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適用於光學尺的進階診斷工具

適用於光學尺的進階診斷工具

適用於光學尺的進階診斷工具 Renishaw 進階診斷工具有什麼優點? 進階診斷工具分為三種機型,可提供各種功能,適用於增量式及絕對式光學尺。 ADTpro-100 ADTpro-100 配備彩色觸控螢幕,可顯示詳細的光學尺資訊,無需連接外部電腦,也不需要額外的設定設備。ADTpro-100 與 Renishaw 增量式光學尺相容, ⦁ 本產品配備 USB...

ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列

ATOM DX™ 光學增量式光學尺系列

ATOM DX 光學尺系列是 Renishaw 最精巧的增量式光學尺,可直接自讀頭進行數位輸出,於微型封裝提供位置回饋、內建細分及過濾光學鏡組等所有功能。本系列光學尺適用於空間最有限並且不能犧牲效能的應用項目。

機上掃描 — 3D 表面擷取

機上掃描 — 3D 表面擷取

使用搭載 SPRINT™ 技術的 Renishaw OSP60 掃描測頭,可藉由Productivity+™ Freeform Surface Toolkit 和 Productivity+™ Blade Toolkit 量測葉片或葉盤等複雜的自由曲面。

Bastion Cycles 掌控金屬積層製造能力

Bastion Cycles 掌控金屬積層製造能力

Bastion Cycles 開發出突破性的積層製造 (AM) 自行車車架,堪稱「自行車騎士的終極夢想」。公司改變以往委外處理 AM 需求的方式,在投資購買了 Renishaw AM250 系統之後,現在已有能力自行生產。客戶可以直接透過 Bastion Cycles 網站設定及完全客製化自行車車架,並可在網上從頭到尾追蹤生產製程。

六個自由度 (6DoF) 說明

六個自由度 (6DoF) 說明

現代製造對精度的要求持續提升,因此所有六個自由度的誤差量測也日漸重要。Renishaw 推出 XM-60 多光束校正儀提供更出色的 6DoF 量測功能,使用者可同時直接對任何運動路徑方向量測所有六種誤差,

Interferometry explained

Interferometry explained

Interferometry explained 干涉量測法的歷史 干涉量測 ‒ 終極量測標準。 早在 1880 年代,人們第一次證實了光干涉原理可以作為量測工具使用。雖然自此以後該技術隨著時間持續發展,但使用極小、穩定、準確定義的光波長作為量測單位的基本原理,至今仍然不變。   環境補償...

RP3 — 清潔與密封圈檢查

RP3 — 清潔與密封圈檢查

本影片將介紹如何對 Renishaw 測刀臂上的 RP3 測頭進行清潔與密封圈檢查,這是安裝、維護或解決問題的重要環節。

A-1007-0154 - MCG,380 mm 單臂配件

A-1007-0154 - MCG,380 mm 單臂配件

A-1007-0154 - MCG,380 mm 單臂配件

Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...

A-1007-0155 - MCG,523 mm 單臂配件

A-1007-0155 - MCG,523 mm 單臂配件

A-1007-0155 - MCG,523 mm 單臂配件

Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...

A-2237-1409 - FCR25 TC-L3 三埠獨立式熱控交換架

A-2237-1409 - FCR25 TC-L3 三埠獨立式熱控交換架

A-2237-1409 - FCR25 TC-L3 三埠獨立式熱控交換架

FCR25 TC-L3 為以 FCR25 TC 為基礎的三埠獨立式交換架。此提供無與倫比的彈性,可在需要快速自動交換 SM25 測頭模組時使用。FCR25 TC 以裝置隨附的標準 24V 電源供應器供電。其加熱過的埠可讓儲存的模組溫度,上升至與通電之SP25M測頭相同的溫度。Renishaw 強烈建議使用 FCR25 TC,以確保在交換 SP25M 測頭系統時,保有最佳性能。若要交換 SP2...

為何要改裝?

為何要改裝?

