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R-QLC-SMVRAVR200-300 - 適用於 Starrett 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-OGPSZFQ250M200 - 適用於 OGP 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。隨附：內...
R-QLC-OSZ-MAF-RS300 - 適用於 OGP 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
R-QLC-NIN-VMA2520 - 適用於 Nikon 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的左下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。隨附：內...
A-5504-0258 - EQJ-MCUlite-2 Equator™ 搖桿
MCUlite-2 搖桿可以在工作範圍內輕鬆地移動測頭。功能包括速度大小控制及 X、Y 或 Z 方向移動鎖定的能力。
藉由投資 5 軸三次元量床 (CMM) 和靈活的比對量測等技術，Apex 提高了量測和反應能力
受到宏觀經濟的劇烈變化所及，CMM 專家 Apex Metrology Ltd. (Apex) 對其服務和產品進行了一次戰略審查。客戶需求正迅速變化，而且越來越難以預測。零件的複雜性不斷提高，交貨週期不斷縮短，生產量也愈加不固定。透過採用 Renishaw 的 REVO® 5 軸 CMM 和 Equator™ 檢具系統，Apex 提高了自身的反應能力和前瞻性，以應對未來數年的要求。
R-QLC-ZO3-4-5-LR - 適用於 ZEISS 多感測器量測系統的 QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC)
Renishaw QuickLoad™ 快速定位 L 型夾具 (QLC) 經過特殊設計的安裝孔位置，能夠裝入影像與多感測器平台的右下角。每個 QLC 皆內建磁鐵，所以 Renishaw 的壓克力底板可以重複卡入精確位置，且裝載／拆卸皆快速輕鬆。嵌入壓克力底板的鋼銷與 QLC 內的磁鐵相對應。QLC 的鋸齒狀邊緣可直接安裝與固定工件，使用 Renishaw 夾具元件快速輕鬆地進行檢測。
A-5504-0255 - EQS - Equator™ 緊急停止按鈕
緊急停止按鈕是搖桿的另一替代選擇。它可以簡單地附加在 Equator 的前緣。
ATOM™光學尺在高端自動檢測設備上的應用
AOI 設備（自動光學檢測設備）在過去十多年被廣泛應用，以 PCB 電路板產業為例，現今電子產品設計精巧但功能強大，高密度電路板線路之間僅有數微米的距離。創立於台灣的 JET －捷智科技股份有限公司，多年來為業界提供先進自動光學檢測方案，他們最新開發用於 SMT (表面貼片技術) 生產線的 AOI 檢測設備採用 Renishaw ATOM 系列超微型光學尺，確保系統表現的穩定性。
inVia™ InSpect confocal Raman microscope
inVia™ InSpect confocal Raman microscope 本公司最暢銷的共軛焦拉曼顯微鏡，最適合用於鑑識實驗室進行微量分析。 全自動化 您可透過 Renishaw WiRE 軟體控制校準、校正及配置等一切作業。例如您只要按一下按鈕，就能迅速在樣品檢視及拉曼分析之間切換使用。 還想進一步瞭解更多資訊嗎？...
機上掃描 — 適應性加工
使用搭載 SPRINT™ 技術的 Renishaw OSP60 掃描測頭，可藉由Productivity+™ Adaptive Cut Toolkit 對由鑄件製成幫浦外殼等可變異的 2D 輪廓工件進行適應性加工。
A-5925-0200 - Equator™ 量規檢查儀套件
量規檢查儀套件可快速進行性能檢查，確保 Equator 的性能跟製造當日一樣好。
FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺
FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺 FORTiS-S 簡介 FORTiS-S 光學尺系列是新一代的線性封閉絕對式光學尺，適用於工具機等嚴苛環境。 多種創新設計功能可確保光學尺的長期使用壽命，以提供堅固、耐用、高效能的位置量測： 序列介面 量測標準 不鏽鋼鋼帶光學尺與單軌絕對式編碼 熱膨脹係數（20 °C 時） 10.
FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺
FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺 序列介面 說明 規格資料表 相容產品 BiSS® C Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠的定位穩定性之動態軸。 搭載 BiSS 技術的 FORTiS 光學尺相容於多種業界標準控制器、驅動器、DRO 和 PC 計數卡。...
TONiC™ 增量式編碼器系統搭配 REXM20 旋轉（角度）環
TONiC™ 增量式編碼器系統搭配 REXM20 旋轉（角度）環 量測標準 一體式超高精度不鏽鋼環 亦提供適用於局部旋轉應用的 REXT20 讀頭尺寸（長 x 寬 x 高） 35 mm x 13.
