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ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列

ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列

ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺,可直接自讀頭進行數位輸出,於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。本系列光學尺適用於空間最有限並且不能犧牲效能的應用項目。

A-4114-8000 - NC4 設定工具

A-4114-8000 - NC4 設定工具

A-4114-8000 - NC4 設定工具

電池運作工具用於設定 NC4 系統。

PH10M-iQ PLUS

PH10M-iQ PLUS

PH10M-iQ PLUS PH10 PLUS 電動測頭座的範圍,讓 CMM 在自動化以外,還能為以程式控制的測頭重新定位,進而提升產能。因此,它能以不同角度檢測特徵,而不需要頻繁、耗時地更換測針。 * 必須由應用程式軟體提供支援 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起,您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務,免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 ...

XC-80 環境補償器

XC-80 環境補償器

大幅提升 XL-80 系統量測精度的環境補償器。

VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺

VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺

VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 什麼是 RTLC20 光學尺? RTLC20 是一種輕巧不鏽鋼光學捲尺,刻距為 20 µm,並提供 IN-TRAC 客製化參考原點。精度可達 ±5 µm/m,長度最長可達 10 公尺(可依要求供應 10 公尺以上長度)。提供兩種安裝選擇,皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。RTLC20 能與創新...

製藥

製藥

製藥 從藥物探索到配方、開發和故障排除,我們的系統隨時為您解惑。 API、賦形劑等材料 Renishaw 的拉曼系統具備分析所有製藥材料所需的效能和靈活性。 識別和區分 API 多形體和賦形劑 以小於微米的空間解析度產生藥錠、吸入器和鼻噴劑的配方影像 使用專屬高通量多形體篩選功能 使用先進溫度控制研究藥物的熱行為 整體藥錠和粉末混合物的快速定量分析 判斷混合物均勻性...

積層製造展示及貿易展

積層製造展示及貿易展

歡迎前往全球各地活動,深入瞭解 Renishaw 的積層製造產品及應用。

Renishaw REVO® 5 軸量測系統 (RVP 影像測頭)

Renishaw REVO® 5 軸量測系統 (RVP 影像測頭)

Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现

Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现

Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现 挑戰 解決方案 煜眾的銷售客戶群涵蓋了汽車、機械、航太及電梯等精密製造業。在開發精密工具機的過程中,運動控制技術的提升,尤其是高速、高穩定性和精確度的控制,成為煜眾面臨的主要挑戰之一。作為 CNC...

惰氣生成

惰氣生成

惰氣生成 Renishaw 獨特的惰氣生成可確保高品質建構環境。 領先同類的技術 Renishaw 積層製造系統以獨特方式生成惰氣。首先會建立真空環境,由腔室中移除任何空氣及濕氣。完成後,腔室中會裝填約 600 公升的高純度氬氣。 在整個建構過程中,大氣一直會維持在氧氣低於 1000 ppm (0.

拉曼光譜儀新聞

拉曼光譜儀新聞

拉曼及光致發光光譜儀的測量系統和零件。拉曼光譜儀顯微鏡、輕型製程監控光譜儀、掃描電鏡聯用的結構與化學分析儀、雷射及 CCD 探測器,以滿足工業和研究應用需求。

品管經理說:「身為品管經理,我看到它已經快速成為我們有史以來最佳的投資。」

品管經理說:「身為品管經理,我看到它已經快速成為我們有史以來最佳的投資。」

品管經理說:「身為品管經理,我看到它已經快速成為我們有史以來最佳的投資。」 David Powell, Quality Manager at UK-based Euromould Ltd, has been using Renishaw's Equator flexible gauge to increase inspection capacity and portability,...

Project MARCH 打造外骨骼機器人幫助脊髓損傷患者自由行走

Project MARCH 打造外骨骼機器人幫助脊髓損傷患者自由行走

Project MARCH 是荷蘭代爾夫特理工大學 (Delft University of Technology) 一個由跨學科的學生們所組成的非營利團隊,他們的目標是開發和製造能夠協助 SCI 患者站立和行走的先進外骨骼機器人原型。

量測夾具新聞

量測夾具新聞

M8 延長桿

M8 延長桿

M8 延長桿 兩端含 M8 螺紋(一公一母)的延長桿,能使用配備 M8 固定座的測頭來深入量測工件。 PEL 套件 可供 2 線測頭用的 M8 螺紋連接器,在任何 CMM 上使用的一系列鋁製延長桿。 一個桃花心木盒中有三種延長桿(PEL1、PEL2 和 PEL3),這是購買不同長度組合的高成本效益方式。 PEL 延長桿 含有 M8 對 M8 螺紋的鋁製延長桿系列產品,可供 2 線接...

RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺

RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺

RESOLUTE™ 真正絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺。RESOLUTE 是全球第一個絕對式編碼器,在線性系統應用中,提供高達 100 m/s 的速度和 1 nm 的解析度,在旋轉系統應用中提供高達 36,000 rev/min 的速度和 32 位元解析度。

A-1371-0603 - TP20 NI(非抑制)測頭套件(包括 1 × TP20 NI 測頭主體、1 × 標準觸發力模組及 1 × 低觸發力模組)

A-1371-0603 - TP20 NI(非抑制)測頭套件(包括 1 × TP20 NI 測頭主體、1 × 標準觸發力模組及 1 × 低觸發力模組)

A-1371-0603 - TP20 NI(非抑制)測頭套件(包括 1 × TP20 NI 測頭主體、1 × 標準觸發力模組及 1 × 低觸發力模組)

TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計,由測頭主體和可拆卸測針模組組成,可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭,即可手動或自動更換模組。TP20 NI(非抑制)測頭主體不受磁場影響,並且在使用 MCR20 進行變更循環期間,必須透過軟體來抑制測頭觸發。標準觸發力測頭模組是以黑色蓋辨識。此標準觸發力測頭模組是以黑蓋辨識,適合需要長度在 50 mm 以下...

量測詞彙表與術語

量測詞彙表與術語

量測詞彙表與術語 改善我的製程連結 為什麼選擇測頭? 何時使用測頭? 測頭量測如何提供效益? 效益計算器 應用案例研究和新聞 案例摘要 量測詞彙表 技術文獻 通用與 Renishaw 專屬工具機計量學術語的定義、說明和解釋。

採用 RENGAGE™ 技術的高精度工具機測頭量測系統

採用 RENGAGE™ 技術的高精度工具機測頭量測系統

高精度雷射刀具設定系統

高精度雷射刀具設定系統

Renishaw NC4 非接觸式刀具設定產品系列是精度高、速度快的刀具量測和刀具破損檢測系統,可應用在各種型號和尺寸的工具機上,實現製程控制。

PH20全新五軸點觸發量測系統

PH20全新五軸點觸發量測系統

PH20 是 Renishaw(雷尼紹)公司全新推出的又一款量測產品的創新力作,為三次元量床(CMM)的量測性能向前邁開了一大步。 這是將屢獲大獎肯定且專為 REVO® 量測系統研發的五軸技術,首次將其應用於所有規格的CMM機台的點觸發量測。

A-8003-2353 - 線性量測套件(鋼製)

A-8003-2353 - 線性量測套件(鋼製)

A-8003-2353 - 線性量測套件(鋼製)

A-8003-2353 線性量測套件(鋼製) 迄今為止,線性量測是機器上最常見的量測方式。執行線性量測時,XL-80 雷射儀測量參考與量測光學路徑之間相對距離的變化。任一光學鏡組都能移動,前提是另一光學鏡組維持靜止。

A-8003-0440 - 線性量測光學鏡組

A-8003-0440 - 線性量測光學鏡組

A-8003-0440 - 線性量測光學鏡組

A-8003-0440 線性量測光學鏡組 迄今為止,線性量測是機器上最常見的量測方式。執行線性量測時,XL-80 雷射儀測量參考與量測光學路徑之間相對距離的變化。任一光學鏡組都能移動,前提是另一光學鏡組維持靜止。

使命必達的晶圓傳送機器人

使命必達的晶圓傳送機器人

電子產品巳成為現今人類日常生活中不可或缺的一部份,近年手機,平板電腦,可穿載裝置等移動電子產品不斷推陳出新,體積越做越小功能卻越發強大,這一切都得感謝芯片(IC - 集成電路) 微型化的工藝。一塊晶圓(wafer)製作成大大小小的芯片需要經過許多複雜的製程,當中需要依賴機器人快速而準確把晶圓運送到各個製程點,由於晶圓製造成本高昂,而且屬高度易碎件,因此晶圓在傳送時的穩定性可說是至關重要。韓國...

