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ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤

ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤

ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 RCDM 旋轉(角度)盤 高效能 ATOM DX 系列編碼器是高效能編碼器,解析度最低可達 2.

運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空(UHV)光學尺提升穩定性

運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空(UHV)光學尺提升穩定性

在工業界有不少製程需要在真空環境下進行,許多高精密產品在製造過程中也必需使用不同程度的真空技術,產品最後在大氣環境下使用。典型應用包括顯示面板中薄膜和基板之間的精密貼合製程、半導體製程中的薄膜濺鍍、晶圓檢測等等,任何相關的零組件都必須滿足真空環境的要求。 韓國運動平台製造商 VAD Instrument(以下簡稱 VAD)為了滿足其精密製程設備對真空規格的嚴格要求,採用 Renishaw ...

光學尺加速 PCB 阻抗驗證

光學尺加速 PCB 阻抗驗證

電路載板的日趨微形化促使相關檢測設備的精確度需要不斷提昇,一般電路板的外觀,斷線,和短路等缺陷均透過自動視覺檢測 (AOI) 設備進行非接觸式檢測,而電路載板上線路的阻抗 (Impedance) 則需要透過專屬抗阻檢測設備,根據編程控制測頭準確落在檢測點採集數據。韓國運動控制方案供應商Sam-Jeong Automation多年來開發眾多客制化的半導體和面板相關制程設備和零部件,他們開發的載...

運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空(UHV)光學尺提升穩定性

運動平台在真空環境中的應用 藉由超高真空(UHV)光學尺提升穩定性

在工業界有不少製程需要在真空環境下進行,許多高精密產品在製造過程中也必需使用不同程度的真空技術,產品最後在大氣環境下使用。典型應用包括顯示面板中薄膜和基板之間的精密貼合製程、半導體製程中的薄膜濺鍍、晶圓檢測等等,任何相關的零組件都必須滿足真空環境的要求。 韓國運動平台製造商 VAD Instrument(以下簡稱 VAD)為了滿足其精密製程設備對真空規格的嚴格要求,採用 Renishaw T...

KES Machine 憑藉 Renishaw 多光束校正儀提升客戶服務水準

KES Machine 憑藉 Renishaw 多光束校正儀提升客戶服務水準

Renishaw 獨創的「刀具辨別系統」 可輕鬆檢測破損刀具

Renishaw 獨創的「刀具辨別系統」 可輕鬆檢測破損刀具

在線上觀看 Renishaw 拉曼光譜 inLux 網路研討會或示範

在線上觀看 Renishaw 拉曼光譜 inLux 網路研討會或示範

以雙手拿著平板電腦展示 Renishaw 光學尺安裝指南

以雙手拿著平板電腦展示 Renishaw 光學尺安裝指南

SP600

SP600

SP600 AC1 PC 卡 AC1 PC 卡是一種 12 位元介面卡,能快速安裝並直接連接至標準測頭纜線。它能執行所有測頭管理功能,並與主機 PC 進行狀態資訊溝通。AC1 已由 AC2 取代。 特性和優點 最高至 300 mm/秒的高速掃描、快速點量測和高頻率回應 低測頭測定力能提供最大的應用彈性 極堅固的設計,能抵抗中度的碰撞 低購置成本及超過 50,000...

突破傳統檢測方法的雷射校正工具

突破傳統檢測方法的雷射校正工具

雷射量測在現代工業製造的應用可說是越來越普及,對於如半導體、面板、太陽能這類精密製程設備更是必不可少。而千分錶、花崗石角尺、自動準直儀等傳統檢測工具,無論在精度、效率或是靈活性上,早已不能滿足當今市場的需求。在使用和成本控制層面上,廠商們更往往面臨不少挑戰,尤其是針對少量多樣、五花八門的專用設備更是如此。位於台灣台中市的專用設備製造商 — 上舜精密實業有限公司(以下簡稱上舜精密),採用了 R...

