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TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 優點 高精度光學尺 超輕巧型光學尺 先進訊號調節功能提高運動控制能力 高抗污能力 超低的細分誤差 (SDE)：一般 < ±30 nm 診斷套件 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP...
Renishaw 宣布推出適用於 REVO® 多感應器系統的全新非接觸式影像測頭
Renishaw 隆重宣布推出搭配三次元量床 (CMM) 上的 REVO 5 軸量測系統使用的新視覺量測測頭 (RVP)。RVP 可藉由對現有接觸式觸發新增非接觸式檢測、高速接觸掃描和系統的表面粗糙度量測功能，以增加 REVO 的多感應器功能。
改裝元件和選項
改裝元件和選項 全方位的 CMM 解決方案 充分發揮您 CMM 的潛能 請閱讀這份白皮書，瞭解如何透過先進科技軟體、控制器和感測器技術的改裝，為您帶來提升量測能力與現有 CMM 效能的契機。 Renishaw 提供一套從簡單的接觸觸發式測頭量測，到先進 5 軸量測的全方位改裝解決方案，並透過常用的控制器和計量軟體平台提供加強輔助。 由 Renishaw 及其認證改裝商提供 ...
A-1007-0151 - MCG，151 mm 單臂配件
Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間，或碰撞後定期監控三次元量床空間（根據 ISO 10360--2 標準）的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確，或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速，又符合經濟效益，一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長，以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。
鏡面與光學鏡組
Renishaw 會依據要求提供剖面 25 mm x 25 mm、光學孔徑長達 300 mm 的平面鏡標靶光學鏡組。鏡面固定架適用於剖面 25 mm x 25 mm、總長度 350 mm 的鏡面。RVI20 是一套用於平面鏡的真空相容干涉儀組。
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD（雙解析度）介面提供可選擇的雙解析度輸出，也提供於寬幅列印應用的...
inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡
inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡 inVia™ InSpect 我們讓公司最暢銷的拉曼顯微鏡達到最高水準，以便用於鑑識實驗室。inVia InSpect 顯微鏡提供您所需的工具，進行非破壞性化學分析。 inVia InSpect 客製化拉曼解決方案 我們經驗豐富的特別產品團隊，可開發符合您特定需求的客製化解決方案。 ...
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉（角度）圓盤
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉（角度）圓盤 left aligned 什麼是 CENTRUM™ CSF40？ CENTRUM CSF40 是一款不銹鋼旋轉光學尺圓盤。盤內配置創新的對齊柔性彈片，將圓盤安裝到軸上時，這些柔性彈片可自動將圓盤中心與軸中心對齊，進而提高量測效能。 CENTRUM...
PH1
PH1 PH1測頭被偏置於安裝桿Z軸。 規格 重量 125 g 測頭固定座 M8螺紋 測頭座固定座 MS刀桿系列 適合的介面 PI 4-2 測頭狀態指示 一個LED指示燈 線纜連接 五針DIN180度插槽 A軸轉向 115度旋轉架，用六角扳手鎖定（3 mm A/F） B軸轉向 360度，增量為15度 PH1是小型桿式安裝手動測頭座，可以沿A和B軸移動，具有有限的超行程保護。...
TONiC™ 增量式光學尺系統具備 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統具備 RTLC20 線性光學尺 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
程式設計和模擬
程式設計和模擬 主要特色 接觸觸發式、3 軸和 5 軸掃描 - MODUS 能以多種量測模式使用完整的 Renishaw 感測器系列產品。連續掃描路徑能支援全方位的特徵形狀分析。 靈活的工件程式設計 - 透過 CAD 資料離線開發程式，或使用 CMM 搖桿在「教導」模式下開發。 零學習曲線的計量專業知識 - 精靈內建量測最佳實務，能快速執行程式設計和特徵自動誤差還原邏輯。 工件對準 -...