TONiC™ 增量式光學尺系統具備 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統具備 RTLC20 線性光學尺 TD（雙解析度）介面 可選擇雙解析度正交輸出。 介面選項適合需要高速運動的應用，結合更精密精度的運動。 為什麼選擇這種光學尺系統？ 量測標準 FASTRACK RTLC20：不鏽鋼光學捲尺與攜帶系統 RTLC20-S: 不鏽鋼光學捲尺與自黏背膠帶，可直接安裝在基材上，無須使用 FASTRACK 導軌 ...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環 介面選項 優點 外型輕巧環具有內徑大及容易整合的特性 超輕巧型編碼器讀頭具備動態訊號調節功能，能提高運動控制性能 高抗污能力 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。 量測標準 RESM20：一體式外型輕巧不鏽鋼環。提供具備錐面內徑的標準「A」截面或低慣性「B」截面環 亦提供適用於局部圓弧應用的...
葉片量測
葉片量測 工程設計 可由 SurfitBlade 處理資料，以製作出完整的 NURBS 表面，以供空氣動力和壓力分析等使用。 傳統葉片檢測方法受限於剖面數量。不過 REVO 的掃掠掃描技術和 Renishaw 的葉片工具套件 軟體，能夠精確快速地量測及評估整片葉片。 現在您能夠透過高精度的觸覺測頭量測資料，進行無限數量的剖面分析和完整表面分析。 為了起始葉片量測程序，MODUS Bla...
光學尺技術文件下載
光學尺技術文件下載 現在就聯繫我們的銷售團隊 請與 Renishaw 聯絡以取得更多資訊及與專家交流。 選擇 Renishaw 光學尺的 CE、RoHS 及 WEEE 工業標準證書。深入瞭解我們的 ISO 9001 品質保證系統。 工業標準證書 下載光學尺產品的安裝及使用指南。瞭解安裝 Renishaw 光學尺有多麼容易。 安裝指南 選擇各種選購的診斷工具。下載軟體用於光學尺...
R-MV-13-8 - M8 螺紋的 Ø13.0 mm × 25.0 mm V 型磁鐵
此 V 型磁鐵適合用於固定鐵製圓柱工件和管路。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-MV-25-8 - M8 螺紋的 Ø25.0 mm × 25.0 mm V 型磁鐵
此 V 型磁鐵適合用於固定鐵製圓柱工件和管路。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-MV-32-8 - M8 螺紋的 Ø32.0 mm × 25.0 mm V 型磁鐵
此 V 型磁鐵適合用於固定鐵製圓柱工件和管路。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
A-5504-2081 - Equator™ 測針儲存盒（單品）
保護盒配備專門設計的隔層，可用於安全與簡潔儲藏測針，空間最多可容納六種測針工具。
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD（雙解析度）介面提供可選擇的雙解析度輸出，也提供於寬幅列印應用的 DPI...
FORTiS-N™ FS 封閉絕對式光學尺
FORTiS-N™ FS 封閉絕對式光學尺 FORTiS-N FS 簡介 FORTiS-N FS 光學尺系列是新一代的線性封閉絕對式光學尺，具備精細截面，適用於工具機等嚴苛環境的空間受限應用。 多種創新設計功能可確保光學尺的長期使用壽命，以提供堅固、耐用、高效能的位置量測： 量測標準 不鏽鋼鋼帶光學尺與單軌絕對式編碼 熱膨脹係數（20 °C 時） 10.
R-APJ-8 - M8 螺紋可調式樞軸接頭
鋁製可調式樞軸接頭極適用將夾持組件定位於某個角度。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
FORTiS-S™ FS 封閉絕對式光學尺
FORTiS-S™ FS 封閉絕對式光學尺 您是否有客製化需求？ 我們具備 40 年以上的工具機量測和光學尺應用經驗，我們的工程師專家團隊可協助您處理您自己的獨特需求。 量測標準 不鏽鋼鋼帶光學尺與單軌絕對式編碼 熱膨脹係數（20 °C 時） 10.
R-M-25-8 - M8 螺紋的 Ø25.0 mm × 25.0 mm 磁性螺柱
此磁性螺柱非常適合用於固定鐵製工件，且極不易磨損。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-M-13-8 - M8 螺紋的 Ø12.7 mm × 25.0 mm 磁性螺柱
此磁性螺柱非常適合用於固定鐵製工件，且極不易磨損。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-M-19-8 - M8 螺紋的 Ø19.0 mm × 25.0 mm 磁性螺柱
此磁性螺柱非常適合用於固定鐵製工件，且極不易磨損。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 介面選項 優異的量測功能 TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。 TONiC 光學尺提供絕佳的 < ±0.
Equator™ 精準量測渦卷誤差
Equator™ 精準量測渦卷誤差 空調噪音大說到底是怎麼回事？ 空調使用一般是壓縮、散熱、節流、吸熱這四個周而復始的過程，達到降低蒸發器周圍空氣溫度的目的。空調壓縮過程就是壓縮機吸入蒸發器出口處低溫低壓的冷媒，把它壓縮成高溫高壓的氣體排出壓縮機。在這個過程中，主要由幾組固定渦卷和旋轉渦卷的高速相對旋轉產生高壓氣體，而渦卷的形狀誤差是渦卷式空調噪音的主要產生原因。這個問題的存在，困擾著空...