突破傳統檢測方法的雷射校正工具

突破傳統檢測方法的雷射校正工具

雷射量測在現代工業製造的應用可說是越來越普及,對於如半導體、面板、太陽能這類精密製程設備更是必不可少。而千分錶、花崗石角尺、自動準直儀等傳統檢測工具,無論在精度、效率或是靈活性上,早已不能滿足當今市場的需求。在使用和成本控制層面上,廠商們更往往面臨不少挑戰,尤其是針對少量多樣、五花八門的專用設備更是如此。位於台灣台中市的專用設備製造商 — 上舜精密實業有限公司(以下簡稱上舜精密),採用了 R...

XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償

XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償

線紋尺(Line scale)一般是由玻璃基材製成並且在其表面 準確地刻有等間距平行線,通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上,作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器,測量解析度往往要求達到奈米級,微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所(SCL)設計並建立了一台全新的線紋尺量測系統...

XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償

XL-80 鐳射干涉儀為線紋尺量測系統 提供精準可靠的位置補償

線紋尺( Line scale )一般是由玻璃基材製成並且在其表面準確地刻有等間距平行線,通常配置於比長儀、顯微鏡、測量儀器等長度測量設備上,作為測量距離和行程準確性的重要參考基準。測量線紋尺上的刻度距離意味著需要精度更高的儀器,測量解析度往往要求達到奈米級,微小的環境因素所造成的誤差都會影響測量結果的準確性。附屬於香港創新科技局的標準及校正實驗所( SCL )設計並建立了一台全新的線紋尺量...

SPA2-2

SPA2-2

SPA2-2 改裝 深入瞭解您 CMM 的改裝選項 。 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起,您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務,免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 SPA2-2 經最佳化設計,可搭配使用 UCC 系列 CMM 控制器及 MCU5-2 搖桿,共同組合成理想的改裝套件。 主要特色:...

SP25M

SP25M

SP25M SP25M 在單一外殼中含有兩個感測器。使用者可在五種選擇好的掃描模組(能攜帶長度從 20 mm 至 400 mm 的 M3 測針),以及與 Renishaw 的 TP20 測頭模組系列產品相容的轉接器模組之間切換。本功能可在單一測頭系統中,提供掃描和接觸觸發式測頭量測。 SP25M 的輕巧尺寸和自動聯接固定方式,讓它能與 PH10M PLUS/PH10MQ...

ATOM™ 光學增量式光學尺系列

ATOM™ 光學增量式光學尺系列

ATOM™ 光學增量式光學尺系列 線性 光學尺類型 光學尺名稱 精度 柵距 熱膨脹係數(20 °C 時) 供應長度 不鏽鋼捲尺 RTLF 20 µm:±5 µm/m 40 μm(高精度):±5 µm/m40 µm:±15 µm/m 20 µm/40 µm ~10.

RESOLUTE™ 光學尺將射頻天線的定位精度和解析度提高百倍

RESOLUTE™ 光學尺將射頻天線的定位精度和解析度提高百倍

Pacific Antenna Systems (PAS) 公司設計、加工和製造使用 1–110 Ghz 射頻 (RF) 的先進天線系統。這些天線系統的應用範圍包括高解析度雷達、用於視距和衛星 (SATCOM) 通訊的高速率資料通訊,以及用於對抗無人機 (UAS) 的高功率微波系統。

ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤

ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤

ATOM DX™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉光學尺碟盤 適合空間受限應用的微型光學尺 ATOM DX 的最小尺寸為 20.

Renishaw 的工作人員能對客戶的需求提供快速的回應

Renishaw 的工作人員能對客戶的需求提供快速的回應

使用 Renishaw OMP40-2 光學傳輸測頭執行工件設定和檢測

使用 Renishaw OMP40-2 光學傳輸測頭執行工件設定和檢測

InfiniAM Central 軟體用於 Renishaw 積層製造系統的遠端製程監控

InfiniAM Central 軟體用於 Renishaw 積層製造系統的遠端製程監控

SPRINT™ 系統採用 SupaScan - Renishaw 新型機上型接觸式掃描技術

SPRINT™ 系統採用 SupaScan - Renishaw 新型機上型接觸式掃描技術

新型 SPRINT 系統採用 SupaScan 技術,可輕鬆整合至需要快速設定工件,重視整體循環時間的工具機應用,將掃描技術的各項優點帶入大眾市場。系統也能執行進階掃描功能,例如監控元件表面的最終狀況。

