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Results found for renishaw
Vacuum casting technology facilitates record development cycles for automatic juicer manufacturer Zumex
Zumex recently invested in a Renishaw 5/01 PLC vacuum casting machine, which allowed it to speed up its development cycle and cut third party costs.
如何建立自動化的 CNC 加工系統
介紹如何將您的 CNC 製程自動化。 Renishaw 與 Fanuc 和 Star Machines 共同合作,將自動化車削製程與自動化機器人系統整合,運用 Fanuc 機械手臂做工件上、下料,以及 Renishaw Equator™...
透過雷射干涉儀進行空間誤差補償可提高工具機性能
透過雷射干涉儀進行空間誤差補償可提高 BOST Machine Tools 工具機的性能。透過使用 XM-60 多光束校正儀,BOST 現在能夠檢測到 18 項幾何誤差,使用 QC20 循圓測試儀和 XK10 校準雷射系統能夠檢測到更多的誤差。
A-1007-0154 - MCG,380 mm 單臂配件
Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...
A-2237-1409 - FCR25 TC-L3 三埠獨立式熱控交換架
FCR25 TC-L3 為以 FCR25 TC 為基礎的三埠獨立式交換架。此提供無與倫比的彈性,可在需要快速自動交換 SM25 測頭模組時使用。FCR25 TC 以裝置隨附的標準 24V 電源供應器供電。其加熱過的埠可讓儲存的模組溫度,上升至與通電之SP25M測頭相同的溫度。Renishaw 強烈建議使用 FCR25 TC,以確保在交換 SP25M 測頭系統時,保有最佳性能。若要交換 SP2...
A-6967-6130 - RCS TS1 — 固線式刀具設定系統,適用於工業機器人
RCS TS1 是一款專為工業機器人設計的刀具設定測頭。此測頭能精確對齊刀具框架以設置機器人工作單元,並實現單元自動復原功能。此刀具設定系統包括一個內建的測頭介面。透過一條 10 公尺長的纜線連接至您的機器人系統,其中包含 2 公尺的保護導管。備註:本套件不包含測頭測針。RCS TS1 相容於 Renishaw M4 測針範圍。隨附測頭測針式鑰匙(如圖所示)。
光學尺法規遵循資訊
光學尺法規遵循資訊 符合性聲明 CE 標誌及 UKCA 標誌要求每項產品皆應具備相關的符合性聲明。請在下表尋找各光學尺系統的聲明。若您需要未列出的特定產品的 DoC,請聯絡 PMG.
CCD detectors for Raman spectroscopy
CCD detectors for Raman spectroscopy 過去的傳統作法是將多個光譜結合在一起,以形成廣大範圍的光譜。但這種方式通常會在接合處造成不符問題,原因是樣品螢光背景的雷射淬火。 相較之下,SynchroScan 採用連續掃描,可產生緊密無接縫的光譜。 Renishaw 創新技術的許多層面都受到專利 保護。 光致發光量測 您也可將 SynchroScan 應用...
Interferometry explained
Interferometry explained 干涉量測法的歷史 干涉量測 ‒ 終極量測標準。 早在 1880 年代,人們第一次證實了光干涉原理可以作為量測工具使用。雖然自此以後該技術隨著時間持續發展,但使用極小、穩定、準確定義的光波長作為量測單位的基本原理,至今仍然不變。 環境補償...
TONiC™ 增量式編碼器系統搭配 REXM20 旋轉(角度)環
TONiC™ 增量式編碼器系統搭配 REXM20 旋轉(角度)環 何謂 TONiC? TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統,如與 Ti 介面結合,在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動,可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此,TONiC...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置,多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD(雙解析度)介面提供可選擇的雙解析度輸出,也提供於寬幅列印應用的 DPI...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 介面選項 技術規格 量測標準 RSLM20:高精度不鏽鋼光學尺 亦提供具備端點參考原點的 RSLE20,以及具備可選擇參考原點的 RSLC20 讀頭尺寸 (LxWxH) 35 mm x 13.
