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RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺 序列介面 說明 相容產品 BiSS C Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS...
FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺
FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺 FORTiS 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體 。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數 匯出和保存資料 設定為零 選配的進階診斷工具 ADTa-100 ...
品管經理說：「身為品管經理，我看到它已經快速成為我們有史以來最佳的投資。」
品管經理說：「身為品管經理，我看到它已經快速成為我們有史以來最佳的投資。」 David Powell, Quality Manager at UK-based Euromould Ltd, has been using Renishaw's Equator flexible gauge to increase inspection capacity and portability,...
QUANTiC™ 光學增量式光學尺系列
QUANTiC™ 光學增量式光學尺系列 歡迎探索我們的開放式光學尺 系列，滿足您的工業自動化需求。 QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、強大高速的量測功能，且易於安裝和設定。 * 用於具有 1 公尺纜線的讀頭。 您需要量測哪種形式的運動？ 主要優點...
PH10M-iQ PLUS
PH10M-iQ PLUS PH10 PLUS 電動測頭座的範圍，讓 CMM 在自動化以外，還能為以程式控制的測頭重新定位，進而提升產能。因此，它能以不同角度檢測特徵，而不需要頻繁、耗時地更換測針。 * 必須由應用程式軟體提供支援 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務，免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 ...
拉曼光譜儀新聞
拉曼及光致發光光譜儀的測量系統和零件。拉曼光譜儀顯微鏡、輕型製程監控光譜儀、掃描電鏡聯用的結構與化學分析儀、雷射及 CCD 探測器，以滿足工業和研究應用需求。
P-CN47-0032 - 12 向端子台
12 向端子台用於搭配 Renishaw HSI 固線式系統介面使用。
惰氣生成
惰氣生成 Renishaw 獨特的惰氣生成可確保高品質建構環境。 領先同類的技術 Renishaw 積層製造系統以獨特方式生成惰氣。首先會建立真空環境，由腔室中移除任何空氣及濕氣。完成後，腔室中會裝填約 600 公升的高純度氬氣。 在整個建構過程中，大氣一直會維持在氧氣低於 1000 ppm (0.
ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列
ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺，可直接自讀頭進行數位輸出，於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。本系列光學尺適用於空間最有限並且不能犧牲效能的應用項目。
A-8003-2353 - 線性量測套件（鋼製）
A-8003-2353 線性量測套件（鋼製） 迄今為止，線性量測是機器上最常見的量測方式。執行線性量測時，XL-80 雷射儀測量參考與量測光學路徑之間相對距離的變化。任一光學鏡組都能移動，前提是另一光學鏡組維持靜止。
A-8003-0440 - 線性量測光學鏡組
A-8003-0440 線性量測光學鏡組 迄今為止，線性量測是機器上最常見的量測方式。執行線性量測時，XL-80 雷射儀測量參考與量測光學路徑之間相對距離的變化。任一光學鏡組都能移動，前提是另一光學鏡組維持靜止。
高精度雷射刀具設定系統
Renishaw NC4 非接觸式刀具設定產品系列是精度高、速度快的刀具量測和刀具破損檢測系統，可應用在各種型號和尺寸的工具機上，實現製程控制。
量測詞彙表與術語
量測詞彙表與術語 改善我的製程連結 為什麼選擇測頭？ 何時使用測頭？ 測頭量測如何提供效益？ 效益計算器 應用案例研究和新聞 案例摘要 量測詞彙表 技術文獻 通用與 Renishaw 專屬工具機計量學術語的定義、說明和解釋。
PH20全新五軸點觸發量測系統
PH20 是 Renishaw(雷尼紹)公司全新推出的又一款量測產品的創新力作，為三次元量床(CMM)的量測性能向前邁開了一大步。 這是將屢獲大獎肯定且專為 REVO® 量測系統研發的五軸技術，首次將其應用於所有規格的CMM機台的點觸發量測。
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 什麼是 RTLC20 光學尺？ RTLC20 是一種輕巧不鏽鋼光學捲尺，刻距為 20 µm，並提供 IN-TRAC 客製化參考原點。精度可達 ±5 µm/m，長度最長可達 10 公尺（可依要求供應 10 公尺以上長度）。提供兩種安裝選擇，皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。RTLC20 能與創新...