為何要改裝? 為您的 CMM 賦予全新生命! 大部分的 CMM 結構並不需要承受高度的磨耗,所以能維持多年的可用性。但是,隨著更快速、功能更強大的新產品不斷推出,軟體、控制系統和感測器會變得過時。 Renishaw 提供現有 CMM 改裝的服務,可使 CMM 的量測精度更高、量測速度更快、具有自動化量測方式等諸多新功能,並充分利用 CAD 程式設計優勢。 強化量測效能 ...

為什麼要使用雷射干涉編碼器?

為什麼要使用雷射干涉編碼器?

雷射干涉儀是至今用於精密回饋中最先進的技術,可提供最精細的解析度和最高精度。RLE 使用光纖直接傳遞雷射光束至遠端啟動裝置,其中也包含干涉儀光學鏡組和偵測器。這能賦予 RLE 多項關鍵優勢,盡可能縮減整合時間與系統的複雜程度。

Equality in the workplace

Equality in the workplace

At Renishaw, we believe that equality and fairness are critical to the success of our organisation.

CARTO 支援

CARTO 支援

CARTO 支援 CARTO 知識庫 選擇相關的訓練短片,讓 Renishaw 雷射校正產品發揮最高效益。 檢查相容性 電腦需求 作業系統 Windows 10 64 位元(1803 或以上版本) 硬碟空間 最少 2GB 可用空間 可用 RAM 最少 2GB 可用空間 畫面解析度 最低 1024 x 768 或以上 PDF 檢視器 ✔ .

FORTiS-N™ FS 封閉絕對式光學尺

FORTiS-N™ FS 封閉絕對式光學尺

FORTiS-N™ FS 封閉絕對式光學尺 FORTiS-N FS 簡介 FORTiS-N FS 光學尺系列是新一代的線性封閉絕對式光學尺,具備精細截面,適用於工具機等嚴苛環境的空間受限應用。 多種創新設計功能可確保光學尺的長期使用壽命,以提供堅固、耐用、高效能的位置量測: 序列介面 技術規格 適合工具機應用 Renishaw 擁有超過 40 年的工具機產業經驗。...

工業自動化測頭量測解決方案

工業自動化測頭量測解決方案

工業自動化測頭量測解決方案 P-series Hard-wired Bundle P-series Radio Bundle P-series Radio Bundle P-series Toolsetter Bundle RCS P-series Video title Probing strapline RCS P-series Intro Paragraph RCS P-series...

身障者協助專區

身障者協助專區

身障者協助專區 調整您的網頁瀏覽器及作業系統 如果您發現自己難以觀看本網站內容,可以在網頁瀏覽器放大文字尺寸。您可在大部分瀏覽器中同時按下 Ctrl 和 + 鍵以放大文字。您可在特定瀏覽器的製造商網站找到詳細說明,瞭解如何讓網頁更方便使用: Microsoft Internet Explorer Mozilla Firefox Google Chrome Apple Safari ...

長距離雷射編碼器產品

長距離雷射編碼器產品

長距離雷射編碼器產品 雷射頭 RCU10 即時方波補償系統 採用環境感測器監控機器周圍環境,並提供位置回饋訊號的即時補償。 HS20 雷射 Renishaw HS20 雷射頭為非接觸式干涉儀編碼器系統的核心元件,用於長軸、高精度、線性位置回饋應用。 長距離線性光學鏡組 長距離干涉儀光學鏡組套件運用大型反射鏡與觀測鏡組,適合最長 60 m 的軸長使用。 光束保護導管...

工業自動化循圓測試儀系統

工業自動化循圓測試儀系統

工業自動化循圓測試儀系統 L-90 FAQ 1 RCS L-90 Intro Paragraph RCS L-90 strapline text RCS L-90 Benefits Intro RCS L-90 Benefit: Save time and money Enquire about RCS L-90 preamble text RCS L-90 Benefit: Offline...

FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺

FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺

FORTiS-S™ 封閉絕對式光學尺 您是否有客製化需求? 我們具備 40 年以上的工具機量測和光學尺應用經驗,我們的工程師專家團隊可協助您處理您自己的獨特需求。 FORTiS-S 簡介 FORTiS-S 光學尺系列是新一代的線性封閉絕對式光學尺,適用於工具機等嚴苛環境。 多種創新設計功能可確保光學尺的長期使用壽命,以提供堅固、耐用、高效能的位置量測: 序列介面 技術規格 ...

FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺

FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺

FORTiS-N™ 封閉絕對式光學尺 FORTiS 光學尺系統相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體 。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋,以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能: 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數 匯出和保存資料 設定為零 選配的進階診斷工具 ADTa-100 ...

如何在 Mazak 機台上使用 Set and Inspect 機上測頭量測應用程式

如何在 Mazak 機台上使用 Set and Inspect 機上測頭量測應用程式

展示 Renishaw 機上應用程式在各種控制器上應用的系列影片 此影片介紹如何在 Mazak 的 Smooth 控制器上使用 Set and Inspect 應用程式

程式設計和模擬

程式設計和模擬

程式設計和模擬 主要特色 接觸觸發式、3 軸和 5 軸掃描 - MODUS 能以多種量測模式使用完整的 Renishaw 感測器系列產品。連續掃描路徑能支援全方位的特徵形狀分析。 靈活的工件程式設計 - 透過 CAD 資料離線開發程式,或使用 CMM 搖桿在「教導」模式下開發。 零學習曲線的計量專業知識 - 精靈內建量測最佳實務,能快速執行程式設計和特徵自動誤差還原邏輯。 工件對準 -...

操作員以 Renishaw GUI 和 RMP60 測頭量測模座孔位尺寸

操作員以 Renishaw GUI 和 RMP60 測頭量測模座孔位尺寸

RTS 配合 Renishaw GUI 量測刀具

RTS 配合 Renishaw GUI 量測刀具

SynchroScan™

SynchroScan™

SynchroScan™ 過去的傳統作法是將多個光譜結合在一起,以形成廣大範圍的光譜。但這種方式通常會在接合處造成不符問題,原因是樣品螢光背景的雷射淬火。 相較之下,SynchroScan 採用連續掃描,可產生緊密無接縫的光譜。 光致發光量測 您也可將 SynchroScan 應用在範圍非常廣大的光致發光光譜,涵蓋範圍可達數百奈米(數千波數),並能清楚解析廣大及銳利的 PL 特徵。 ...

CNC 機上量測應用程式:在 Windows® 平板電腦上安裝

CNC 機上量測應用程式:在 Windows® 平板電腦上安裝

本影片示範如何將 Renishaw 機上量測應用程式安裝到Windows 平板電腦並透過網路線連接到機台上,以及如何配置網路和APP設定。

如何建立自動化的 CNC 加工系統

如何建立自動化的 CNC 加工系統

介紹如何將您的 CNC 製程自動化。 Renishaw 與 Fanuc 和 Star Machines 共同合作,將自動化車削製程與自動化機器人系統整合,運用 Fanuc 機械手臂做工件上、下料,以及 Renishaw Equator™...

量測專用客製化精密測針

量測專用客製化精密測針

量測專用客製化精密測針 Strapline text Contact us call-to-action box Total product service text Discover Renishaw's custom stylus design service text OPTiMUM diamond styli text Precision styli education guide...

如何在 Mitsubishi M80 和 M800 控制器上使用 GoProbe

如何在 Mitsubishi M80 和 M800 控制器上使用 GoProbe

展示 Renishaw 機上應用程式在各種控制器上應用的系列影片 此影片介紹如何在 Mistubishi M80 和 M800 控制器上使用 GoProbe 圖形使用者介面 (GUI)

機上掃描 — 適應性加工

機上掃描 — 適應性加工

使用搭載 SPRINT™ 技術的 Renishaw OSP60 掃描測頭,可藉由Productivity+™ Adaptive Cut Toolkit 對由鑄件製成幫浦外殼等可變異的 2D 輪廓工件進行適應性加工。

TURBOCAM "high fives" revolutionary five-axis CMM measurement technology

TURBOCAM "high fives" revolutionary five-axis CMM measurement technology

Leader in five-axis turbomachinery production quickly adopts new five-axis Renishaw inspection system, gains faster throughput, greater CMM utilization, and easier programming

Discovering how AM can add value to your manufacturing

Discovering how AM can add value to your manufacturing

Chay Allen, Additive Manufacturing Customer Applications Manager at Renishaw, explains what manufacturers should consider when matching a manufacturing technique to their production environment.

