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Results found for SiGNUM™ software
Equator-X™ dual-method gauge for shop floor inspection
The Equator–X 500 dual-method gauging system brings high speed measurement to the shop floor with its unique dual measurement functionality, deploying both absolute and comparison inspection on a...
Equator™ 檢具案例分析
許多加工現場使用者認為，將 Equator 整合至生產製程中能大幅降低成本、產線自動化並能改善效率。
FORTiS™ 封閉式光學尺產品測試
Renishaw 在設計、製造及操作可在工具機等嚴苛環境中使用的量測產品方面，擁有數十年的豐富經驗。這些經驗啟發我們針對 FORTiS 封閉式線性光學尺範圍執行嚴苛的測試計畫，測試內容包含：振動、密封磨損、防護等級 (IP)、長時間在機器腔體中運作、鹽霧（霧）、耐化學性、墜落與衝擊。
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
R-QLPC-501818-50-20 - 1/4-20 QuickLoad™ 底板，0.50 吋 × 18.00 吋 × 18.00 吋
CMM 精密接地鋁製 QuickLoad™ 底板採用數個間隔 0.
R-QLPC-501212-50-20 - 1/4-20 QuickLoad™ 底板，0.50 吋 × 12.00 吋 × 12.00 吋
CMM 精密接地鋁製 QuickLoad™ 底板採用數個間隔 0.
檢具量測及檢測軟體訓練
檢具量測及檢測軟體訓練 Renishaw 提供標準及專業的 MODUS™ 計量軟體訓練課程，因應您的各種需求。 我們的訓練課程是以最佳實務及業界標準為基礎，協助您發展各種技巧，以便在作業、維護及應用中使用 MODUS 計量軟體。 其中結合實務作業和各種以理論為重的活動，適合所有學習型態。 模組化訓練可迅速提升您目前的專業程度。 基本、中級和應用專屬的訓練課程，可協助您在穩固基礎上打造專業...
Equator™ 檢具關鍵應用
Equator™ 檢具關鍵應用 工業範例 Equator 檢具系統獲得各家製造商使用，可檢測各式各樣的零件。請參閱以下的各項工業範例，瞭解 Equator 檢具如何用於檢測零件，以及其中達成的一般成果。
Blog post: Explaining the ATOM™ encoder’s advanced eccentricity measurement system
Renishaw’s ATOM encoder is a miniature incremental encoder that combines best-in-class performance with the benefits of advanced installation and set-up.
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTi-100 與 ADT View 軟體可提供全方位即時光學尺資料回饋，以執行更具挑戰性的安裝與現場診斷作業。尤其有助於光學尺隱藏於機器中的應用，其能夠以最短的停機時間進行即時診斷。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 讀頭刻線距離指示...
Renishaw Equator™ 檢具系統將 NIMS 金屬加工培訓的零件檢測時間大幅縮短 85%
Renishaw Equator™ 檢具系統將 NIMS 金屬加工培訓的零件檢測時間大幅縮短 85% 為使學生的技能水平達到製造業的現行標準，美國許多職業學校都將其培訓課程與美國國家金屬加工技能研究所 (National Institute of Metalworking Skills, NIMS) 的認證相結合。工程技術領域的跨國公司 Renishaw 專門為此客製開發了整套...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
ASTRiA™ inductive rotary absolute encoders
The ASTRiA inductive rotary absolute encoder delivers high-accuracy position measurement.
MODUS™ 機翼分析
MODUS™ 機翼分析 MODUS 葉片裝配功能可用來計算和報告葉片剖面輪廓和機翼特性。 機翼評估 MODUS 提供完備的機翼評估功能和圖形報告工具。可分析的特性包括： 最大厚度 前緣及後緣半徑、角度和厚度 扭角 弦長 形心 輪廓評估 MODUS 提供完備的輪廓分析和圖形報告工具。輪廓量測結果會與其他所有特徵量測報告完全整合，並以 PDF 格式產生。 MODUS 機翼分析 現在能...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）取得全面即時資料。然後透過簡單易用的 ADT View 軟體介面顯示這些資訊。儘管在大多數情況下，藉由光學尺內建的 LED 安裝指示燈就能夠完成系統安裝，但 ADT...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
inVia™ Raman microscope aids discovery of rare mineral in alpine plants
A team of scientists at the Sainsbury Laboratory Cambridge University (SLCU) have discovered a rare mineral in alpine plants.