製藥
製藥 從藥物探索到配方、開發和故障排除，我們的系統隨時為您解惑。 API、賦形劑等材料 Renishaw 的拉曼系統具備分析所有製藥材料所需的效能和靈活性。 識別和區分 API 多形體和賦形劑 以小於微米的空間解析度產生藥錠、吸入器和鼻噴劑的配方影像 使用專屬高通量多形體篩選功能 使用先進溫度控制研究藥物的熱行為 整體藥錠和粉末混合物的快速定量分析 判斷混合物均勻性...
P-CN25-0008 - 3 向端子台（HSI 介面）
3 向端子台用於搭配 Renishaw HSI 固線式系統介面使用。
A-1371-0603 - TP20 NI（非抑制）測頭套件（包括 1 × TP20 NI 測頭主體、1 × 標準觸發力模組及 1 × 低觸發力模組）
TP20 為輕型模組更換觸發式測頭。兩件式設計，由測頭主體和可拆卸測針模組組成，可使用一系列的測針配置與延長桿檢測複雜零件上的特徵。無須重新鑑定測針端頭，即可手動或自動更換模組。TP20 NI（非抑制）測頭主體不受磁場影響，並且在使用 MCR20 進行變更循環期間，必須透過軟體來抑制測頭觸發。標準觸發力測頭模組是以黑色蓋辨識。此標準觸發力測頭模組是以黑蓋辨識，適合需要長度在 50 mm 以下...
XK10 校準雷射系統
XK10 校準雷射系統用以量測工具機的幾何及旋轉誤差。擁 有精巧尺寸和多功能夾具的 XK10 可用於多種配置，能夠量 測各種類型尺寸工具機的誤差。
XK10 校準雷射系統
XK10 校準雷射系統用以量測工具機的幾何及旋轉誤差。擁有精巧尺寸和多功能夾具的 XK10 可用於多種配置，能夠量測各種類型尺寸工具機的誤差。
Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现
Renishaw FORTiS™光學尺提升精密五轴加工中心的性能表现 挑戰 解決方案 煜眾的銷售客戶群涵蓋了汽車、機械、航太及電梯等精密製造業。在開發精密工具機的過程中，運動控制技術的提升，尤其是高速、高穩定性和精確度的控制，成為煜眾面臨的主要挑戰之一。作為 CNC...
Renishaw台灣國際工具機展精銳出擊，全方位量測解決方案助力智慧製造必備需求
兩年一度的台灣國際工具機展 (TMTS) 將於11月7日至11月11日於台中烏日高鐵特區盛大開展，全球精密量測領導廠商 Renishaw將於 3、4館的 3B433 攤位帶來全系列量測解決方案及積層製造 (又稱3D列印) 系統，透過「設計-製造-加工-量測」的模擬智慧製造流程概念，展現出量測技術能為自動化製程所帶來的生產效益。
QUANTiC™ 增量式光學尺下載
QUANTiC™ 增量式光學尺下載 下載以下關於 QUANTiC 增量式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 使用指南 規格資料表 安裝指南 技術繪圖 RESx 417 mm A section ring RESx 115 mm B section ring RESx 150 mm B section ring RESx 200 mm B section ring RTLx...
RFP1 條紋測頭
REVO® 條紋測頭 (RFP1) 為非接觸式結構化光線感測器，適用於 REVO 系統，可於無段定位 5 軸 CMM 平台上高度精準量測表面拓撲。
M8 延長桿
M8 延長桿 兩端含 M8 螺紋（一公一母）的延長桿，能使用配備 M8 固定座的測頭來深入量測工件。 PEL 套件 可供 2 線測頭用的 M8 螺紋連接器，在任何 CMM 上使用的一系列鋁製延長桿。 一個桃花心木盒中有三種延長桿（PEL1、PEL2 和 PEL3），這是購買不同長度組合的高成本效益方式。 PEL 延長桿 含有 M8 對 M8 螺紋的鋁製延長桿系列產品，可供 2 線接...