P-CN47-0032 - 12 向端子台

P-CN47-0032 - 12 向端子台

P-CN47-0032 - 12 向端子台

12 向端子台用於搭配 Renishaw HSI 固線式系統介面使用。

Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體

Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體

Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體 使用簡便 經驗豐富的使用者,可利用傳統的 G 碼技術建立及執行循環。新手或經驗不足的使用者,可利用 GoProbe 提供的簡化編程方法,並享有自學式訓練套件及智慧型手機應用程式支援。 Inspection Plus 也支援各式各樣的圖形使用者介面 (GUI) ,包括 GoProbe iHMI 及 Set and Inspect...

相容產品清單

相容產品清單

相容產品清單 軟體 以下套裝軟體包含 GoProbe 循環: Inspection Plus 接觸式刀具設定 GoProbe for Primo 硬體 以下接觸式觸發測頭支援 GoProbe 循環1。 檢測測頭 刀具設定測頭 OMP40-2 OMP40M RMP40 OMP60 /OMP60M OMP400 OMP600 RMP40 /RMP40M RMP400 RMP60 /R...

Renishaw台灣國際工具機展精銳出擊,全方位量測解決方案助力智慧製造必備需求

Renishaw台灣國際工具機展精銳出擊,全方位量測解決方案助力智慧製造必備需求

兩年一度的台灣國際工具機展 (TMTS) 將於11月7日至11月11日於台中烏日高鐵特區盛大開展,全球精密量測領導廠商 Renishaw將於 3、4館的 3B433 攤位帶來全系列量測解決方案及積層製造 (又稱3D列印) 系統,透過「設計-製造-加工-量測」的模擬智慧製造流程概念,展現出量測技術能為自動化製程所帶來的生產效益。

如何利用 XK10 校準雷射系統量測直線度

如何利用 XK10 校準雷射系統量測直線度

量測工具機鑄件的基準面精度

如何使用 XK10 校準雷射系統量測平行度

如何使用 XK10 校準雷射系統量測平行度

在機器製造、維護和售服期間量測幾何和旋轉誤差,能夠精準對齊和調整機器軸以達到最佳性能。

XK10 校準雷射系統

XK10 校準雷射系統

XK10 校準雷射系統用以量測工具機的幾何及旋轉誤差。擁 有精巧尺寸和多功能夾具的 XK10 可用於多種配置,能夠量 測各種類型尺寸工具機的誤差。

XK10 校準雷射系統

XK10 校準雷射系統

XK10 校準雷射系統用以量測工具機的幾何及旋轉誤差。擁有精巧尺寸和多功能夾具的 XK10 可用於多種配置,能夠量測各種類型尺寸工具機的誤差。

QUANTiC™ 增量式光學尺下載

QUANTiC™ 增量式光學尺下載

QUANTiC™ 增量式光學尺下載 下載以下關於 QUANTiC 增量式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 使用指南 規格資料表 安裝指南 技術繪圖 RESx 417 mm A section ring RESx 115 mm B section ring RESx 150 mm B section ring RESx 200 mm B section ring RTLx...

RFP1 條紋測頭

RFP1 條紋測頭

REVO® 條紋測頭 (RFP1) 為非接觸式結構化光線感測器,適用於 REVO 系統,可於無段定位 5 軸 CMM 平台上高度精準量測表面拓撲。

Renishaw 於 2017 年 EMO 漢諾威工具機大展推出 REVO® 多感測器系統的全新表面粗糙度測頭

Renishaw 於 2017 年 EMO 漢諾威工具機大展推出 REVO® 多感測器系統的全新表面粗糙度測頭

Renishaw 是領先全球的三次元量床 (CMM) 設備製造商,將於德國 2017 年 EMO 漢諾威工具機大展 (EMO Hannover 2017,9 月 18 日至 23 日,第 6 館,攤位 B46) 展示與 REVO 5 軸 CMM 量測系統搭配使用的全新強化版表面粗糙度量測測頭 (SFP2)。

P-CN25-0008 - 3 向端子台(HSI 介面)

P-CN25-0008 - 3 向端子台(HSI 介面)

P-CN25-0008 - 3 向端子台(HSI 介面)

3 向端子台用於搭配 Renishaw HSI 固線式系統介面使用。

EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載

EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載

EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載 下載以下關於 EVOLUTE 絕對式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 規格資料表 安裝指南 使用指南 技術繪圖 EVOLUTE™ RTLA50/FASTRACK ™ 絕對式線性編碼器系統 Advanced Diagnostic Tool ADTa-100 BiSS® C-mode (unidirectional) for EVOLUTE™...