使用 Renishaw OMP40-2 光學傳輸測頭執行工件設定和檢測

使用 Renishaw OMP40-2 光學傳輸測頭執行工件設定和檢測

使用 Renishaw 的 XR20-W 與 XL-80 雷射系統進行出貨前檢測

使用 Renishaw 的 XR20-W 與 XL-80 雷射系統進行出貨前檢測

奴隸及人口販運

奴隸及人口販運

奴隸及人口販運 發佈本聲明是為了履行英國現代奴役法案(UK Modern Slavery Act 2015,以下簡稱「現代奴役法案」)第 6 編第 54 節所規定之義務。 現代奴役 Renishaw 致力於確保公司員工及所有供應鏈工作人員的人權都能受到保護。 聲明 存檔 Slavery and Human Trafficking Statement - Financial year...

RLD10 差分干涉儀

RLD10 差分干涉儀

RLD10 差分干涉儀 差分檢測頭採用獨特的光學配置設計,以達到低 SDE 的目的。內置準直輔助鏡可在設定時進行偏擺角與前後傾角調整,改進準直流程(僅適用於平面鏡應用)。 RLD10-X3-DI...

掃描測頭

掃描測頭

掃描測頭 掃描原理 掃描可快速擷取棱形或複雜元件的形態和輪廓資料。 當接觸觸發式測頭收集表面上的離散點時,掃描系統會擷取大量的表面資料,以提供更清晰的外形圖及工件的形狀。因此掃描十分適合特徵的外形,是整體誤差預算極重要因素的應用,或是必須檢測複雜表面的應用。 掃描需要完全不同的感測器設計、機器控制和資料分析方法。 Renishaw 掃描測頭具有新穎小巧的被動式機構(無馬達或鎖定機構),具...

後製程監控

後製程監控

後製程監控 Productive Process Pyramid™(金字塔生產製程解決方案)後製程監控層著重於監控並報告此類活動 — 即能夠提供已完成的製程的結果與路徑資訊的活動。這些資訊型控制可用於影響後續活動。 製程追蹤記錄 加工製程期間發生的事件,例如手動或自動變更製程參數、偏置或座標系統 對可能影響結果的製程所做的干預工作 機上量測評估能夠 在與金屬切削製程相同的環境條件下檢...

製程中監控

製程中監控

製程中監控 製程中量測能夠 使金屬切削調整配合加工製程中的變異因素,例如工件變形、刀具偏轉和熱漂移效應等 根據實際條件,更新座標系、參數、偏置及邏輯程式流程 破損刀具檢測可辨識 刀具是否存在 刀具位置 — 以確保未發生拉伸情形 刀具破損和/或斷刀 Productive Process Pyramid™(金字塔生產製程解決方案)製程中監控層的控制元素被嵌入金屬切削過程中。這些主動型控制...

Revolution in ceramic tile printing signals renewed demand for encoders

Revolution in ceramic tile printing signals renewed demand for encoders

Revolution in ceramic tile printing signals renewed demand for encoders 最終,半色調圖像的品質須取決於其空間解析度、灰階解析度,以及低頻瑕疵的存在程度。多個半色調點組成一個半色調單元,根據單元中的半色調點的大小尺寸和密度的不用,便會在人眼中呈現顏色的不同陰影。目前用於瓷磚印花的單程噴墨繪圖機使用約 8 至 10...

標準精度工具機接觸式測頭

標準精度工具機接觸式測頭

標準精度工具機接觸式測頭 達到最長的加工時間 花時間進行手動工件設定及檢測,就代表浪費了寶貴的加工時間。自動測頭量測可協助您加速工件設定時間,並簡化製程中檢測作業。 我們的標準精度接觸式測頭採用動態設計,50 多年來通過重重考驗。其中的機構可達到 1.