Metal 3D printing pushes the boundaries in Moto2™ through defiant innovation
Race winning Moto2 team TransFIORmers is using cutting edge additive manufacturing (metal 3D printing) technology in an unconventional front suspension system to gain a significant competitive advantage.
Automotive transmission supplier Flexible Concepts guarantees process capability with Equator™ gauge
Automotive transmission supplier Flexible Concepts is using innovative engineering coupled with the Renishaw Equator gauge to guarantee its process capabilities and deliver a highly reliable service...
A-5926-0225 - EX2 接觸觸發式測頭延長桿，L 67.5 mm
67.5 mm 延長用於 Equator™ 上的 TP20。
A-5926-0221 - EX3 接觸觸發式測頭延長桿，L 100 mm
100 mm 延長用於 Equator™ 上的 TP20。
A-5926-0224 - EX1 接觸觸發式測頭延長桿，L 35 mm
35 mm 延長用於 Equator™ 上的 TP20。
Productivity+™ 掃描套件 - Adaptive Cut Toolkit（可調適切削工具套件）：仿形切削應用
本影片示範如何使用 Productivity+™ 掃描套件和 OSP60 SPRINT™ 掃描測頭執行極快且自動化的曲面 2D 輪廓件的仿形適應性切削操作。
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺 技術規格 何謂 ATOM？ ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。 ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
Thorlabs selects TONiC™ encoders for its motion stages after in-house testing
Thorlabs designs and manufactures a wide array of photonics equipment and selected Renishaw’s TONiC series to equip both the Thorlabs DDS600 600 mm long travel stage and the MLS203 microscope stage,...
TONiC™ optical encoders support the latest generation of CMMs from COORD-3
A continuous product development cycle, horizontal organisational structure and streamlined range of model sizes have made COORD-3 a global CMM brand.
inVia™ Raman microscope aids the development of the world's lightest mechanical watch
In January 2017, the world’s lightest mechanical chronograph watch was unveiled in Geneva, Switzerland, showcasing innovative composite development by using graphene.
Application note: Miniaturising innovation in the encoder business with the ATOM™ encoder
An introduction to the ATOM encoder series and its applications.
Automated mixture identification using Renishaw’s new Spectrum Search software module
Renishaw has introduced its new Spectrum Search software module, designed to automate the process of identifying components within a mixture.
RESOLUTE™ 光學尺聚焦大科學
RESOLUTE™ 光學尺聚焦大科學 View and share this video on YouTube 2021 年 7 月 IRELEC Alcen 是一家法國科技公司，總部位於格勒諾布爾 (Grenoble)，專為全球同步加速器設施製造光學機械和機器人等系統。 同步加速器（一種粒子加速器）是一種極其強大的 X 射線，可用於材料物理學、化學和分子生物學等領域的科學研究。英國...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺 什麼是 RTLA30 光學尺？ RTLA30 是一種外型輕巧不鏽鋼光學捲尺，具有 30 µm 刻距絕對式光學尺編碼。精度高達 ±5 µm/m，長度達 21 公尺。提供兩種安裝選擇，皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。 RTLA30 能與創新 FASTRACK™...
