統具備分析所有製藥材料所需的效能和靈活性。 識別和區分 API 多形體和賦形劑 以小於微米的空間解析度產生藥錠、吸入器和鼻噴劑的配方影像 使用專屬高通量多形體篩選功能 使用先進溫度控制研究藥物的熱行為 整體藥錠和粉末混合物的快速定量分析 判斷混合物均勻性...
工具機測頭提升 60% 的生產效率
一家與 Trevisan 公司合作已久、專門供應石油和天然氣產業閥門的跨國公司，積極尋求一套彈性製造系統 (Flexible Manufacturing System, FMS)，以提高閥門生產精度和效率，同時將人為干涉降至最低。Trevisan 採用 Renishaw 一系列的工具機量測解決方案，強化了該系統的製程控制能力。
工具機測頭提升 60% 的生產效率
一家與 Trevisan 公司合作已久、專門供應石油和天然氣產業閥門的跨國公司，積極尋求一套彈性製造系統 (Flexible Manufacturing System, FMS)，以提高閥門生產精度和效率，同時將人為干涉降至最低。Trevisan 採用 Renishaw 一系列的工具機量測解決方案，強化了該系統的製程控制能力。
機器檢查
用於監控三次元量床空間量測效能的簡單方法。
Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體
Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體 使用簡便 經驗豐富的使用者，可利用傳統的 G 碼技術建立及執行循環。新手或經驗不足的使用者，可利用 GoProbe 提供的簡化編程方法，並享有自學式訓練套件及智慧型手機應用程式支援。 Inspection Plus 也支援各式各樣的圖形使用者介面 (GUI) ，包括 GoProbe iHMI 及 Set and Inspect...
高效能 5 軸量測
過去40 多年來，Renishaw 已研發出許多成為工業計量學里程碑的創新技術，從原始的點接觸觸發式測頭、電動轉向測頭座、高重覆性的測針更換，以至於模組化掃描系統。Renishaw 5 軸量測技術源自於本公司最大規模的研發計畫，可說是本公司量測功能的最大進展成果。
A-5225-0634 - 15 mm DI 觀測鏡組
觀測鏡組增加 RLD10-X3-DI 差分干涉儀量檢測頭的量測，與參考光束之間的偏置。
安裝影片：如何安裝 FORTiS-N™ 封閉線性絕對式光學尺
了解如何安裝 FORTiS-N™ (精細) 封閉式絕對式線性光學尺。請參閱相關的 FORTiS-N 安裝指南瞭解更多資訊。FORTiS 光學尺系列是新一代的封閉式線性絕對式光學尺，可在工具機等嚴苛環境中使用。透過一系列的創新設計功能，在光學尺的長期使用期間提供堅固耐用、可靠、高效能的位置量測，例如：• 經過業界實證的位置量測 • 非接觸式 • 卓越的密封性能 • 一流抗振效果 • 安裝簡便 ...
R-CT-40-30-8 - 含 30.0 mm 柱和 M8 螺紋的 36.2 mm 耐張線夾
此耐張線夾可在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上快速而方便地夾持工件。
R-CT-64-70-8 - 含 68.1 mm 柱和 M8 螺紋的 57.5 mm 耐張線夾
此耐張線夾可在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上快速而方便地夾持工件。
R-CT-95-83-8 - 含 82.8 mm 柱和 M8 螺紋的 87.7 mm 耐張線夾
此耐張線夾可在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上快速而方便地夾持工件。
RSU10-XX-XX - RSU10 USB 介面
RSU10 可將 RLE 雷射干涉儀編碼器系統中的 1 Vpp 類比正交訊號轉換為位置讀數，並經由 USB 介面取得。
Renishaw 推出適合 CNC 磨床的強化測頭量測系統
Renishaw 是工程技術的世界領導廠商，將於 2018 年德國磨削展 (GrindTec 2018；3 月 14 日至 17 日第 8 館攤位 8101) 推出新一代適合研磨機的 MP250 應變電感測頭量測系統。
Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现
Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现 挑戰 解決方案 煜眾的銷售客戶群涵蓋了汽車、機械、航太及電梯等精密製造業。在開發精密工具機的過程中，運動控制技術的提升，尤其是高速、高穩定性和精確度的控制，成為煜眾面臨的主要挑戰之一。作為 CNC...
