Filter by
Results found for renishaw
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤 高效能 ATOM DX 系列編碼器是高效能編碼器,解析度最低可達 2.
運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空(UHV)光學尺提升穩定性
在工業界有不少製程需要在真空環境下進行,許多高精密產品在製造過程中也必需使用不同程度的真空技術,產品最後在大氣環境下使用。典型應用包括顯示面板中薄膜和基板之間的精密貼合製程、半導體製程中的薄膜濺鍍、晶圓檢測等等,任何相關的零組件都必須滿足真空環境的要求。 韓國運動平台製造商 VAD Instrument(以下簡稱 VAD)為了滿足其精密製程設備對真空規格的嚴格要求,採用 Renishaw ...
光學尺加速 PCB 阻抗驗證
電路載板的日趨微形化促使相關檢測設備的精確度需要不斷提昇,一般電路板的外觀,斷線,和短路等缺陷均透過自動視覺檢測 (AOI) 設備進行非接觸式檢測,而電路載板上線路的阻抗 (Impedance) 則需要透過專屬抗阻檢測設備,根據編程控制測頭準確落在檢測點採集數據。韓國運動控制方案供應商Sam-Jeong Automation多年來開發眾多客制化的半導體和面板相關制程設備和零部件,他們開發的載...
運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空(UHV)光學尺提升穩定性
在工業界有不少製程需要在真空環境下進行,許多高精密產品在製造過程中也必需使用不同程度的真空技術,產品最後在大氣環境下使用。典型應用包括顯示面板中薄膜和基板之間的精密貼合製程、半導體製程中的薄膜濺鍍、晶圓檢測等等,任何相關的零組件都必須滿足真空環境的要求。 韓國運動平台製造商 VAD Instrument(以下簡稱 VAD)為了滿足其精密製程設備對真空規格的嚴格要求,採用 Renishaw T...
SP600
SP600 AC1 PC 卡 AC1 PC 卡是一種 12 位元介面卡,能快速安裝並直接連接至標準測頭纜線。它能執行所有測頭管理功能,並與主機 PC 進行狀態資訊溝通。AC1 已由 AC2 取代。 特性和優點 最高至 300 mm/秒的高速掃描、快速點量測和高頻率回應 低測頭測定力能提供最大的應用彈性 極堅固的設計,能抵抗中度的碰撞 低購置成本及超過 50,000...
突破傳統檢測方法的雷射校正工具
雷射量測在現代工業製造的應用可說是越來越普及,對於如半導體、面板、太陽能這類精密製程設備更是必不可少。而千分錶、花崗石角尺、自動準直儀等傳統檢測工具,無論在精度、效率或是靈活性上,早已不能滿足當今市場的需求。在使用和成本控制層面上,廠商們更往往面臨不少挑戰,尤其是針對少量多樣、五花八門的專用設備更是如此。位於台灣台中市的專用設備製造商 — 上舜精密實業有限公司(以下簡稱上舜精密),採用了 R...
突破傳統檢測方法的雷射校正工具
雷射量測在現代工業製造的應用可說是越來越普及,對於如半導體、面板、太陽能這類精密製程設備更是必不可少。而千分錶、花崗石角尺、自動準直儀等傳統檢測工具,無論在精度、效率或是靈活性上,早已不能滿足當今市場的需求。在使用和成本控制層面上,廠商們更往往面臨不少挑戰,尤其是針對少量多樣、五花八門的專用設備更是如此。位於台灣台中市的專用設備製造商 — 上舜精密實業有限公司(以下簡稱上舜精密),採用了 R...
XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償
線紋尺(Line scale)一般是由玻璃基材製成並且在其表面 準確地刻有等間距平行線,通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上,作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器,測量解析度往往要求達到奈米級,微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所(SCL)設計並建立了一台全新的線紋尺量測系統...
XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償
線紋尺( Line scale )一般是由玻璃基材製成並且在其表面準確地刻有等間距平行線,通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上,作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器,測量解析度往往要求達到奈米級,微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所( SCL )設計並建立了一台全新的線紋尺量...
SPA2-2
SPA2-2 改裝 深入瞭解您 CMM 的改裝選項 。 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起,您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務,免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 SPA2-2 經最佳化設計,可搭配使用 UCC 系列 CMM 控制器及 MCU5-2 搖桿,共同組合成理想的改裝套件。 主要特色:...
SP25M
SP25M SP25M 在單一外殼中含有兩個感測器。使用者可在五種選擇好的掃描模組(能攜帶長度從 20 mm 至 400 mm 的 M3 測針),以及與 Renishaw 的 TP20 測頭模組系列產品相容的轉接器模組之間切換。本功能可在單一測頭系統中,提供掃描和接觸觸發式測頭量測。 SP25M 的輕巧尺寸和自動聯接固定方式,讓它能與 PH10M PLUS/PH10MQ...
ATOM™ 光學增量式光學尺系列
ATOM™ 光學增量式光學尺系列 線性 光學尺類型 光學尺名稱 精度 柵距 熱膨脹係數(20 °C 時) 供應長度 不鏽鋼捲尺 RTLF 20 µm:±5 µm/m 40 μm(高精度):±5 µm/m40 µm:±15 µm/m 20 µm/40 µm ~10.