TONiC™ 增量式光學尺系統具備 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統具備 RTLC20 線性光學尺 TD(雙解析度)介面 可選擇雙解析度正交輸出。 介面選項適合需要高速運動的應用,結合更精密精度的運動。 為什麼選擇這種光學尺系統? 量測標準 FASTRACK RTLC20:不鏽鋼光學捲尺與攜帶系統 RTLC20-S: 不鏽鋼光學捲尺與自黏背膠帶,可直接安裝在基材上,無須使用 FASTRACK 導軌 ...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉(角度)環
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉(角度)環 抗汙能力 TONiC 具有優異的抗汙能力,能有效防止刮傷與油汙指紋,速度高達 10m/s。因此,TONiC 適用於更具挑戰性的應用。此外,非接觸式 RESM 操作時不會發生磨擦或磨損問題,確保優異的可靠度。 DOP(雙輸出)介面 提供同步數位正交及 1 Vpp 訊號。...
為何要改裝?
為何要改裝? 強化量測效能 充分發揮您 CMM 的潛能 請閱讀這份白皮書,瞭解如何透過先進科技軟體、控制器和感測器技術的改裝,為您帶來提升量測能力與現有 CMM 效能的契機。 特性 操作優點 以 CAD 為導向的程式設計 全方位、精準的 DMIS 相容性 大量資料分析 圖形化報告 對最新型感測器的支援 更快速的程式設計 前瞻性 「生產模式」操作能達成更快速的程式執行 ...
為什麼要使用雷射干涉編碼器?
雷射干涉儀是至今用於精密回饋中最先進的技術,可提供最精細的解析度和最高精度。RLE 使用光纖直接傳遞雷射光束至遠端啟動裝置,其中也包含干涉儀光學鏡組和偵測器。這能賦予 RLE 多項關鍵優勢,盡可能縮減整合時間與系統的複雜程度。
Characterise carbon and 2D materials with Raman microscopy
Characterise carbon and 2D materials with Raman microscopy 全球最輕的機械錶 全球最輕的機械錶於 2017 年 1 月在瑞士日內瓦發表,其中採用包含石墨烯的創新複合材料。Renishaw inVia 拉曼顯微鏡可說是這項專案幕後的研發功臣,在其中扮演重要角色協助開發材料。 以熱燈絲成長的 CVD...
Laser calibration system spot on
Inca Digital Printers has developed the first ever flatbed inkjet press, which looks set to revolutionise a major sector of the screen print market.
ATOM™ 光學尺在高端自動光學檢測設備上的應用
AOI 設備(自動光學檢測設備)在過去十多年被廣泛應用,以 PCB 電路板產業為例,現今電子產品設計精巧但功能強大,高密度電路板線路之間僅有數微米的距離。創立於台灣的 JET -捷智科技股份有限公司,多年來為業界提供先進自動光學檢測方案,他們最新開發用於 SMT (表面貼片技術) 生產線的 AOI 檢測設備採用 Renishaw ATOM 系列超微型光學尺,確保系統表現的穩定性。
CMM 改裝將量測時間縮短 55%
Precision Machine & Auto Components (PMAC) 的三軸三次元量床 (CMM) 在一場水災中嚴重損壞,必須立即尋找替代解決方案。Renishaw REVO® 五軸量測系統不僅把因水災損壞的 CMM 恢復運作,而且將量測時間縮短了 55%。
QC20-W 循圓測試儀系統為二手工具機交易「保駕護航」
所有二手工具機買家都希望鑒定機台能否滿足製程精度要求。對於許多買家來說,僅由具備認證的查驗員進行購買前的檢查和全面靜態精度量測是遠遠不夠的,還需要進行更為嚴格的動態精度量測。工具機銷售商 U-MACHINE 採用 Renishaw QC20-W 循圓測試儀系統滿足客戶的進一步分析要求。
程式設計和模擬
程式設計和模擬 主要特色 接觸觸發式、3 軸和 5 軸掃描 - MODUS 能以多種量測模式使用完整的 Renishaw 感測器系列產品。連續掃描路徑能支援全方位的特徵形狀分析。 靈活的工件程式設計 - 透過 CAD 資料離線開發程式,或使用 CMM 搖桿在「教導」模式下開發。 零學習曲線的計量專業知識 - 精靈內建量測最佳實務,能快速執行程式設計和特徵自動誤差還原邏輯。 工件對準 -...