接觸觸發式測頭

接觸觸發式測頭

接觸觸發式測頭 Renishaw 提供全面的系統,可以滿足所有使用者的應用需求和預算要求,不管是在手工操作的三次元量床上進行簡單的部位檢測,還是在高速電腦控制機器上進行複雜的工件量測。 接觸觸發式測頭量測離散點,是檢測三維幾何工件的理想選擇。 Renishaw...

ACR3

ACR3

ACR3 ACR3 使用 Renishaw 獨特的自動聯接頭,將測頭和延長桿連接至 PH10M PLUS 和 PH10MQ PLUS 電動轉向測頭座。它能支援多種 Renishaw 和其他量測儀器供應商的感測器。 雖然 ACR3 是一種四連接埠單元,但是可將兩個單元連接在一起,以便在架中存放八個不同的測頭或延長桿,足夠讓任何量測工作使用。 被動機制能鎖定及解鎖自動聯接頭,以進行安全及全自動...

Brunel University London race ahead with additive manufacturing

Brunel University London race ahead with additive manufacturing

Global engineering technologies company, Renishaw, is supporting Brunel University London race team in its 20th year participating in the Formula Student competition.

FORTiS-S™ FS 封閉絕對式光學尺

FORTiS-S™ FS 封閉絕對式光學尺

FORTiS-S™ FS 封閉絕對式光學尺 適合工具機應用 Renishaw 擁有超過 40 年的工具機產業經驗。 我們的專家將 FORTiS 系列設計為新一代的線性封閉絕對式光學尺,適用於嚴苛環境。 您是否有客製化需求? 我們具備 40 年以上的工具機量測和光學尺應用經驗,我們的工程師專家團隊可協助您處理您自己的獨特需求。 FORTiS-S FS 簡介 FORTiS-S...

適合量測應用的鑽石測針

適合量測應用的鑽石測針

適合量測應用的鑽石測針 Why use OPTiMUM text Avoid premature stylus wear text No material build up text Watch our OPTiMUM diamond styli in action text Having problems scanning anodised aluminium image Find out...

RLS 磁性編碼器幫助 Marsi Bionics 打造「改變生活」的外骨骼機器人

RLS 磁性編碼器幫助 Marsi Bionics 打造「改變生活」的外骨骼機器人

RLS 磁性編碼器幫助 Marsi Bionics 打造「改變生活」的外骨骼機器人 背景 Marsi Bionics S.

碳、2D 材料及奈米技術

碳、2D 材料及奈米技術

碳、2D 材料及奈米技術 由於有許多種類的消費產品都使用碳基材料 (以及 2D 材料的技術發展前景),因此這些產品自然成為拉曼光譜的主要應用領域。 我們隨時為您服務 若要深入瞭解此應用領域或未涵蓋到的應用,請聯絡應用團隊。 聯絡應用團隊 您可以使用拉曼識別所有碳形態,包括石墨烯、奈米碳管 (CNT)、石墨、鑽石和類鑽碳 (DLC)。您還可以研究諸如 MoS2、hBN 和 WSe2...

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鑑識科學

鑑識科學

鑑識科學 鑑識科學需要具備高效能、多功能、可靠及可追溯的分析儀器。Renishaw 拉曼系統 可滿足以上關鍵需求,廣泛運用於全球各大鑑識科學實驗室。 以豐富功能掌握證據 您可利用 Renishaw 拉曼系統準確檢測及分析少量物質。 識別粒子、纖維及物質 分析車輛碰撞的烤漆痕跡 識別麻醉劑 檢測偽造品 識別微量的爆裂物及射擊殘留物 區分筆墨和印表機墨水,並在有問題的文件上判定文字線條交...

