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適用於工具機的 QC20 循圓測試儀配件
適用於工具機的 QC20 循圓測試儀配件 歡迎探索我們各種適用於工具機測試的 QC20 循圓測試儀配件，不但可提升適應性，也能在任何設定情況下進行測試。 循圓測試儀主軸中心定位裝置 使用適合 ISO 10791-6 的 QC20 循圓測試儀 時，循圓測試儀主軸中心定位裝置可簡化設定要求。 這項裝置可透過主軸中心線協助 Z 軸杯型槽端緣對準中心，是此項測試的關鍵所在。 工具機要求...
A-2237-1301 - 搭配 SM25-1 使用的 SH25-1 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1302 - 搭配 SM25-2 使用的 SH25-2 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1304 - 搭配 SM25-4 使用的 SH25-4 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1703 - SM25-3 用 SH25-3A 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm – 400 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1704 - SM25-4 用 SH25-4A 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm – 400 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2521 - RSP3-1 用 RSH3-1 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2524 - RSP3-4 用 RSH3-4 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1303 - 搭配 SM25-3 使用的 SH25-3 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1305 - 搭配 SM25-5 使用的 SH25-5 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1702 - 搭配 SM25-2 使用的 SH25-2A 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2522 - RSP3-2 用 RSH3-2 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2523 - RSP3-3 用 RSH3-3 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
全面提升客製工具機的品質管控效率
智慧工廠的發展讓「客製化」不再僅限於加工零配件，市場對工具機的客製化需求同樣也與日俱增，而客製工具機無論對廠商的機械設計能力、製造能力和品質管控等方向都比標準機型有更高的要求。位於台灣中部的曙光機械有限公司（以下簡稱曙光機械）專營客製工具機，包括核心機型立式圓筒磨床、車床、銑床、磨床、自動化加工機等。他們完善使用 Renishaw 最新推出的 XK10 校準雷射系統，全面提升機台的精度和檢測...
針對工具機在組裝時進行快速檢測， HURCO 採用 XK10 校準雷射系統
台灣工具機產業一直以來都是憑藉彈性製造和出色的應變能力，擅於為客戶提供客製化方案著稱。配合成熟的板金加工體系，讓台灣具備高組裝效率和完整的零件供應鏈等優勢。一台工具機從零件加工、組裝到成型，每一道工序都必需做好品質控制才能確保工具機發揮最大的性能。如何提升檢測效率是各大廠商所面臨的挑戰。美國工具機生產商 HURCO 位於台灣的生產基地通過採用 Renishaw XK10 校準雷射系統，大幅提...
針對工具機在組裝時進行快速檢測， HURCO 採用 XK10 校準雷射系統
台灣工具機產業一直以來都是憑藉彈性製造和出色的應變能力，擅於為客戶提供客製化方案著稱。配合成熟的板金加工體系，讓台灣具備高組裝效率和完整的零件供應鏈等優勢。一台工具機從零件加工、組裝到成型，每一道工序都必需做好品質控制才能確保工具機發揮最大的性能。如何提升檢測效率是各大廠商所面臨的挑戰。美國工具機生產商 HURCO 位於台灣的生產基地通過採用 Renishaw XK10 校準雷射系統，大幅提...
3DHISTECH 顯微鏡現已採用 Renishaw 編碼器
第一台顯微鏡在 16 世紀問世，原理是利用光學系統放大樣本進行分析。這些系統利用自然光或聚光燈照亮樣本，讓操作人員可以空出手來繪圖。自此之後，螢光顯微鏡、電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡等各種顯微鏡紛紛誕生。
EasyProbe
EasyProbe EasyProbe title page 關於 EasyProbe 軟體 EasyProbe 可讓操作員在具備最少 G 碼編程知識的情況下，執行單一工作設定及組件量測作業。 EasyProbe 使用隨附的安裝公用程式，配合相容的 CNC...
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤 高效能 ATOM DX 系列編碼器是高效能編碼器，解析度最低可達 2.