REVO® RVP 量測系統

REVO® RVP 量測系統

CMM 改裝將量測時間縮短 55%

CMM 改裝將量測時間縮短 55%

Precision Machine & Auto Components (PMAC) 的三軸三次元量床 (CMM) 在一場水災中嚴重損壞,必須立即尋找替代解決方案。Renishaw REVO® 五軸量測系統不僅把因水災損壞的 CMM 恢復運作,而且將量測時間縮短了 55%。

CMM 改裝將量測時間縮短 55%

CMM 改裝將量測時間縮短 55%

Precision Machine & Auto Components (PMAC) 的三軸三次元量床 (CMM) 在一場水災中嚴重損壞,必須立即尋找替代解決方案。Renishaw REVO® 五軸量測系統不僅把因水災損壞的 CMM 恢復運作,而且將量測時間縮短了 55%。

P-HO01-0010 - 導管 (GP9)

P-HO01-0010 - 導管 (GP9)

P-HO01-0010 - 導管 (GP9)

導管 (GP9) 用於搭配含纜線連接器的 Renishaw TRS2 接觸式刀具設定系統使用。

ATOM DX™ 增量式光學尺下載

ATOM DX™ 增量式光學尺下載

ATOM DX™ 增量式光學尺下載 下載以下關於 ATOM DX 增量式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 規格資料表 使用指南 安裝指南 技術繪圖 ATOM DX CSF40 120 OD, 88.

A-5555-0077 - M5 測針用於螺紋量測,Ø0.8 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 5.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0077 - M5 測針用於螺紋量測,Ø0.8 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 5.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0077 - M5 測針用於螺紋量測,Ø0.8 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 5.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

M5 測針用於螺紋量測。附註:量測長度至球體末端。

A-5555-0074 - M5 測針用於螺紋量測,Ø1.35 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 9.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0074 - M5 測針用於螺紋量測,Ø1.35 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 9.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0074 - M5 測針用於螺紋量測,Ø1.35 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 9.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

M5 測針用於螺紋量測。附註:量測長度至球體末端。

A-5555-0075 - M5 測針用於螺紋量測,Ø2.3 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 12 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0075 - M5 測針用於螺紋量測,Ø2.3 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 12 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0075 - M5 測針用於螺紋量測,Ø2.3 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 12 mm,適用於 ZEISS 應用項目

M5 測針用於螺紋量測。附註:量測長度至球體末端。

A-5555-0076 - M5 測針用於螺紋量測,Ø1.8 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 10.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0076 - M5 測針用於螺紋量測,Ø1.8 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 10.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-0076 - M5 測針用於螺紋量測,Ø1.8 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 10.00 mm,適用於 ZEISS 應用項目

M5 測針用於螺紋量測。附註:量測長度至球體末端。

A-5555-3999 - M5 測針用於螺紋量測,Ø0.5 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 3.5 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-3999 - M5 測針用於螺紋量測,Ø0.5 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 3.5 mm,適用於 ZEISS 應用項目

A-5555-3999 - M5 測針用於螺紋量測,Ø0.5 mm 紅寶石球,碳化鎢測針桿,ML 3.5 mm,適用於 ZEISS 應用項目

M5 測針用於螺紋量測。附註:量測長度至球體末端。

量測夾具新成員 - 全新 QuickLoad™ 導軌系統可提升零件檢測的速度、產能及精度

量測夾具新成員 - 全新 QuickLoad™ 導軌系統可提升零件檢測的速度、產能及精度

Renishaw推出全新QuickLoad™ 導軌系統,成為量測夾具系列產品的生力軍。QuickLoad 導軌系統可於三次元,搭配使用 QuickLoad 底板時可提供穩固的工件定位;底板則利用快拆式磁鐵及定位插銷定位至任一側的導軌。導軌及底板採用互換式設計,目標是讓機台使用者享有最出色的能力,迅速檢測及拆卸零件。

CARTO Compensate

CARTO Compensate

Compensate 可將量測位置轉換為誤差修正檔案,協助您強化運動系統的定位功能。

直測針

直測針

最簡單也最常用的測針類型,適用於大多數量測應用。

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