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Results found for renishaw
A-2237-1703 - SM25-3 用 SH25-3A 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm – 400 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1704 - SM25-4 用 SH25-4A 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm – 400 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2521 - RSP3-1 用 RSH3-1 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2524 - RSP3-4 用 RSH3-4 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1303 - SM25-3 用 SH25-3 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1305 - SM25-5 用 SH25-5 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-2237-1702 - SM25-2 用 SH25-2A 測針固定座
SH25 測針固定座系列可藉由 20 mm - 400 mm 的有效測針長度範圍，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 SM25 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測頭固定座僅適用於其各自的掃描模組。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2522 - RSP3-2 用 RSH3-2 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
A-3061-2523 - RSP3-3 用 RSH3-3 測針固定座套件
RSH3 測針固定座系列可藉由 20 mm – 394 mm 的有效測針長度，達到精準的掃描量測。此系列具備動態聯軸器，可連接其各自的 RSP3 掃描模組，以便反覆進行連接，省去在交換後重新鑑定測頭的需求。測針固定座僅適用於其各自的 RSP3 測頭。應搭配 Renishaws M3 測針系列。
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺 序列介面 說明 相容產品 BiSS C Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS...
製程的根基
Productive Process Pyramid™（金字塔生產製程解決方案）製程的根基層控制可最大化改善加工環境的穩定性和執行製程的機器的效能。這些預防型控制可降低因特殊原因而出現的不確定因素機率，這種不確定因素通常會影響加工製程。
高效製程模式
高效製程模式 Renishaw Productive Process Pyramid™（金字塔生產製程解決方案），提供了一套以創新技術、業界認同的量測方法及專業的服務能力為後盾的整合式架構，幫助您識別製程中的不確定因素的來源，並予以有效控制。 高效製程模式 (AP304) Productive Process Pattern: Tool condition monitoring...
量測光學鏡組
量測光學鏡組 平坦度量測套件 平面鏡不僅可水平旋轉，還可以傾斜，以實現雷射光束的水平和垂直調整。 附註：平坦度量測尚需要有角度光學鏡組才能執行。 每個平坦度量測套件包含： 2 個平面鏡 1 個 50 mm 平面底座 1 個 100 mm 平面底座 1 個 150 mm 平面底座 零件編號：A-8003-0442 垂直度量測光學鏡組...
inVia™ InSpect 共軛焦拉曼顯微鏡
inVia™ InSpect 共軛焦拉曼顯微鏡 本公司最暢銷的共軛焦拉曼顯微鏡，最適合用於鑑識實驗室進行微量分析。 ...
ATOM™微形光學尺系統在面板製造業的應用
TPC Motion (以下簡稱TPC) - 韓國知名運動控制元件生產商開發的光學間隙平臺(Optical Slit).
干涉儀系統的運作方式？
干涉儀系統的運作方式？ 干涉量測法如何運作？ 簡介 第一位贏得諾貝爾科學獎的美國人 Albert Abraham Michelson，於 1887 年發明的 Michelson 干涉儀，是干涉量測法最常見的工具。他利用鏡子和半透明鏡子（分光鏡）合併來自相同光源的不同光束。雷射干涉量測法是確立已久的距離量測方法，具有很高的精度。 基本原理 通常是以 Michelson 干涉儀將一...
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺 選配的進階診斷工具 ADTi-100 何謂 RKLF 光學尺？ RKLF 是外型精細輕巧的不鏽鋼鋼帶光學尺，擁有 20 µm 和 40 µm 的刻距增量刻度，且客戶可自行選擇參考原點。精度高達 ±5 µm/m，長度達 10 公尺（可依要求大於 10 m）。RKLF...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ 光學絕對式光學尺系列
RESOLUTE™ 光學絕對式光學尺系列 請觀看 RESOLUTE 絕對式光學尺簡介 選配的進階診斷工具 ADTa-100 RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體...