運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空（UHV）光學尺提升穩定性
在工業界有不少製程需要在真空環境下進行，許多高精密產品在製造過程中也必需使用不同程度的真空技術，產品最後在大氣環境下使用。典型應用包括顯示面板中薄膜和基板之間的精密貼合製程、半導體製程中的薄膜濺鍍、晶圓檢測等等，任何相關的零組件都必須滿足真空環境的要求。 韓國運動平台製造商 VAD Instrument（以下簡稱 VAD）為了滿足其精密製程設備對真空規格的嚴格要求，採用 Renishaw ...
光學尺加速 PCB 阻抗驗證
電路載板的日趨微形化促使相關檢測設備的精確度需要不斷提昇，一般電路板的外觀，斷線，和短路等缺陷均透過自動視覺檢測 (AOI) 設備進行非接觸式檢測，而電路載板上線路的阻抗 (Impedance) 則需要透過專屬抗阻檢測設備，根據編程控制測頭準確落在檢測點採集數據。韓國運動控制方案供應商Sam-Jeong Automation多年來開發眾多客制化的半導體和面板相關制程設備和零部件，他們開發的載...
運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空（UHV）光學尺提升穩定性
在工業界有不少製程需要在真空環境下進行，許多高精密產品在製造過程中也必需使用不同程度的真空技術，產品最後在大氣環境下使用。典型應用包括顯示面板中薄膜和基板之間的精密貼合製程、半導體製程中的薄膜濺鍍、晶圓檢測等等，任何相關的零組件都必須滿足真空環境的要求。 韓國運動平台製造商 VAD Instrument（以下簡稱 VAD）為了滿足其精密製程設備對真空規格的嚴格要求，採用 Renishaw T...
SP600
SP600 AC1 PC 卡 AC1 PC 卡是一種 12 位元介面卡，能快速安裝並直接連接至標準測頭纜線。它能執行所有測頭管理功能，並與主機 PC 進行狀態資訊溝通。AC1 已由 AC2 取代。 特性和優點 最高至 300 mm/秒的高速掃描、快速點量測和高頻率回應 低測頭測定力能提供最大的應用彈性 極堅固的設計，能抵抗中度的碰撞 低購置成本及超過 50,000...
突破傳統檢測方法的雷射校正工具
雷射量測在現代工業製造的應用可說是越來越普及，對於如半導體、面板、太陽能這類精密製程設備更是必不可少。而千分錶、花崗石角尺、自動準直儀等傳統檢測工具，無論在精度、效率或是靈活性上，早已不能滿足當今市場的需求。在使用和成本控制層面上，廠商們更往往面臨不少挑戰，尤其是針對少量多樣、五花八門的專用設備更是如此。位於台灣台中市的專用設備製造商 — 上舜精密實業有限公司（以下簡稱上舜精密），採用了 R...
突破傳統檢測方法的雷射校正工具
雷射量測在現代工業製造的應用可說是越來越普及，對於如半導體、面板、太陽能這類精密製程設備更是必不可少。而千分錶、花崗石角尺、自動準直儀等傳統檢測工具，無論在精度、效率或是靈活性上，早已不能滿足當今市場的需求。在使用和成本控制層面上，廠商們更往往面臨不少挑戰，尤其是針對少量多樣、五花八門的專用設備更是如此。位於台灣台中市的專用設備製造商 — 上舜精密實業有限公司（以下簡稱上舜精密），採用了 R...
XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償
線紋尺（Line scale）一般是由玻璃基材製成並且在其表面 準確地刻有等間距平行線，通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上，作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器，測量解析度往往要求達到奈米級，微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所（SCL）設計並建立了一台全新的線紋尺量測系統...
XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償
線紋尺（ Line scale ）一般是由玻璃基材製成並且在其表面準確地刻有等間距平行線，通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上，作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器，測量解析度往往要求達到奈米級，微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所（ SCL ）設計並建立了一台全新的線紋尺量...