Renishaw 於 2017 年 EMO 漢諾威工具機大展推出 REVO® 多感測器系統的全新表面粗糙度測頭
Renishaw 是領先全球的三次元量床 (CMM) 設備製造商，將於德國 2017 年 EMO 漢諾威工具機大展 (EMO Hannover 2017，9 月 18 日至 23 日，第 6 館，攤位 B46) 展示與 REVO 5 軸 CMM 量測系統搭配使用的全新強化版表面粗糙度量測測頭 (SFP2)。
如何利用 XK10 校準雷射系統量測直線度
量測工具機鑄件的基準面精度
如何使用 XK10 校準雷射系統量測平行度
在機器製造、維護和售服期間量測幾何和旋轉誤差，能夠精準對齊和調整機器軸以達到最佳性能。
P-HO01-0010 - 導管 (GP9)
導管 (GP9) 用於搭配含纜線連接器的 Renishaw TRS2 接觸式刀具設定系統使用。
CMM 改裝將量測時間縮短 55%
Precision Machine & Auto Components (PMAC) 的三軸三次元量床 (CMM) 在一場水災中嚴重損壞，必須立即尋找替代解決方案。Renishaw REVO® 五軸量測系統不僅把因水災損壞的 CMM 恢復運作，而且將量測時間縮短了 55%。
CMM 改裝將量測時間縮短 55%
Precision Machine & Auto Components (PMAC) 的三軸三次元量床 (CMM) 在一場水災中嚴重損壞，必須立即尋找替代解決方案。Renishaw REVO® 五軸量測系統不僅把因水災損壞的 CMM 恢復運作，而且將量測時間縮短了 55%。
A-2008-0448 - TS27R OTS 水平轉接器套件
TS27R OTS 水平轉接器套件 用於搭配 OTS 刀具設定系統使用
A-6078-0209 - M8 500 治具基板
具 M8 螺紋尺寸孔的動態治具基板，與 Equator 500 檢具系統搭配使用。
CARTO Compensate
Compensate 可將量測位置轉換為誤差修正檔案，協助您強化運動系統的定位功能。
EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載
EVOLUTE™ 絕對式光學尺下載 下載以下關於 EVOLUTE 絕對式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 規格資料表 安裝指南 使用指南 技術繪圖 EVOLUTE™ RTLA50/FASTRACK ™ 絕對式線性編碼器系統 Advanced Diagnostic Tool ADTa-100 BiSS® C-mode (unidirectional) for EVOLUTE™...
A-5555-0074 - M5 測針用於螺紋量測，Ø1.35 mm 紅寶石球，碳化鎢測針桿，ML 9.00 mm，適用於 ZEISS 應用項目
M5 測針用於螺紋量測。附註：量測長度至球體末端。
A-5555-0077 - M5 測針用於螺紋量測，Ø0.8 mm 紅寶石球，碳化鎢測針桿，ML 5.00 mm，適用於 ZEISS 應用項目
M5 測針用於螺紋量測。附註：量測長度至球體末端。
A-5555-0075 - M5 測針用於螺紋量測，Ø2.3 mm 紅寶石球，碳化鎢測針桿，ML 12 mm，適用於 ZEISS 應用項目
M5 測針用於螺紋量測。附註：量測長度至球體末端。
A-5555-0076 - M5 測針用於螺紋量測，Ø1.8 mm 紅寶石球，碳化鎢測針桿，ML 10.00 mm，適用於 ZEISS 應用項目
M5 測針用於螺紋量測。附註：量測長度至球體末端。
A-5555-3999 - M5 測針用於螺紋量測，Ø0.5 mm 紅寶石球，碳化鎢測針桿，ML 3.5 mm，適用於 ZEISS 應用項目
M5 測針用於螺紋量測。附註：量測長度至球體末端。
Project MARCH 打造外骨骼機器人幫助脊髓損傷患者自由行走
Project MARCH 是荷蘭代爾夫特理工大學 (Delft University of Technology) 一個由跨學科的學生們所組成的非營利團隊，他們的目標是開發和製造能夠協助 SCI 患者站立和行走的先進外骨骼機器人原型。
直測針
最簡單也最常用的測針類型，適用於大多數量測應用。
盤形測針
用於量測孔洞內，星形測針無法觸及的凹口和凹槽。
Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體
Inspection Plus - CNC 工具機專用巨集軟體 使用簡便 經驗豐富的使用者，可利用傳統的 G 碼技術建立及執行循環。新手或經驗不足的使用者，可利用 GoProbe 提供的簡化編程方法，並享有自學式訓練套件及智慧型手機應用程式支援。 Inspection Plus 也支援各式各樣的圖形使用者介面 (GUI) ，包括 GoProbe iHMI 及 Set and Inspect...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ 真正絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺。RESOLUTE 是全球第一個絕對式編碼器，在線性系統應用中，提供高達 100 m/s 的速度和 1 nm 的解析度，在旋轉系統應用中提供高達 36,000 rev/min 的速度和 32 位元解析度。
A-8003-0441 - 角度量測光學鏡組
角度量測光學鏡組可進行角度俯仰及偏航量測。此套件可測量高達 ±10° 的最大角度偏差，解析度為 0.01 弧秒。