TONiC™ 光學增量式光學尺系列
TONiC™ 光學增量式光學尺系列 主要優點 ADTpro-100 是一款獨立式掌上型光學尺診斷工具，內建彩色觸控螢幕，可協助系統設定及規劃維護作業，盡可能減少機器意外停機。ADTpro-100： 無需使用電腦或額外的設定設備，即可顯示全面且即時的光學尺資訊。 簡易直覺的操作方式搭配隨插即用功能，有助於系統設定及校正。 可透過介面連接選配的...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺 何謂 QUANTiC？ QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、良好計量功能、高速效能，且易於安裝和設定。安裝或進行現場診斷和偵錯時，使用選購的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View 軟體可存取診斷資訊。速度最高達 24...
刀具設定系統和破損刀具檢測器
刀具設定系統和破損刀具檢測器 歡迎探索我們專為 2 軸及 3 軸 CNC 工具機設計、用於量測刀具及工件的高精度設定臂。 刀具設定臂 進一步了解我們的高速非接觸式雷射破損刀具檢測系統。適合循環時間至關重要的應用。 破損刀具檢測系統 ...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺 什麼是 RTLA30 光學尺？ RTLA30 是一種外型輕巧不鏽鋼光學捲尺，具有 30 µm 刻距絕對式光學尺編碼。精度高達 ±5 µm/m，長度達 21 公尺。提供兩種安裝選擇，皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。 RTLA30 能與創新 FASTRACK™...
要成功加工純機械切削零件，需要具備哪些條件？
要成功加工純機械切削零件，需要具備哪些條件？ R& D Manco 公司總裁 John Bloom 和總經理 Kevin Beach...
inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡
inVia™ 共軛焦拉曼顯微鏡 inVia™ InSpect 我們讓公司最暢銷的拉曼顯微鏡達到最高水準，以便用於鑑識實驗室。inVia InSpect 顯微鏡提供您所需的工具，進行非破壞性化學分析。 inVia InSpect 客製化拉曼解決方案 我們經驗豐富的特別產品團隊，可開發符合您特定需求的客製化解決方案。 ...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺。RESOLUTE 是全球第一個絕對式編碼器，在線性系統應用中，提供高達 100 m/s 的速度和 1 nm 的解析度，在旋轉系統應用中提供高達 36,000 rev/min 的速度和 32 位元解析度。
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ 真正絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺。RESOLUTE 是全球第一個絕對式編碼器，在線性系統應用中，提供高達 100 m/s 的速度和 1 nm 的解析度，在旋轉系統應用中提供高達 36,000 rev/min 的速度和 32 位元解析度。
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTa‑100 可由 RESOLUTE™ 光學尺讀頭（以 ADT 符號標記）取得全面即時資料。然後透過簡單易用的 ADT View 軟體介面顯示這些資訊。儘管在大多數情況下，藉由光學尺內建的 LED 安裝指示燈就能夠完成系統安裝，但 ADT...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
EVOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RTLA50 線性光學尺
探索真正絕對式 EVOLUTE™ 光學尺：採用 RESOLUTE™ 光學尺系列的業界領先技術，提供充裕的安裝公差、更優異的抗汙能力和多功能量測效能。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動，適合用於各種運動控制的應用。
Gear inspection is 30 times faster with form measurement
Meltham Mills Engineering (MME) now takes only eight minutes to inspect every critical feature on a typical gear component, compared to four hours previously – 30 times faster.
Thorlabs selects TONiC™ encoders for its motion stages after in-house testing
Thorlabs designs and manufactures a wide array of photonics equipment and selected Renishaw’s TONiC series to equip both the Thorlabs DDS600 600 mm long travel stage and the MLS203 microscope stage,...
Scodix chooses TONiC™ encoders for its Ultra™ series of digital enhancement printing presses
Renishaw’s TONiC encoder has provided Scodix, a leading provider of digital print enhancement presses for the graphic arts industry, with an off-the-shelf solution to enable automatic feedback...
Raman Revealed registration
Register for Renishaw’s Raman Revealed training workshops
Accommodation and travel
Where to stay when attending Renishaw’s Raman Revealed training workshops
neuroinspire™ software
neuro | inspire™ - Renishaws neurosurgical planning software package
Raman Revealed overview
An overview of Renishaw’s Raman Revealed training workshops
Raman Revealed registration
Register for Renishaw’s Raman Revealed training workshops
UKCA Declaration of conformity - Calibration products
UKCA declarations of conformity for Renishaw's calibration products.