Renishaw 發表新款 XM-60 多光束校正儀
展示全新XM-60 多光束校正儀。XM-60 只需一次設定便能順著線性軸的任何方向，量測所有六個自由度。相較於傳統雷射量測技術，XM-60的操作更為簡易省時。
SPA2-2
SPA2-2 改裝 深入瞭解您 CMM 的改裝選項 。 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起，您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務，免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 SPA2-2 經最佳化設計，可搭配使用 UCC 系列 CMM 控制器及 MCU5-2 搖桿，共同組合成理想的改裝套件。 主要特色：...
SP25M
SP25M SP25M 在單一外殼中含有兩個感測器。使用者可在五種選擇好的掃描模組（能攜帶長度從 20 mm 至 400 mm 的 M3 測針），以及與 Renishaw 的 TP20 測頭模組系列產品相容的轉接器模組之間切換。本功能可在單一測頭系統中，提供掃描和接觸觸發式測頭量測。 SP25M 的輕巧尺寸和自動聯接固定方式，讓它能與 PH10M PLUS/PH10MQ...
ATOM™ 光學增量式光學尺系列
ATOM™ 光學增量式光學尺系列 線性 光學尺類型 光學尺名稱 精度 柵距 熱膨脹係數（20 °C 時） 供應長度 不鏽鋼捲尺 RTLF 20 µm：±5 µm/m 40 μm（高精度）：±5 µm/m40 µm：±15 µm/m 20 µm/40 µm ~10.
RESOLUTE™ 光學尺將射頻天線的定位精度和解析度提高百倍
Pacific Antenna Systems (PAS) 公司設計、加工和製造使用 1–110 Ghz 射頻 (RF) 的先進天線系統。這些天線系統的應用範圍包括高解析度雷達、用於視距和衛星 (SATCOM) 通訊的高速率資料通訊，以及用於對抗無人機 (UAS) 的高功率微波系統。
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤 適合空間受限應用的微型光學尺 ATOM DX 的最小尺寸為 20.
奴隸及人口販運
奴隸及人口販運 發佈本聲明是為了履行英國現代奴役法案（UK Modern Slavery Act 2015，以下簡稱「現代奴役法案」）第 6 編第 54 節所規定之義務。 現代奴役 Renishaw 致力於確保公司員工及所有供應鏈工作人員的人權都能受到保護。 聲明 存檔 Slavery and Human Trafficking Statement - Financial year...
RLD10 差分干涉儀
RLD10 差分干涉儀 差分檢測頭採用獨特的光學配置設計，以達到低 SDE 的目的。內置準直輔助鏡可在設定時進行偏擺角與前後傾角調整，改進準直流程（僅適用於平面鏡應用）。 RLD10-X3-DI...
掃描測頭
掃描測頭 掃描原理 掃描可快速擷取棱形或複雜元件的形態和輪廓資料。 當接觸觸發式測頭收集表面上的離散點時，掃描系統會擷取大量的表面資料，以提供更清晰的外形圖及工件的形狀。因此掃描十分適合特徵的外形，是整體誤差預算極重要因素的應用，或是必須檢測複雜表面的應用。 掃描需要完全不同的感測器設計、機器控制和資料分析方法。 Renishaw 掃描測頭具有新穎小巧的被動式機構（無馬達或鎖定機構），具...
後製程監控
後製程監控 Productive Process Pyramid™（金字塔生產製程解決方案）後製程監控層著重於監控並報告此類活動 — 即能夠提供已完成的製程的結果與路徑資訊的活動。這些資訊型控制可用於影響後續活動。 製程追蹤記錄 加工製程期間發生的事件，例如手動或自動變更製程參數、偏置或座標系統 對可能影響結果的製程所做的干預工作 機上量測評估能夠 在與金屬切削製程相同的環境條件下檢...
製程中監控
製程中監控 製程中量測能夠 使金屬切削調整配合加工製程中的變異因素，例如工件變形、刀具偏轉和熱漂移效應等 根據實際條件，更新座標系、參數、偏置及邏輯程式流程 破損刀具檢測可辨識 刀具是否存在 刀具位置 — 以確保未發生拉伸情形 刀具破損和/或斷刀 Productive Process Pyramid™（金字塔生產製程解決方案）製程中監控層的控制元素被嵌入金屬切削過程中。這些主動型控制...