光學尺診斷工具
光學尺診斷工具 現在就聯繫我們的銷售團隊 請與 Renishaw 聯絡以取得更多資訊及與專家交流。 可協助處理 ATOM™ 增量式光學尺的棘手安裝與系統最佳化。 ATOM 診斷套件 可協助處理 TONiC™ 增量式光學尺的棘手安裝與系統最佳化。 TONiC 診斷套件 尋找適合您的診斷工具 若您在運動控制安裝作業遇到挑戰或困難，可選擇我們所提供的一系列選購診斷工具和套件，...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 優異的量測功能 TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。 TONiC 光學尺提供絕佳的 < ±0.
A-6088-0010 - Equator™ 按鈕介面 (EBI)
Equator 按鈕介面配備現場可用的簡易按鈕控制，省去使用滑鼠鍵盤的需求。EBI 可用於導覽 Equator Organiser 軟體介面、選擇量測參數、使用寸動鍵移動 Equator，以及輕鬆修復錯誤。
R-SA-6-8 - Ø25.4 mm × 25.0 mm 鋼製底部 M8 螺紋及頂部 M6 螺紋的螺柱轉接器
R-SA-6-8 Ø25.4 mm × 25.0 mm 鋼製底部 M8 螺紋及頂部 M6 螺紋的螺柱轉接器 本鋼製螺柱轉接器可用於將 M6 元件安裝在 M8 底板上。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-AJ-19-8 - M8 螺紋的 Ø19.0 mm 鋁製可調式千斤頂
這款鋁製可調式千斤頂可將工件固定在各種高度並鎖入定位。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-AJ-25-8 - M8 螺紋的 Ø25.4 mm 鋁製可調式千斤頂
這款鋁製可調式千斤頂可將工件固定在各種高度並鎖入定位。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-MP-13-8 - M8 螺紋的 Ø12.7 mm × 25.0 mm 磁性插銷螺柱
此磁性螺柱非常適合用於固定及定位鐵製工件，且極不易磨損。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-MP-19-8 - M8 螺紋的 Ø19.1 mm × 25.0 mm 磁性插銷螺柱
此磁性螺柱非常適合用於固定及定位鐵製工件，且極不易磨損。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 技術規格 優點 超高真空 (UHV) 光學捲尺方便耐用 攜帶型光學尺系統不論安裝或更換都非常迅速方便。 超輕巧型編碼器具備動態訊號調節功能，能提高運動控制性能 診斷套件 特性 讀頭尺寸：35 x 13.
R-PCV-507540-10-4 - M4 螺紋的 63.5 mm x 76.2 mm x 38.1 mm 立式底板
R-PCV-507540-10-4 M4 螺紋的 63.5 mm x 76.2 mm x 38.1 mm 立式底板 此立式底板極適用於垂直固定夾持工件。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-MV-25-6 - M6 螺紋的 Ø25.0 mm × 25.0 mm V 型磁鐵
此 V 型磁鐵適合用於固定鐵製圓柱工件和管路。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-MV-32-6 - M6 螺紋的 Ø32.0 mm × 25.0 mm V 型磁鐵
此 V 型磁鐵適合用於固定鐵製圓柱工件和管路。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-SR-2525-6 - M6 螺紋的 Ø25.4 mm x 25.0 mm 轉子螺柱
此轉子螺柱可用於固定工件與擋片或支撐件。建議可於 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
R-MV-13-6 - M6 螺紋的 Ø13.0 mm × 25.0 mm V 型磁鐵
此 V 型磁鐵適合用於固定鐵製圓柱工件和管路。建議在 CMM、Equator™ 檢具系統和影像與多感應機器上使用。
Renishaw FORTiS™ 光學尺提升精密五軸加工中心的性能表現
Renishaw FORTiS™ 光學尺提升精密五軸加工中心的性能表現 煜眾的銷售客戶群涵蓋了汽車、機械、航太及電梯等精密製造業。在開發精密工具機的過程中，運動控制技術的提升，尤其是高速、高穩定性和精確度的控制，成為煜眾面臨的主要挑戰之一。作為 CNC...
FORTiS™ 封閉式光學尺提升精密磨床整體性能
經過測試和評估，TGT 在新型刀具磨床系列中選用 Renishaw FORTiS™ 封閉式光學尺。FORTiS 光學尺系統具有安裝簡便等優異特性，可協助 TGT 提升機台性能。
R-RCS-25-8 - 25.4 mm x 25.0 mm 303 不鏽鋼支撐錐含 M8 螺紋
R-RCS-25-8 25.4 mm x 25.0 mm 303 不鏽鋼支撐錐含 M8 螺紋 此鋼製固定錐非常適用於固定或定位具有單一接觸點的工件。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。
R-RCS-75-20 - 1/4-20 螺紋的 Ø0.75 吋 × 0.75 吋 303 不鏽鋼製支撐錐
R-RCS-75-20 1/4-20 螺紋的 Ø0.75 吋 × 0.75 吋 303 不鏽鋼製支撐錐 此鋼製固定錐非常適用於固定或定位具有單一接觸點的工件。建議在 CMM 及 Equator™ 檢具系統上使用。