Equator™ 檢具系統讓航太製造商 Senior Aerospace Weston 的產能得以提升
Senior Aerospace Weston 希望以更高的效率檢測關鍵航太結構零件，因此尋求 Renishaw 提供超越同級的 Equator™ 檢具系統。Equator 檢具縮短約 75% 的零件檢測時間，提供更全面的產品追溯性。
空氣軸承運動平台 – 高精度的代名詞
大家經常會在市場上看到精密設備標榜採用空氣軸承，到底什麼是空氣軸承呢？簡單來說，空氣軸承是一種使用空氣（或其它氣體）作為潤滑劑滑動、通過空氣氣膜到非接觸式支承作用的一種軸承。在眾多高端產業如半導體、面板、精加工等製程設備的運動平台都會經常看到空氣軸承的應用，平台上的滑座就像「坐」在氣膜上以懸浮的方式在平台上移動。這些平台為了達到整體性能的最大效益，一般都會配置線性馬達和光學尺。
R-CWT-1-1-20 - 含 0.94 吋軟頭柱和 1/4-20 螺紋的 1.23 吋彈簧線夾
此彈簧線夾非常適用於輕量夾緊小型工件。它能將接觸面積減到最小，並儘可能減少阻礙。它具備橡膠端頭，可固定工件而不會在表面留下痕跡。建議可於 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。#
A-8003-4475 - TB20 通用套件
TB20 正交觸發盒可用於遠端觸發 XL-80 雷射。此盒負責監控機器編碼器與控制器之間的位置回饋訊號，並將觸發訊號輸入 XL-80。這樣就可以將光學尺位置或移動量與 XL-80 資料擷取同步。TB20 主要用於如導螺桿或編碼器系統校正等應用項目。
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
Renishaw 為車削和複合加工應用推出更多堅固可靠的刀具設定解決方案系列
全球工程技術公司 Renishaw 將在 2019 年 EMO 漢諾威工具機大展推出新款 APCS-45 刀具設定測頭。新款 APCS-45 可針對今年稍早推出的 APCA-45 補足不足之處，其中採用不同的保護測針蓋機構，可安裝在控制選項有限的機器上。
光學尺定位系統 — 高端印刷設備不可或缺的部件
受惠噴墨頭技術的突破性發展，現今印刷設備的列印解析度 (有別於影像解析度) 已逐步趨向人類眼睛所能分辨的界限，列印速度也不斷被提升。坐落中國深圳的潤天智數位設備股份有限公司 (Flora Digital Printing System，以下簡稱潤天智)，多年來開發多款先進噴墨印刷設備，是中國業界少數技術能媲美國際水準的大尺寸噴墨印表設備生產商。他們的印刷設備採用 Renishaw RGH41...
A-1007-0154 - MCG，380 mm 單臂配件
Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間，或碰撞後定期監控三次元量床空間（根據 ISO 10360--2 標準）的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確，或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速，又符合經濟效益，一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長，以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...
A-1007-0155 - MCG，523 mm 單臂配件
Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間，或碰撞後定期監控三次元量床空間（根據 ISO 10360--2 標準）的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確，或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速，又符合經濟效益，一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長，以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...
化學
化學 Renishaw 的多功能拉曼系統，可量身打造配合您特定的化學分析需求。如果您的需求改變，也可以新增新功能。 成分及結構 您可使用拉曼光譜： 識別反應產物並判定其特性 監控反應 分析混合物並揭露域大小和分佈情形 研究化妝品業及其他領域的凝膠、乳液及殘留物 研究微流體系統中的微量物質 迅速提供資訊 迅速識別化學物質，並揭露其成分及結構。使用 SynchroScan 顯露所有主...
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤 什麼是 ATOM DX？ ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 的微型增量式光學尺，可直接從讀頭輸出數位訊號，並在其微型封裝內整合了所有位置回饋、板載細分和光學濾波功能。 利用選配的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View...
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM40 旋轉（角度）環
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM40 旋轉（角度）環 何謂 QUANTiC？ QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、良好計量功能、高速效能，且易於安裝和設定。安裝或進行現場診斷和偵錯時，使用選購的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View 軟體可存取診斷資訊。速度最高達 24...
電動及油電混合汽車零件製造受益於 Renishaw Equator™ 彈性檢具系統中深獲肯定的製程控制功能
您在 2019 年 EMO 漢諾威工具機大展造訪 Renishaw 攤位時，將可看見多部 Equator 系統量測一系列的電動車 (EV) 及油電混合車引擎與傳動元件。Equator 系統正「日以繼夜」於全球工廠量測相同零件。
汙染物
汙染物 我們隨時為您服務 若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用，請聯絡應用團隊。 聯絡應用團隊 相關報導 汙染物識別是最大的拉曼應用領域之一。世界各地的生產工場幾乎都深受汙染物所擾，而生產可能因此中止，導致成本上升。這項應用也延伸至物質及汙染物的環境及法規監控。 汙染物拉曼分析 拉曼光譜是識別汙染物並協助判斷其來源的實用技術。Renishaw 拉曼系統 提供您最詳實資料，協助迅...
TP200
TP200 TP200 系統元件，包括： TP200 或 TP200B 測頭本體（TP200B 是具有更高耐振容忍度的版本） TP200 測針模組 - 固定超行程力道選項：SF（標準觸發力）或 LF（低觸發力） PI 200-3 測頭介面 SCR200 測針交換架 另提供擁有與 SF 相同超行程力道，但能提供更大的操作範圍和測頭 Z 軸保護的 EO 模組（擴大超行程）。 特性和優點...