開發智慧型製造設備,不可或缺的精密回饋系統

開發智慧型製造設備,不可或缺的精密回饋系統

踏入智慧型製造的年代,工業界對精密自動化設備的需求達到前所未有的高峰,同時也帶動了運動控制相關零部件的市場需求。 滑軌,軸承,機械平台,驅動器或是控制器等都是一台設備不可或缺的部件。設備開發商在採購時不再單單著重零件的規格,更多的考量它的整合性是否滿足系統的整體設計。建基台灣的直得科技股份有限公司(以下簡稱cpc)的導軌產品在市場上早已得到業界的高度認可,近年大量投放資源在運動控制相關開發項...

KOVERY 專利開發的線性馬達,磁鐵以直立形式排列

KOVERY 專利開發的線性馬達,磁鐵以直立形式排列

線性馬達問世以來一直都是高精度的代名詞,是精密設備必不可少的零組件。隨著近年來工業製程對精度要求的不斷提升,線性馬達廣泛被應用在各大工業領域,包括平板顯示器 (FPD)、半導體、自動化、醫療以及工具機等。科技的進步大幅降低了線性馬達以往昂貴的價格,同時也進一步優化了整體性能。韓國直驅馬達製造商 KOVERY CO.

改良積層製造作業流程

改良積層製造作業流程

積層製造 (AM,也就是「3D 列印」技術) 為產品設計所帶來的突破,可說是推動頂尖產品創新的重要推手。作為數位製造革新的重要一環,積層製造不僅大幅簡化了複雜零件的生產過程,同時還提升了性能、減輕零件重量,也減少組件數量。然而,若要充分利用積層製造的獨特優勢,輔助軟體工具的效能也必須提升,才能滿足因應積層製造設計 (DfAM) 規則與指南而生的新要求。達梭系統 (Dassault Systè...

絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用

絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用

模切是產品加工中一個不可或缺的工序,我們日常接觸到各式各樣的包裝盒、電子產品輔件、汽車配件等很多產品都是使用模切作批量生產。模切中所使用的刀模可說是至關重要。一個不良的刀模可影響數以萬計成品的品質,因此刀模製造設備的穩定性尤其重要。位於中國深圳的和興雷射刀模廠有限公司,是國內規模最大的刀模及設備製造商,近年來致力於開發針對刀模製造行業應用的各種機械設備,如高端水切割和雷射切割設備等,在這些設...

絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用

絕對式磁性編碼器系統在水切割機上的應用

模切是產品加工中一個不可或缺的工序,我們日常接觸到各式各樣的包裝盒、電子產品輔件、汽車配件等很多產品都是使用模切作批量生產。模切中所使用的刀模可說是至關重要。一個不良的刀模可影響數以萬計成品的品質,因此刀模製造設備的穩定性尤其重要。位於中國深圳的和興雷射刀模廠有限公司,是國內規模最大的刀模及設備製造商,近年來致力於開發針對刀模製造行業應用的各種機械設備,如高端水切割和雷射切割設備等,在這些設...

Virsa™ Raman analyser

Virsa™ Raman analyser

Virsa™ Raman analyser 功能 高效能可攜式光纖結合拉曼系統 高空間解析度 x/y < 1 µm、z < 2 µm 即時白光樣品檢視提供準確的樣品鎖定 電動 x/y/z 軸系統,能夠讓物鏡準確定位,適用於單點或對應用途 可搭配使用物鏡鏡頭朝向下方或水平方向 特性 標準 選配 激磁波長 - 532 nm | 660 nm | 785 nm...

FORTiS™ 封閉絕對式光學尺下載

FORTiS™ 封閉絕對式光學尺下載

FORTiS™ 封閉絕對式光學尺下載 下載以下關於 FORTiS 封閉式光學尺系列的技術文件、媒體與個案研究。 技術繪圖 現在就聯繫我們的銷售團隊 請與 Renishaw 聯絡以取得更多資訊及與專家交流。 歡迎探索我們一系列電感型、開放式、封閉式、磁性和雷射光學尺 ,滿足您的工業自動化需求。 規格資料表 安裝指南 使用者指南 FORTiS-S 光學尺 FORTiS-N...