Equator™ 檢具系統讓航太製造商 Senior Aerospace Weston 的產能得以提升
Senior Aerospace Weston 希望以更高的效率檢測關鍵航太結構零件,因此尋求 Renishaw 提供超越同級的 Equator™ 檢具系統。Equator 檢具縮短約 75% 的零件檢測時間,提供更全面的產品追溯性。
ACR3
ACR3 延長保固 自購買全新三次元量床產品當日起,您可在 3 個月內選購 3 年保固 服務,免除您的後顧之憂。請聯絡您的供應商。 ACR3 使用 Renishaw 獨特的自動聯接頭,將測頭和延長桿連接至 PH10M PLUS 和 PH10MQ PLUS 電動轉向測頭座。它能支援多種 Renishaw 和其他量測儀器供應商的感測器。 雖然 ACR3 是一種四連接埠單元,但是可將兩個單元連...
接觸觸發式測頭
接觸觸發式測頭 您目前正在查看我們的接觸觸發式測頭;您可能也有興趣瞭解我們的掃描測頭 … Renishaw 提供全面的系統,可以滿足所有使用者的應用需求和預算要求,不管是在手工操作的三次元量床上進行簡單的部位檢測,還是在高速電腦控制機器上進行複雜的工件量測。 接觸觸發式測頭量測離散點,是檢測三維幾何工件的理想選擇。 Renishaw...
EMO Hannover 2023
Whether you are planning to visit EMO in Hannover, Germany between the 18th - 23rd of September or planning to visit it virtually, we welcome you to our stand!
用於雷射粉床融熔(金屬 3D 列印)系統的軟體
用於在 Renishaw AM 系統進行建置準備,以及監控金屬積層製造建構的軟體
INEOS Britannia - sailing towards a sustainable future with AM
Renishaw is an official technical partner of the British sailing team, INEOS Britannia.
藉由投資 5 軸三次元量床 (CMM) 和靈活的比對量測等技術,Apex 提高了量測和反應能力
受到宏觀經濟的劇烈變化所及,CMM 專家 Apex Metrology Ltd. (Apex) 對其服務和產品進行了一次戰略審查。客戶需求正迅速變化,而且越來越難以預測。零件的複雜性不斷提高,交貨週期不斷縮短,生產量也愈加不固定。透過採用 Renishaw 的 REVO® 5 軸 CMM 和 Equator™ 檢具系統,Apex 提高了自身的反應能力和前瞻性,以應對未來數年的要求。
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉(角度)環
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉(角度)環 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置,多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC...
VIONiC™ 光學增量式光學尺系列
VIONiC™ 光學增量式光學尺系列 您需要量測哪種形式的運動? ADTpro-100 : 手持獨立式光學尺診斷工具,無需使用電腦或其他設備。 配備內建彩色觸控螢幕。 簡易直覺的操作方式搭配隨插即用功能,有助於系統設定及校正。 可透過介面連接選購的 ADT View 電腦軟體,用於儲存光學尺資料,作為系統設定和效能記錄。ADT...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 介面選項 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置,多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 TD(雙解析度)介面 可選擇雙解析度正交輸出。 介面選項適合需要高速運動的應用,結合更精密精度的運動。 量測標準 RSLM20:高精度不鏽鋼光學尺 亦提供具備端點參考原點的 RSLE20,以及具備可選擇參考原點的 RSLC20 讀頭尺寸 (LxWxH) 35 mm x 13.