RESOLUTE™ 光學尺將射頻天線的定位精度和解析度提高百倍
Pacific Antenna Systems (PAS) 公司設計、加工和製造使用 1–110 Ghz 射頻 (RF) 的先進天線系統。這些天線系統的應用範圍包括高解析度雷達、用於視距和衛星 (SATCOM) 通訊的高速率資料通訊,以及用於對抗無人機 (UAS) 的高功率微波系統。
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤
ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤 適合空間受限應用的微型光學尺 ATOM DX 的最小尺寸為 20.
SPRINT™ 系統採用 SupaScan - Renishaw 新型機上型接觸式掃描技術
新型 SPRINT 系統採用 SupaScan 技術,可輕鬆整合至需要快速設定工件,重視整體循環時間的工具機應用,將掃描技術的各項優點帶入大眾市場。系統也能執行進階掃描功能,例如監控元件表面的最終狀況。
奴隸及人口販運
奴隸及人口販運 發佈本聲明是為了履行英國現代奴役法案(UK Modern Slavery Act 2015,以下簡稱「現代奴役法案」)第 6 編第 54 節所規定之義務。 現代奴役 Renishaw 致力於確保公司員工及所有供應鏈工作人員的人權都能受到保護。 聲明 存檔 Slavery and Human Trafficking Statement - Financial year...
RLD10 差分干涉儀
RLD10 差分干涉儀 差分檢測頭採用獨特的光學配置設計,以達到低 SDE 的目的。內置準直輔助鏡可在設定時進行偏擺角與前後傾角調整,改進準直流程(僅適用於平面鏡應用)。 RLD10-X3-DI...
掃描測頭
掃描測頭 掃描原理 掃描可快速擷取棱形或複雜元件的形態和輪廓資料。 當接觸觸發式測頭收集表面上的離散點時,掃描系統會擷取大量的表面資料,以提供更清晰的外形圖及工件的形狀。因此掃描十分適合特徵的外形,是整體誤差預算極重要因素的應用,或是必須檢測複雜表面的應用。 掃描需要完全不同的感測器設計、機器控制和資料分析方法。 Renishaw 掃描測頭具有新穎小巧的被動式機構(無馬達或鎖定機構),具...
後製程監控
後製程監控 Productive Process Pyramid™(金字塔生產製程解決方案)後製程監控層著重於監控並報告此類活動 — 即能夠提供已完成的製程的結果與路徑資訊的活動。這些資訊型控制可用於影響後續活動。 製程追蹤記錄 加工製程期間發生的事件,例如手動或自動變更製程參數、偏置或座標系統 對可能影響結果的製程所做的干預工作 機上量測評估能夠 在與金屬切削製程相同的環境條件下檢...
製程中監控
製程中監控 製程中量測能夠 使金屬切削調整配合加工製程中的變異因素,例如工件變形、刀具偏轉和熱漂移效應等 根據實際條件,更新座標系、參數、偏置及邏輯程式流程 破損刀具檢測可辨識 刀具是否存在 刀具位置 — 以確保未發生拉伸情形 刀具破損和/或斷刀 Productive Process Pyramid™(金字塔生產製程解決方案)製程中監控層的控制元素被嵌入金屬切削過程中。這些主動型控制...
Revolution in ceramic tile printing signals renewed demand for encoders
Revolution in ceramic tile printing signals renewed demand for encoders 最終,半色調圖像的品質須取決於其空間解析度、灰階解析度,以及低頻瑕疵的存在程度。多個半色調點組成一個半色調單元,根據單元中的半色調點的大小尺寸和密度的不用,便會在人眼中呈現顏色的不同陰影。目前用於瓷磚印花的單程噴墨繪圖機使用約 8 至 10...
標準精度工具機接觸式測頭
標準精度工具機接觸式測頭 達到最長的加工時間 花時間進行手動工件設定及檢測,就代表浪費了寶貴的加工時間。自動測頭量測可協助您加速工件設定時間,並簡化製程中檢測作業。 我們的標準精度接觸式測頭採用動態設計,50 多年來通過重重考驗。其中的機構可達到 1.
開發智慧型製造設備,不可或缺的精密回饋系統
踏入智慧型製造的年代,工業界對精密自動化設備的需求達到前所未有的高峰,同時也帶動了運動控制相關零部件的市場需求。 滑軌,軸承,機械平台,驅動器或是控制器等都是一台設備不可或缺的部件。設備開發商在採購時不再單單著重零件的規格,更多的考量它的整合性是否滿足系統的整體設計。建基台灣的直得科技股份有限公司(以下簡稱cpc)的導軌產品在市場上早已得到業界的高度認可,近年大量投放資源在運動控制相關開發項...
KOVERY 專利開發的線性馬達,磁鐵以直立形式排列
線性馬達問世以來一直都是高精度的代名詞,是精密設備必不可少的零組件。隨著近年來工業製程對精度要求的不斷提升,線性馬達廣泛被應用在各大工業領域,包括平板顯示器 (FPD)、半導體、自動化、醫療以及工具機等。科技的進步大幅降低了線性馬達以往昂貴的價格,同時也進一步優化了整體性能。韓國直驅馬達製造商 KOVERY CO.