Renishaw FORTiS™ 光學尺提升精密五軸加工中心的性能表現

Renishaw FORTiS™ 光學尺提升精密五軸加工中心的性能表現

FORTiS 光學尺採用調諧品質減振技術,將大幅提高生產品質

Intoco 也在其三次元量床上使用 Renishaw MH20i 手動調整式測頭

Intoco 也在其三次元量床上使用 Renishaw MH20i 手動調整式測頭

Renishaw Central 能夠控制變數和取得數據:智慧製造數據平台

Renishaw Central 能夠控制變數和取得數據:智慧製造數據平台

Renishaw XM-60 多光束校正儀 大幅提高空間誤差量測效率

Renishaw XM-60 多光束校正儀 大幅提高空間誤差量測效率

在量測空間精度相關誤差時需要考慮諸多因素,而量測這有誤差需要花費很長時間。量測空間精度方面,以追蹤量測系統為例,隨著機器尺寸增大,量測所需時間將呈平方級的增加。

透過 Renishaw Central 連接多個機器和設備:智慧製造數據平台

透過 Renishaw Central 連接多個機器和設備:智慧製造數據平台

利用 Renishaw Central 讓資料成為行動依據:智慧製造資料平台

利用 Renishaw Central 讓資料成為行動依據:智慧製造資料平台

現代精密測控的關鍵

現代精密測控的關鍵

受惠人工智慧、5G 和物聯網等新技術的迅速發展,半導體的需求近年不斷擴大,設備商也紛紛加大投入開發新機型以應對精密先進製程的嚴苛挑戰。半導體製造核心設備包括光刻機雙工件台、晶圓級鍵合設備、雷射退火先進設備和 EFEM 等 … 設計精密,無論對核心零件的規格或是測控穩定性都有極嚴謹的要求。這個領域多年來被歐美日廠商壟斷,鮮有中國廠商有能力涉足其中。北京華卓精科科技股份有限公司(以下簡稱華卓精科...

進階循圓測試儀培訓能達到「優於全新」的工具機精度

進階循圓測試儀培訓能達到「優於全新」的工具機精度

對於需接觸許多工具機的人員,就像任職於美國俄亥俄州伊頓的 Silfex 公司職員 Wayne Ross 和 Jacob Hebbeler 一樣,使用循圓測試儀進行測試並不算是新嘗試。過去十年多來他們兩人皆以循圓測試儀分析、維護並加強廠內 50 部以上機台的精度。經驗豐富的循圓測試儀使用者在培]訓上仍可學到應用新技巧。為業務帶來效益,而這些新技巧可轉為一門生意。

Breton 使用 Renishaw QC20-W 循圓測試儀檢查機械設備的定位效能

Breton 使用 Renishaw QC20-W 循圓測試儀檢查機械設備的定位效能

使用 Renishaw 高精度量測臂進行刀具量測和刀具破損檢測

使用 Renishaw 高精度量測臂進行刀具量測和刀具破損檢測

Renishaw Equator™ 300 檢具系統加速新冠病毒檢測試劑盒的生產

Renishaw Equator™ 300 檢具系統加速新冠病毒檢測試劑盒的生產

在全球面對新冠肺炎疫情 (COVID-19) 的挑戰中,快速將新冠病毒檢測試劑盒完成並出貨是致勝的 關鍵。為達到塑膠試劑盒零組件的大規模生產,量測環節絕不能成為掣肘整個生產流程的瓶頸。受客戶委託,來自愛爾蘭的 Verus Metrology Partners (Verus) 公司開發出可提升量測效率的全新解決方案,實現了量測速度與生產速度兼顧的雙贏。

Renishaw Equator™ 300 檢具系統加速新冠病毒檢測試劑盒的生產

Renishaw Equator™ 300 檢具系統加速新冠病毒檢測試劑盒的生產

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