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Results found for “Manual setting and NC programming is needless torture for machine operators…”
世界第一的半導體組裝及封裝設備製造商因 Renishaw 的創新產品而受益。
世界第一的半導體組裝及封裝設備製造商因 Renishaw 的創新產品而受益。 客製化解決方案 半導體產業不僅步調快速無情且競爭力極為激烈。ASMPT 的領導地位端視其維持不斷技術創新的能力。成功的關鍵在於來自研發、多年經驗和可配合特定需求的元件加總而成的穩定技術優勢。Renishaw 明白客製化解決方案的優勢及重要性，並且在這些機器開發過程中便全力支援客戶將設計最佳化，此也讓...
光學尺定位系統 — 高端印刷設備不可或缺的部件
人類眼睛識別影像的最高解析度是多少？當中涉及觀看距離，周邊環境和個人等眾多因素，目前並沒有一個標準的答案。但是一般認為人眼在正常目視距離情況下 300 DPI 的解析度是一個界限，就是說再高的解析度對一般人來說其實分別不大。
蜂窩密封 — 提升航空發動機的工作效率
蜂窩密封 — 提升航空發動機的工作效率 關於HAESL 香港航空發動機維修服務有限公司 (HAESL) 是一家由羅爾斯•羅伊斯股份有限公司 (Rolls Royce Plc)、香港飛機工程有限公司 (HAECO) 和新加坡國際航空工程有限公司 (SIAEC)...
RESOLUTE™ 光學尺將射頻天線的定位精度和解析度提高百倍
Pacific Antenna Systems (PAS) 公司設計、加工和製造使用 1–110 Ghz 射頻 (RF) 的先進天線系統。這些天線系統的應用範圍包括高解析度雷達、用於視距和衛星 (SATCOM) 通訊的高速率資料通訊，以及用於對抗無人機 (UAS) 的高功率微波系統。
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTi-100 與 ADT View 軟體可提供全方位即時光學尺資料回饋，以執行更具挑戰性的安裝與現場診斷作業。尤其有助於光學尺隱藏於機器中的應用，其能夠以最短的停機時間進行即時診斷。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 讀頭刻線距離指示...
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTi-100 與 ADT View 軟體可提供全方位即時光學尺資料回饋，以執行更具挑戰性的安裝與現場診斷作業。尤其有助於光學尺隱藏於機器中的應用，其能夠以最短的停機時間進行即時診斷。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 讀頭刻線距離指示...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ ETR 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RTLF 線性光學尺 技術規格 優點 微型封裝 採用光學濾波系統設計，具備優異的抗汙能力 提供診斷套件協助處理棘手安裝與系統優化。 自黏式光學捲尺方便耐用 品質保證 特性 讀頭尺寸：20.
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺
ATOM™增量式編碼器系統搭配 RCLC 線性光學尺 技術規格 何謂 ATOM？ ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。 ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm...
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性和部分弧線光學尺
探索 VIONiC™ 光學尺系列，Renishaw 最高效能的增量式光學尺。結合 RKLC 精細型不鏽鋼光學捲尺，其以優異的量測效能、高速操作及極佳的可靠性提供直接數位位置回饋。其亦適用於部分弧線測量。
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便，提供寬鬆的安裝公差，按下按鈕即可進行校準。TONiC FS...
RESOLUTE™ 光學尺聚焦大科學
RESOLUTE™ 光學尺聚焦大科學 背景 IRELEC Alcen 是一家法國科技公司，總部位於格勒諾布爾 (Grenoble)，專為全球同步加速器設施製造光學機械和機器人等系統。 同步加速器（一種粒子加速器）是一種極其強大的 X 射線，可用於材料物理學、化學和分子生物學等領域的科學研究。英國牛津郡的鑽石光源 (Diamond Light Source, DLS) 就是此類設施之一。...