改良積層製造作業流程
積層製造 (AM,也就是「3D 列印」技術) 為產品設計所帶來的突破,可說是推動頂尖產品創新的重要推手。作為數位製造革新的重要一環,積層製造不僅大幅簡化了複雜零件的生產過程,同時還提升了性能、減輕零件重量,也減少組件數量。然而,若要充分利用積層製造的獨特優勢,輔助軟體工具的效能也必須提升,才能滿足因應積層製造設計 (DfAM) 規則與指南而生的新要求。達梭系統 (Dassault Systè...
絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用
模切是產品加工中一個不可或缺的工序,我們日常接觸到各式各樣的包裝盒、電子產品輔件、汽車配件等很多產品都是使用模切作批量生產。模切中所使用的刀模可說是至關重要。一個不良的刀模可影響數以萬計成品的品質,因此刀模製造設備的穩定性尤其重要。位於中國深圳的和興雷射刀模廠有限公司,是國內規模最大的刀模及設備製造商,近年來致力於開發針對刀模製造行業應用的各種機械設備,如高端水切割和雷射切割設備等,在這些設...
絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用
模切是產品加工中一個不可或缺的工序,我們日常接觸到各式各樣的包裝盒、電子產品輔件、汽車配件等很多產品都是使用模切作批量生產。模切中所使用的刀模可說是至關重要。一個不良的刀模可影響數以萬計成品的品質,因此刀模製造設備的穩定性尤其重要。位於中國深圳的和興雷射刀模廠有限公司,是國內規模最大的刀模及設備製造商,近年來致力於開發針對刀模製造行業應用的各種機械設備,如高端水切割和雷射切割設備等,在這些設...
Virsa™ Raman analyser
Virsa™ Raman analyser 功能 高效能可攜式光纖結合拉曼系統 高空間解析度 x/y < 1 µm、z < 2 µm 即時白光樣品檢視提供準確的樣品鎖定 電動 x/y/z 軸系統,能夠讓物鏡準確定位,適用於單點或對應用途 可搭配使用物鏡鏡頭朝向下方或水平方向 特性 標準 選配 激磁波長 - 532 nm | 660 nm | 785 nm...
FORTiS™ 封閉絕對式光學尺下載
FORTiS™ 封閉絕對式光學尺下載 下載以下關於 FORTiS 封閉式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 技術繪圖 現在就聯繫我們的銷售團隊 請與 Renishaw 聯絡以取得更多資訊及與專家交流。 歡迎探索我們一系列電感型、開放式、封閉式、磁性和雷射光學尺 ,滿足您的工業自動化需求。 規格資料表 安裝指南 使用者指南 FORTiS-S 光學尺 FORTiS-N...
Renishaw FORTiS™ 光學尺提升精密五軸加工中心的性能表現
FORTiS 光學尺採用調諧品質減振技術,將大幅提高生產品質
Renishaw XM-60 多光束校正儀 大幅提高空間誤差量測效率
在量測空間精度相關誤差時需要考慮諸多因素,而量測這有誤差需要花費很長時間。量測空間精度方面,以追蹤量測系統為例,隨著機器尺寸增大,量測所需時間將呈平方級的增加。
現代精密測控的關鍵
受惠人工智慧、5G 和物聯網等新技術的迅速發展,半導體的需求近年不斷擴大,設備商也紛紛加大投入開發新機型以應對精密先進製程的嚴苛挑戰。半導體製造核心設備包括光刻機雙工件台、晶圓級鍵合設備、雷射退火先進設備和 EFEM 等 … 設計精密,無論對核心零件的規格或是測控穩定性都有極嚴謹的要求。這個領域多年來被歐美日廠商壟斷,鮮有中國廠商有能力涉足其中。北京華卓精科科技股份有限公司(以下簡稱華卓精科...
進階循圓測試儀培訓能達到「優於全新」的工具機精度
對於需接觸許多工具機的人員,就像任職於美國俄亥俄州伊頓的 Silfex 公司職員 Wayne Ross 和 Jacob Hebbeler 一樣,使用循圓測試儀進行測試並不算是新嘗試。過去十年多來他們兩人皆以循圓測試儀分析、維護並加強廠內 50 部以上機台的精度。經驗豐富的循圓測試儀使用者在培]訓上仍可學到應用新技巧。為業務帶來效益,而這些新技巧可轉為一門生意。
Renishaw Equator™ 300 檢具系統加速新冠病毒檢測試劑盒的生產
在全球面對新冠肺炎疫情 (COVID-19) 的挑戰中,快速將新冠病毒檢測試劑盒完成並出貨是致勝的 關鍵。為達到塑膠試劑盒零組件的大規模生產,量測環節絕不能成為掣肘整個生產流程的瓶頸。受客戶委託,來自愛爾蘭的 Verus Metrology Partners (Verus) 公司開發出可提升量測效率的全新解決方案,實現了量測速度與生產速度兼顧的雙贏。