Renishaw 封閉式光學尺 在新型增減材複合工具機上大顯神通
為了協助 Effective CNC 設計和打造新型工具機，Renishaw 派 出多個專業技術團隊，在光學尺系統、工具機專用測頭量測系統 和刀具設計系統方面提供全方位支援
虛擬實境 (VR) 應用：Renishaw 編碼器的精度與重複性呈現出視覺科技之美
虛擬實境 (VR) 應用：Renishaw 編碼器的精度與重複性呈現出視覺科技之美 Power Plus 總監 Charles Wong 表示：「一方面，我們向客戶提供結合攝影機支撐解決方案的 Vinten 產品；另一方面，我們也在為利基客群開發新的配套產品。」 Charles 說明了 VR...
成功延長了水泵製造商的工具機使用壽命，更縮短了 10% 的意外停機時間
Renishaw 循圓測試儀系統是眾所皆知適合新工具機和現有工具機的預防性維護工具。作為 Aqua 集團的關係企業以及亞洲最大的水泵製造商之一， Aquasub Engineering 公司（位於印度哥印拜陀市）正藉由 Renishaw 循圓測試儀降低生產維護成本、提升產能並降低廢品率。
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
應用程式和產品訓練
應用程式和產品訓練 我們向所有客戶提供訓練課程，協助瞭解公司技術的系統及應用。 應用訓練 為了讓 Renishaw 積層製造發揮最高的投資效益，我們提供全方位的訓練計畫，可量身打造配合使用者的確切需求及經驗程度。 如需瞭解詳情，請聯絡積層製造團隊討論訓練選項，瞭解未來針對使用者舉辦的各項活動。 若想瞭解更多資訊或量身打造完全符合您需求的訓練套裝方案，請洽詢您當地的 Renishaw 辦事...
雷尼紹光學尺全面提昇鏡頭檢測穩定性和效率
雷尼紹光學尺全面提昇鏡頭檢測穩定性和效率 智慧型手機近年十分流行，根據統計，2013年全球智慧型手機出貨量巳超過10億台，預計2014年將達到12億台。 ...
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
藝術和文化遺產
藝術和文化遺產 Renishaw 的拉曼儀器已經調查過無數文物，包括都靈裏屍布、文蘭島地圖和夏卡爾繪畫作品。文物鑑定最重視的能力就是判斷年代和真實性。 卓越多功能特色 Renishaw 的拉曼系統可執行下列作業： 分析圖畫、濕壁畫、壁畫和掛毯上使用的顏料和漆料 識別手稿、卷軸、地圖和書籍上使用的墨水 調查文物上的寶石和礦物 判斷紙張、衣物和基材的組成物 分析墨水、顏料、漆料的化學...
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
MCU5
MCU5 改裝 深入瞭解您 CMM 的改裝選項 。 UCC 改裝 Renishaw 與多家領導業界的軟體公司和改裝商 建立技術合作夥伴關係，使用 Renishaw 的 UCC 控制器提供功能強大的 CMM 改裝解決方案。 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務，免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 與 Renishaw CMM...
Renishaw 新一代無線電測頭量測系統：提供豐富的數據資訊並延長最高四倍的電池壽命
跨國工程技術公司 Renishaw 推出新型無線電測頭量測系統。這套測頭量測系統將成為 Renishaw 眾多「智慧工廠」製程控制解決方案中的一部分。這些解決方案均經過市場驗證，可提升及改革諸多產業機加工產線的生產能力。 新一代無線電測頭量測系統採用具新版通訊協議的超緊湊型 RMI-QE 無線電接收器與 CNC 通訊，也是 Renishaw 針對領先業界的無線電測頭系列所做的重大更新。最新...
自動交換延長桿
自動交換延長桿 自動聯接延長桿的其中一端是 Renishaw 自動聯接頭的母接頭，延長桿的另一端則是測頭連接固定座。測頭座是自動聯接頭的公接頭，能快速手動或自動更換延長桿。 自動聯接延長桿適合搭配 ACR1 和 ACR3 測頭交換架使用，以便為多種測頭安裝模組提供自動更換功能。它可以是全工多訊號線式（所有 13 支針皆連接）或只具有 2 線。延長桿的測頭端可以是公自動聯接頭或 M8 螺...