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉（角度）圓盤
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 CENTRUM™ CSF40 旋轉（角度）圓盤 left aligned 什麼是 CENTRUM™ CSF40？ CENTRUM CSF40 是一款不銹鋼旋轉光學尺圓盤。盤內配置創新的對齊柔性彈片，將圓盤安裝到軸上時，這些柔性彈片可自動將圓盤中心與軸中心對齊，進而提高量測效能。 CENTRUM...
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ UHV 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 技術規格 UHV（超高真空） RESOLUTE UHV 採用 Renishaw 的創新絕對式光學尺技術，並透過適合用於精細至 10 -9 陶爾超高真空條件的讀頭發揮其功能。新的 RESOLUTE UHV 光學尺系列從無塵殘留氣體分析材料（RGA ）製造而成，適合用於高性能、半導體及科學應用。 ...
ATOM™ 增量式編碼器系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤
ATOM™ 增量式編碼器系統搭配 RCDM 旋轉（角度）盤 技術規格 何謂 ATOM？ ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。 ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
GoProbe
GoProbe 使 Renishaw 測頭量測系統快速且易於使用。GoProbe 提供簡化的使用者介面及容易使用的量測循環。此套件包括容易使用的訓練套件及智慧型手機應用程式，提供簡單又強大的製造解決方案。
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RSLA30 線性光學尺 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RESA30 旋轉（角度）環 外部介面選項 Siemens DRIVE-CLiQ 外部介面 Siemens DRIVE-CLiQ 序列介面必備 此介面亦提供適用於高精度旋轉系統的雙頭輸入 顯示通訊警報 重複讀頭 LED 其他可用的序列介面不需要外部介面。 功能安全認證 RESOLUTE FS...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD（雙解析度）介面提供可選擇的雙解析度輸出，也提供於寬幅列印應用的...
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM40 旋轉（角度）環
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM40 旋轉（角度）環 何謂 QUANTiC？ QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、良好計量功能、高速效能，且易於安裝和設定。安裝或進行現場診斷和偵錯時，使用選購的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View 軟體可存取診斷資訊。速度最高達 24...
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺
ATOM™ 增量式光學尺系統搭配 RKLF 線性和部分弧線光學尺 何謂 ATOM？ ATOM 是 Renishaw 的微型非接觸增量式線性及旋轉光學尺系統。結合微型化設計與先進的訊號穩定能力、抗汙能力與可靠性。這項結合在市場上極為獨特，代表微型光學尺在性能與可靠性的大幅進步。 ATOM 配備高彈性纜線與撓性印刷電路板排線 (FPC)，提供 20 µm 或 40 µm...
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺
QUANTiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC40-S 線性和部分弧線光學尺 何謂 QUANTiC？ QUANTiC 光學尺系列為 Renishaw 的増量開放式光學尺，提供數位或類比輸出選項、良好計量功能、高速效能，且易於安裝和設定。安裝或進行現場診斷和偵錯時，使用選購的進階診斷工具 ADTi‑100 和 ADT View 軟體可存取診斷資訊。速度最高達 24...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性尺 什麽是 TONiC UHV？ TONiC UHV 將 Renishaw 的超輕巧型非接觸式編碼器系統引進超高真空應用，為客戶提供更卓越的運動控制性能。 TONiC 如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RSLM20 線性光學尺 優點 高精度光學尺 超輕巧型光學尺 先進訊號調節功能提高運動控制能力 高抗污能力 超低的細分誤差 (SDE)：一般 < ±30 nm 診斷套件 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RTLC20 線性光學尺 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便，提供寬鬆的安裝公差，按下按鈕即可進行校準。TONiC FS...
TONiC™ 增量式編碼器系統搭配 REXM20 旋轉（角度）環
TONiC™ 增量式編碼器系統搭配 REXM20 旋轉（角度）環 為什麼選擇這種光學尺系統？ 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RELM20 線性光學尺 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC 介面選項能進行數位、類比輸出或數位及類比訊號的雙輸出。TD（雙解析度）介面提供可選擇的雙解析度輸出，也提供於寬幅列印應用的...
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTi-100 與 ADT View 軟體可提供全方位即時光學尺資料回饋，以執行更具挑戰性的安裝與現場診斷作業。尤其有助於光學尺隱藏於機器中的應用，其能夠以最短的停機時間進行即時診斷。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 讀頭刻線距離指示...
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 REXM20 旋轉（角度）環
VIONiC™ 增量式光學尺系統搭配 REXM20 旋轉（角度）環 輕鬆查錯和維護 進階診斷工具 ADTi-100 與 ADT View 軟體可提供全方位即時光學尺資料回饋，以執行更具挑戰性的安裝與現場診斷作業。尤其有助於光學尺隱藏於機器中的應用，其能夠以最短的停機時間進行即時診斷。直觀的軟體介面具有以下功能： 遠程校正 在整個軸上達到訊號優化 讀頭刻線距離指示...
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺
RESOLUTE™ FS 絕對式光學尺系統搭配 RTLA30 線性光學尺 什麼是 RTLA30 光學尺？ RTLA30 是一種外型輕巧不鏽鋼光學捲尺，具有 30 µm 刻距絕對式光學尺編碼。精度高達 ±5 µm/m，長度達 21 公尺。提供兩種安裝選擇，皆允許獨立熱膨脹且具備光學捲尺的便利性。 RTLA30 能與創新 FASTRACK™...
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性和部分弧線光學尺
TONiC™ 增量式光學尺系統搭配 RKLC20-S 線性和部分弧線光學尺 何謂 TONiC？ TONiC™ 系列為輕巧型非接觸增量式光學尺系統，如與 Ti 介面結合，在線性和旋轉應用中均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。讀頭中的進階過濾光學鏡組讓 TONiC 有非常低的抖動，可達成優異的位置穩定性與更平順的速度控制。因此，TONiC...
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
TONiC™ FS 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環 什麼是 TONiC FS 光學尺？ TONiC FS 系列是 Renishaw 的超輕巧型非接觸式光學尺系統，如與 DOP 介面結合，在線性和旋轉應用中，均可達到 10 m/s 的速度和低至 1 nm 的解析度。TONiC FS 系統安裝快速簡便，提供寬鬆的安裝公差，按下按鈕即可進行校準。TONiC...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 RESM20 旋轉（角度）環 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC...
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 REXM20（角度）旋轉環
TONiC™ UHV 增量式光學尺系統搭配 REXM20（角度）旋轉環 彈性配置 TONiC 系列提供各種能夠設定的外部介面以滿足應用的速度和解析度需求。藉由外部介面的後期整合與配置，多功能 TONiC 讀頭為終端使用者提供許多自訂選項。 TONiC...
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RELA30 線性光學尺。RESOLUTE 是全球第一個絕對式編碼器，在線性系統應用中，提供高達 100 m/s 的速度和 1 nm 的解析度，在旋轉系統應用中提供高達 36,000 rev/min 的速度和 32 位元解析度。
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 REXA30 旋轉（角度）環 寬廣的設定公差 RESOLUTE 不採用傳統集軌並列技術（一個增量、一個絕對），因為這種技術只要發生些許角度準直調整錯誤，就會產生移相問題。對此，RESOLUTE 改採單軌絕對式光學尺設計，將絕對位置和嵌入式相位資訊結合成單一編碼。此技術賦予 RESOLUTE 更寛廣的設定公差（偏擺公差 ±0.
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺
RESOLUTE™ 絕對式光學尺系統搭配 RKLA30 線性和部分弧線光學尺 序列介面 說明 相容產品 BiSS C Renishaw 於其絕對式光學尺支援 BiSS C（單向）開放來源通訊協定。BiSS C 為高速序列介面，非常適合用於需要高加速度、平順速度控制、優異重複性和可靠定位穩定性的動態軸。RESOLUTE 線性及旋轉（角度）光學尺版本皆支援 BiSS...