工具機驗證:BOST 的測試和空間誤差補償報告

工具機驗證:BOST 的測試和空間誤差補償報告

通過使用 XM-60 多光束校正儀,BOST 現在能夠檢測到 18 項幾何誤差,使用 Renishaw 的 QC20 循圓測試儀和 XK10 校準雷射系統能夠檢測到更多的誤差。

A-1007-0006 - MCG1 小型三次元測定機校驗器配件,適用於1 m³以下的三次元量床

A-1007-0006 - MCG1 小型三次元測定機校驗器配件,適用於1 m³以下的三次元量床

A-1007-0006 - MCG1 小型三次元測定機校驗器配件,適用於1 m³以下的三次元量床

Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...

A-1007-0056 - MCG2 種類齊全的三次元測定機校驗器配件,適用於所有三次元量床

A-1007-0056 - MCG2 種類齊全的三次元測定機校驗器配件,適用於所有三次元量床

A-1007-0056 - MCG2 種類齊全的三次元測定機校驗器配件,適用於所有三次元量床

Renishaw 的三次元測定機校驗器 (MCG) 提供在年度檢修與重新校準之間,或碰撞後定期監控三次元量床空間(根據 ISO 10360--2 標準)的簡易方法。其結果可確保 CMM 的量測準確,或是提供需要維修或再校準的證據。此過程既迅速,又符合經濟效益,一般只需 10 到 20 分鐘。提供一系列的柱長與臂長,以便對大型與小型三次元量床進行空間精度檢查。各 MCG 皆附上可追溯至 UKA...

A-5687-0049 - RMI-Q 介面 (8 m)(水平)側出口

A-5687-0049 - RMI-Q 介面 (8 m)(水平)側出口

A-5687-0049 - RMI-Q 介面 (8 m)(水平)側出口

RMI-Q 介面含一條 8m 側邊出口纜線、使用者指南含工具套件。結合發射器、接收器和介面單元,可進行個別無線電啟動,並操作最多四個獨立的 Renishaw 無線電測頭。如此一來,即可實現多種無線電測頭及/或無線電工具測定裝置組合,在相同工具機上自由使用。可安裝於機器工作範圍內的任意地點,讓安裝更快速而簡易。與光學傳輸系統的不同點,在於測頭和接收器之間不須達到視線對傳。

A-5687-0050 - RMI-Q 介面 (15 m)(水平)側出口

A-5687-0050 - RMI-Q 介面 (15 m)(水平)側出口

A-5687-0050 - RMI-Q 介面 (15 m)(水平)側出口

RMI-Q 介面含一條 15m 側邊出口纜線、使用者指南含工具套件。結合發射器、接收器和介面單元,可進行個別無線電啟動,並操作最多四個獨立的 Renishaw 無線電測頭。如此一來,即可實現多種無線電測頭及/或無線電工具測定裝置組合,在相同工具機上自由使用。可安裝於機器工作範圍內的任意地點,讓安裝更快速而簡易。與光學傳輸系統的不同點,在於測頭和接收器之間不須達到視線對傳。

航太

航太

Renishaw 源自於航太業。由於勞斯萊斯 (Rolls-Royce) 找不到協和式客機儀器管線所需精度的測量裝置,因此我們的創建者自行建造了一部。這是一部接觸觸發式測頭:同時也是一項成為我們首款產品的革命性製造技術。

FORTiS™ 封閉式光學尺提升精密磨床整體性能

FORTiS™ 封閉式光學尺提升精密磨床整體性能

經過測試和評估,TGT 在新型刀具磨床系列中選用 Renishaw FORTiS™ 封閉式光學尺。FORTiS 光學尺系統具有安裝簡便等優異特性,可協助 TGT 提升機台性能。

Webinar – Resonance Raman spectroscopy for redox biology research

Webinar – Resonance Raman spectroscopy for redox biology research

Resonance Raman spectroscopy for redox biology research. A webinar presented by Dr Katherine Lau of Renishaw and Dr James Armstrong of Imperial College, London.

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