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉(角度)環
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉(角度)環 什麼是 TONiC FS 光學尺? TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統,如與 DOP 介面結合,在線性和旋轉應用中,均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便,提供寬鬆的安裝公差,按下按鈕即可進行校準。TONiC...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 TD(雙解析度)介面 可選擇雙解析度正交輸出。 介面選項適合需要高速運動的應用,結合更精密精度的運動。 易拆型光學尺 RTLC20/FASTRACK 適合用於機器須拆卸運送,或須經常安裝/拆卸光學尺以利運送等場合。即使維修空間狹窄,也可從導軌拉出光學尺迅速更換,減少機器的停機時間。 超高真空...
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最新消息 Explore:匯出至 CSV 您可將單一或多個資料集匯出為逗點分隔值檔案 (CSV),以便立即存取資料。這樣可讓您享有最高彈性,擴展資料使用選項範圍。 Capture 主要特色 Capture:加強真直度量測 可在使用 XM-60 或 XM-600...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 什麼是 TONiC FS 光學尺? TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統,如與 DOP 介面結合,在線性和旋轉應用中,均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便,提供寬鬆的安裝公差,按下按鈕即可進行校準。TONiC FS...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 REXM20(角度)旋轉環
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 REXM20(角度)旋轉環 技術規格 優異的量測功能 TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。 TONiC 光學尺提供絕佳的 < ±0.
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 優異的量測功能 TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。 TONiC 光學尺提供絕佳的 < ±0.
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 優異的量測功能 TONiC 光學尺配備 Renishaw 獲市場肯定的過濾光學鏡組與進階訊號處理功能。自動增益控制 (AGC) 及自動偏置控制 (AOC) 技術降低讀頭內的類比訊號雜訊與數位抖動。 TONiC 光學尺提供絕佳的 < ±0.
量測專用客製化精密測針
量測專用客製化精密測針 Contact us call-to-action box Additively manufactured styli text Total product service text Strapline text OPTiMUM diamond styli text Precision styli education guide text Discover...
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Optical encoders and LiDAR scanning
Optical encoders and LiDAR scanning 顯微技術 車用光達掃描器會安裝在車頂,因此體積和重量都是重要的考量因素。光達製造商目前正在開發高精度且輕盈小巧的雷射掃描器。想要設計更輕盈小巧的光達系統,掃描器內部的所有組件都必須符合這個小體積、低質量的條件標準。 Renishaw ATOM 增量式旋轉編碼器具有微型讀頭與小直徑的 RCDM...
A-1007-0006 - MCG1 小型三次元測定機校驗器配件,適用於1 m³以下的三次元量床
Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...
A-1007-0056 - MCG2 種類齊全的三次元測定機校驗器配件,適用於所有三次元量床
Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...
A-5687-0049 - RMI-Q 介面 (8 m)(水平)側出口
RMI-Q 介面含一條 8m 側邊出口纜線、使用者指南含工具套件。結合發射器、接收器和介面單元,可進行個別無線電啟動,並操作最多四個獨立的 Renishaw 無線電測頭。如此一來,即可實現多種無線電測頭及/或無線電工具測定裝置組合,在相同工具機上自由使用。可安裝於機器工作範圍內的任意地點,讓安裝更快速而簡易。與光學傳輸系統的不同點,在於測頭和接收器之間不須達到視線對傳。
A-5687-0050 - RMI-Q 介面 (15 m)(水平)側出口
RMI-Q 介面含一條 15m 側邊出口纜線、使用者指南含工具套件。結合發射器、接收器和介面單元,可進行個別無線電啟動,並操作最多四個獨立的 Renishaw 無線電測頭。如此一來,即可實現多種無線電測頭及/或無線電工具測定裝置組合,在相同工具機上自由使用。可安裝於機器工作範圍內的任意地點,讓安裝更快速而簡易。與光學傳輸系統的不同點,在於測頭和接收器之間不須達到視線對傳。