Equator™ 檢具案例分析
許多加工現場使用者認為，將 Equator 整合至生產製程中能大幅降低成本、產線自動化並能改善效率。
拉曼展覽和會議
在全球各種活動與 Renishaw 拉曼光譜團隊會面
Equator 檢具系統讓製造能力提升 30%
奧林巴斯公司無損檢測產品部門 (Olympus NDT) 的生產目標是大批量零件製造，而先前使用的手動量測方法皆無法達到期望的生產效率以致無法實現該目標。透過導入可編程的產線即時量測系統將檢測過程自動化，Olympus NDT 達成了製造目標，並且提高了零件品質、減少了廢品。
Equator 檢具系統讓製造能力提升 30%
奧林巴斯公司無損檢測產品部門 (Olympus NDT) 的生產目標是大批量零件製造，而先前使用的手動量測方法皆無法達到期望的生產效率以致無法實現該目標。透過導入可編程的產線即時量測系統將檢測過程自動化，Olympus NDT 達成了製造目標，並且提高了零件品質、減少了廢品。
XK10 校準雷射系統幫助工具機製造商提高平行度量測精度
Renishaw 推出全新 XK 平行度套件，提供了一種使用 XK10 校準雷射系統量測平行度的創新方法。用戶可以在兩個名義上平行的軸體之間量測點對點的真直度偏差，或兩個平行軸體之間的角度偏差。
光學尺定位系統 — 高端印刷設備不可或缺的部件
人類眼睛識別影像的最高解析度是多少？當中涉及觀看距離，周邊環境和個人等眾多因素，目前並沒有一個標準的答案。但是一般認為人眼在正常目視距離情況下 300 DPI 的解析度是一個界限，就是說再高的解析度對一般人來說其實分別不大。
何種類型的應用會使用雷射編碼器？
何種類型的應用會使用雷射編碼器？ 雷射編碼器或位移干涉儀通常用於需要最高精度的應用項目。 Renishaw 能夠結合位移干涉儀的極致效能，以及傳統鋼帶和玻璃光學尺編碼器一般易於安裝的優點， 進而培養豐富經驗，滿足不同客戶應用的各種需求。以下提出前述應用範例，以及 Renishaw 系統提供的各項優勢。
A-5465-5001 - OSP60 M4 Ø2 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 80 mm，EWL 21.8 mm 認證
OSP60 專用測針適合個別應用需求。OSP60 測頭內建 SPRINT™ 技術。為了確保在所有量測條件下都能達到最高的量測精準度，OSP60 校正範圍內每支測針上的測球都經過測量，並取得 UKAS 認證。精確的測球直徑刻在測針固定座上，因此在測頭校正時，可以將這個高度精確的數值作為絕對參考值。
A-5465-5003 - OSP60 M4 Ø4 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 100 mm，EWL 41.8 mm 認證
OSP60 專用測針適合個別應用需求。OSP60 測頭內建 SPRINT™ 技術。為了確保在所有量測條件下都能達到最高的量測精準度，OSP60 校正範圍內每支測針上的測球都經過測量，並取得 UKAS 認證。精確的測球直徑刻在測針固定座上，因此在測頭校正時，可以將這個高度精確的數值作為絕對參考值。
A-5465-8576 - OSP60 M4 Ø6 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 100 mm，EWL 62.9 mm 認證
OSP60 專用測針適合個別應用需求。OSP60 測頭內建 SPRINT™ 技術。為了確保在所有量測條件下都能達到最高的量測精準度，OSP60 校正範圍內每支測針上的測球都經過測量，並取得 UKAS 認證。精確的測球直徑刻在測針固定座上，因此在測頭校正時，可以將這個高度精確的數值作為絕對參考值。
A-5465-8577 - OSP60 M4 Ø6 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 150 mm，EWL 71.5 mm 認證
OSP60 專用測針適合個別應用需求。OSP60 測頭內建 SPRINT™ 技術。為了確保在所有量測條件下都能達到最高的量測精準度，OSP60 校正範圍內每支測針上的測球都經過測量，並取得 UKAS 認證。精確的測球直徑刻在測針固定座上，因此在測頭校正時，可以將這個高度精確的數值作為絕對參考值。
A-5465-5002 - OSP60 M4 Ø3 mm 紅寶石球，陶瓷測針桿，L 100 mm，EWL 41.8 mm 認證
OSP60 專用測針適合個別應用需求。OSP60 測頭內建 SPRINT™ 技術。為了確保在所有量測條件下都能達到最高的量測精準度，OSP60 校正範圍內每支測針上的測球都經過測量，並取得 UKAS 認證。精確的測球直徑刻在測針固定座上，因此在測頭校正時，可以將這個高度精確的數值作為絕對參考值。
三次元量床測頭、軟體和改裝新聞
Renishaw 最新的 CMM（三次元量床）產品新聞、個案報導及技術文章，可讓加工製造產業提升檢測產能並節省大量成本
工具機刀桿
一系列的刀桿，專為將測頭固定於工具機主軸所設計。
相容產品清單
相容產品清單 軟體 以下套裝軟體包含 GoProbe 循環： Inspection Plus 接觸式刀具設定 GoProbe for Primo 硬體 以下接觸式觸發測頭支援 GoProbe 循環1。 檢測測頭 刀具設定測頭 OMP40-2 OMP40M RMP40 OMP60 /OMP60M OMP400 OMP600 RMP40 /RMP40M RMP400 RMP60 /R...
半球形測針
適用於量測 X、Y、Z 方向較深的部位和孔洞，且只需對準一個球。
球形端測針
適用於量測 X、Y、Z 方向較深的部位和孔洞，且只需對準一個球。