校正詳解
校正詳解 瞭解各種校正產品如何運作及協助改善製程。 案例分析 探索我們的雷射校正及循圓測試儀技術如何在各種產業實現最佳效能。 閱讀深入見解以瞭解校正解決方案如何讓客戶從中獲益。 探索我們的個案研究 干涉量測法的詳解 雷射干涉量測法是確立已久的距離量測方法，具有很高的精度。瞭解雷射干涉量測法的基本知識，及其如何提供最準確及可重複的校正方法。 深入瞭解 如何使用循圓測試儀 循圓測試...
開放式光學尺
開放式光學尺 編碼器/光學尺技術 開放式光學尺 封閉式光學尺 磁性編碼器 雷射尺 尋找您的開放式光學尺解決方案 什麼是 Renishaw 開放式光學尺？ 光學尺是一種電機裝置，可製造與線性導軌的線性位移或與輸入軸的角度位置成正比的電子訊號輸出。 開放式光學尺為外暴、且未安裝外部整合機殼。開放式光學尺的優點在於可有效消除反向間隙、軸扭曲（扭轉）及其他機械遲滯誤差。 ...
FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺
FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺 您是否有客製化需求？ 我們具備 40 年以上的工具機量測和光學尺應用經驗，我們的工程師專家團隊可協助您處理您自己的獨特需求。 FORTiS-S 簡介 FORTiS-S 光學尺系列是新一代的線性封閉絕對式光學尺，適用於工具機等嚴苛環境。 多種創新設計功能可確保光學尺的長期使用壽命，以提供堅固、耐用、高效能的位置量測： 序列介面 技術規格 ...
適用於工具機的 QC20 循圓測試儀配件
適用於工具機的 QC20 循圓測試儀配件 在軸向行程受限的車床上，可能可以使用小循圓套件執行 50 mm 半徑測試。其關鍵在於執行測試前，要確保本項組態中的循圓測試儀具有餘隙。 工具機要求 X 軸餘隙： 距離中心線 ≥ 220 mm Y 軸餘隙： 距夾盤 ≥ 330 mm 主軸直徑： ø25（其他則需加裝磁性座） 刀柄夾 可以安裝 20 mm 或 25 mm 刀具柄 ...
旋轉光學尺
旋轉光學尺 旋轉光學尺又稱角度光學尺，具備位置回饋功能，藉此精密控制角度位置及旋轉運動。探索 Renishaw 精細刻度的圓盤及環形光學尺結合精巧的絕對式和增量式讀頭，如何提供卓越的位置測量效能。 選擇您的絕對式或增量式旋轉（角度）光學尺系統 我們提供一系列旋轉光學尺，適用於各種旋轉運動應用，包括不鏽鋼旋轉光學尺、玻璃光學尺及不鏽鋼圓盤光學尺。旋轉光學尺可利用機械方式或黏膠安裝至旋轉...
旋轉絕對式編碼器
探索 Renishaw 的旋轉絕對式光學尺系列
RESOLUTE™ 絕對式光學尺下載
RESOLUTE™ 絕對式光學尺下載 下載以下關於 RESOLUTE 絕對式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 規格資料表 安裝指南 白皮書 技術繪圖 使用者指南 REXA ultra-high accuracy absolute angle encoder Advanced Diagnostic Tool ADTa-100 BiSS® Safety for RESOLUTE™ and...
半導體
半導體 現代電子系統使用各式各樣的半導體材料。電晶體、太陽能電池、發光二極體等先進裝置無不將材料特性發揮到極致，因此需要極度均質的原料。拉曼光譜是研究半導體最理想的工具。 分析半導體特性 您可以使用拉曼分析所有半導體 (如矽、碳基、III-V's 和聚合物) 和超導體的特性，並產生其影像。可顯露各種資訊，包括： 化學成分 (如複合半導體的合金部分) 多型體 (如 4H-SiC 和...
報告和分析
報告和分析 CHART CHART help and training CHART software compatibility CHART hardware compatibility Form title MODUS™ 報告器功能 清晰、簡潔的圖形報告 具有可由使用者完全設定的標題、標籤、文字和影像。 多工件檢測 單一報告能提供完整的元件系列歷史紀錄，包括結果表和統計資料。...
工件測頭技術
工件測頭技術 改善我的製程連結 為什麼選擇測頭？ 何時使用測頭？ 測頭量測如何提供效益？ 效益計算器 應用案例研究和新聞 案例摘要 量測詞彙表 技術文獻 工件測頭技術 動態電阻測頭 動態電阻測頭採用桿和球的載簧動態安裝方式，以定位測針夾頭，提供出色的重複性。 電路具有電阻。隨著測針承受的外力增加，電阻也隨之增加，直到到達觸發閾值並產生觸發訊號為止。 功能 源於基礎動態電阻電氣開關的 1...