夾具
適用於三次元量床、影像量測系統及 Equator™ 檢具系統的模組化夾具系列。
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
FORTiS™ 封閉式光學尺防護等級 (IP) 測試
FORTiS™ 封閉式光學尺的防護等級為 IP64（搭配空氣過濾組使用時）： 通過了防護等級 IPX3 和 IPX4 的防水測試，以及防護等級 IP6X 的防塵測試 DuraSeal™ 密封條具有卓越的防水與防塵性能，可防止進水和效能下降
MODUS™ 點雲斷面器
MODUS™ 點雲斷面器 MODUS 點雲斷面器能透過 REVO 在之前所擷取的端部中心資料點雲，在任何平面上生成「表面式」剖面。 標稱剖面生成 必須從 CAD 模型為每個要評估的剖面，建立一個標稱曲線。MODUS 能藉由「新增切片」功能，為任何數目的剖面提供本功能。 表面剖面生成 MPCS 可以從 REVO 所收集的資料點雲生成剖面。剖面是在表面上而非端部中心，並消除資料配置過程中的...
VIONiC™ 光學增量式光學尺系列
VIONiC™ 光學增量式光學尺系列 VIONiC 光學尺系列是 Renishaw 最高效能的增量開放式光學尺。透過優異的量測效能、高操作速度和卓越的可靠性，可提供直接數位位置回饋。 您需要量測哪種形式的運動？ 主要優點 歡迎探索我們的開放式光學尺 系列，滿足您的工業自動化需求。 加強運動控制...
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺 何謂 QUANTiC？ QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、良好計量功能、高速效能，且易於安裝和設定。安裝或進行現場診斷和偵錯時，使用選購的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View 軟體可存取診斷資訊。速度最高達 24...
inLux™ SEM 拉曼介面
inLux™ SEM 拉曼介面 識別污染物 拉曼光譜是非接觸式的非破壞性技術，可提供高度明確的化學資訊，是識別污染物的理想選擇。拉曼光譜分析碳及有機污染物的能力特別強大，元素分析則難以區分這類污染物。SEM 可用於定位及研究小型污染物粒子的形態，克服光學顯微鏡無法解析這類粒子的問題。接著就可以直接鎖定這類粒子，使用 inLux 介面進行拉曼分析，無需移動樣品。...
用於工件驗證的 SPRINT™ 技術
此影片展示了在 Mazak INTEGREX 機台的環繞加工應用中，如何透過 SPRINT™ 技術進行工件驗證
機上掃描 — 3D 表面擷取
使用搭載 SPRINT™ 技術的 Renishaw OSP60 掃描測頭，可藉由Productivity+™ Freeform Surface Toolkit 和 Productivity+™ Blade Toolkit 量測葉片或葉盤等複雜的自由曲面。
全新RKLC光學尺開創嶄新的可能性
全球量測專家 Renishaw 日前推出全新的基材固定式RKLC光學尺，其底層基質的熱反應正是產品的設計亮點。RKLC光學尺是一款寬 6 mm 的不鏽鋼捲尺，堅實耐用，且厚度僅有 0.15 mm。RKLC相容於 Renishaw 的 VIONiC™、TONiC™ 和 QUANTiC™ 增量式光學編碼器系列。
Renishaw 絕對式光學尺搭配 BiSS® C 序列介面 - 相容產品
Renishaw 絕對式光學尺搭配 BiSS® C 序列介面 - 相容產品 Bernecker & Rainer B& R 30 年來在自動化及製程控制領域，一直是最大規模的國際私人企業。B& R 是能力出眾的合作夥伴，在全球擁有超過 1,850 名員工，並在 68 個國家建立銷售和支援網路。不論您身在世界何處，都能聯絡符合資格的...
BiSS® 序列介面支援
Renishaw 絕對式光學尺支援 BiSS®（單向）開放式序列介面。BiSS 為高速序列通訊協定，特別適合用於需要高加速能力、平順速度控制、優異雙向重複性及可靠位置穩定性的動態軸。另外還提供適用於 RESOLUTE™、EVOLUTE™ 及 FORTiS™ 絕對式光學尺的專有序列介面選項。
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺 序列介面 說明 相容產品 BiSS C Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS...